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知見とスペクトル解析力、そしてその他の分析手段など様々なアプローチで物質を特定
共重合樹脂には多くの種類がありますが、中でもABSはその特異な 分子構造により多くの製品に使用されています。 エンジニアリングプラスチックとして、電子製品、自動車、電化製品、 IT関連製品など幅広い分野で活用されているABS樹脂を、FT-IR分析を使い 特長的なIRスペクトルを考察しました。 【形状】 ■Head to tail ■Head to head ■tail to tail ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
異物の位置と異物の成分に着目！異物部の断面作製を行い、元素分析を実施しました
当社が行った、ラミネートフィルムの異物分析事例についてご紹介します。 ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認されたため、 この黒色異物について発生層の特定や成分分析を行いました。 最初に解析の目的に応じて手法を検討致します。 今回は異物の位置と異物の成分に着目し、異物部の断面作製を行い 元素分析を実施する方針となりました。 【事例概要】 ■ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認された ■黒色異物について発生層の特定や成分分析を行った ■異物部の断面作製を行い元素分析を実施した ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
規制値は1000ppm！簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出来ます
フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500～1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛生法などで規制対象となるDNOP、 DINP、DIDPについての簡易的な「スクリーニング分析」が可能です。 試料の詳細や測定対象化合物など、お気軽にお問い合わせください。 【Py-GC/MSによる気泡緩衝材中のフタル酸エステル類スクリーニング分析】 ■判定基準 半定量値 ・500ppm以下：非含有と判定 ・1,500ppm以上：含有と判定 ・500～1,500ppm：溶媒抽出による定量分析にて再検査を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料と目的に応じた分析手法をご提案！液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介
液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR：主成分分析 ■EDX：元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析（劣化解析）ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用！線香と白檀にてデータを取得し比較！
香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀（びゃくだん）・沈香 （じんこう）・伽羅（きゃら）の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とし、ウッディーな香りは、 主に脂肪族環状構造が起因であると推測します。 【分析概要】 ■分析サンプル：線香、白檀 ■熱脱着GC-MS（180℃）による香り成分の同定 ・白檀と同じ検出時間のピークを確認 ・線香に白檀が香料として使用されていることを示す ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電解質の純度が電池の性能に大きく影響！硫黄成分の揮発性を抑え、ICで検知できる形態に変換
全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分光法だけでは同定できない成分、検出できない微量の添加剤成分なども調べることが可能！
GC/MSを⽤いたマイカシート接着剤成分分析についてご紹介します。 マイカシートにどのような成分が含まれているかを調べるために分光法測定 を実施したところ、シリコーン系の接着剤が用いられていることが示唆。 どのような組成のシリコーン系接着剤を用いているのかを調べるために GC/MS測定を実施。ペンタシクロオクタシロキサンを用いていることがわかり、 また、可塑剤としてジブチルフタレート、滑剤としてトリデカンなどの 鎖式飽和炭化水素を添加していることもわかりました。 【マイカシートの成分】 ■ペンタシクロオクタシロキサン(かご状のポリメチルシスセスキオキサン) ■ジブチルフタレート ■トリデカンなどの鎖式飽和炭化水素 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分析が可能！
ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析についてご紹介いたします。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与。 ICP発光分析は液体試料中に何の元素がどれくらい含まれているかを 分析することが出来ます。 【特長】 ■約70種類の元素の定性・定量分析が可能 ■試料に含まれる添加剤や不純物の定性・定量分析、RoHs指令物質等の 定量分析など、様々な分析に適用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
医薬品に使⽤される粉体の粒度分布測定や構成する有機物質の組成分析(GCMSやLCMS)も実施可能！
カプセルの内部状態を3次元的に可視化した事例、及び粉体の EDX分析により、元素情報のデータを取得した事例を紹介します。 X線CT分析では、カプセル内部にわずかな空気の隙間が存在している様子が うかがえた他、粒度も均一ではなく、一部大きな粒子が含まれていることも 視覚的に把握することができました。 SEM-EDX分析では、内部に含まれる任意の粒子について、元素分析を実施。 15kVの加速電圧にて炭素C、酸素Oの他、カルシウムCa、塩素Cl、鉄Fe、 リンP、ナトリウムNaが検出されました。 【分析内容】 ■X線CT分析：カプセル剤のX線透過観察 ■SEM-EDX分析：内部に含まれる任意の粒⼦の元素分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
リチウムイオン電池の材料評価に！X線光電子分光法で化学結合状態を解析
NMC試薬について、XPSの状態分析による金属酸化物の 価数の評価を行いました。 市販のNMC試薬について定性分析を実施し、試薬の仕様に近い NiMnCo比の値を得ています。 また、バインダー成分由来と考えられるFやCも検出されています。 【NMC試薬の分析(一部)】 ■Ni、Mn、Coの主要な酸化物はNiO(Ni2＋)、MnO2(Mn4＋)、 Co3O4(Co2＋とCo3＋の混合価数)と推測 ■C、O、Fは、バインダー由来と推測される有機系のピークシフトを確認 ■各ピークアサインは、各種文献、データベースを参考に推測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
高分子材料の成分分析で広く用いられる分析手法をご紹介！
当社で行っている「テープ粘着層の成分分析」について ご紹介いたします。 EGA(昇温ガス分析)は、試料を昇温しながら、発生ガスのマススペクトルを 取得する分析手法です。 熱分解GC-MSは、試料の加熱により、分解、ガス化した成分をカラム分離し、 検出成分から構成成分を解析する手法です。 いずれの手法も、高分子材料の成分分析で広く用いられる分析手法です。 【GC-MS分析の活用例】 ■フィルム、ゴムなど高分子材料に含まれる不純物、添加剤の分析 ■ヘッドスペースオートサンプラーとの接続により、アウトガスの 分析を行うことも可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
オージェ電子分光法(AES)による金メッキパッド変色部の分析事例を紹介！
パッドの変色は、外観不良のみならず、ボンディング不良、はんだ濡れ不良、 接点の導電不良などの原因となります。 オージェ電子分光法(AES)による金メッキパッド変色部の分析事例を紹介します。 添付のPDF資料にて図やグラフを用いて詳しく解説しておりますので、 ぜひご覧ください。 ※詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ！微小なリーク・変化でも検出が可能
発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です。 非常に微小な発熱状態を検知できることから、通常のプリント基板だけでなく、 半導体の不具合解析にもその威力を発揮します。 特にショート箇所の調査においては、複雑な構造であっても短時間で場所の 特定が出来るため、不具合解析の時間を劇的に短縮することができます。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■従来のマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
信頼性の高い結果を迅速に報告！表示が義務化された7品目等、アレルゲン物質の含有有無を検査
クオルテックでは、『食品中のアレルゲン分析』を行っております。 法律で表示義務が定められた7品目の特定原材料が、商品に含まれて いないかを検査。最終製品のみならず、コンタミネーションの確認にも ご利用いただけます。 消費者庁通知に則った検査方法により、信頼性の高い結果を迅速に ご報告いたします。 【食品アレルゲン分析のプロセス】 ■1.検体の前処理（1日） ■2.ELISA（エライザ）法による定量検査（2日） ■3.PCR法（3日）またはウェスタンブロット法（2日）による確認検査 ■4.分析結果をお客様へ報告 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します
「電子部品の急速温度サイクル試験」は、外部環境および 自己発熱による温度が繰り返し変化する状況を想定し、 熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 冷熱衝撃装置は、試料へ均一な温度ストレスを与える2ゾーン方式で、 MIL-STD-883、JIS C 60068-2-14などの規格試験に対応。 急速温度変化チャンバーは、試験要求が厳しくなる車載用部品の 環境試験にマッチした恒温恒湿器です。 【冷熱衝撃装置の仕様(一部)】 ■設定温度への到達が早く、試験時間を短縮 ■試料の温度復帰を15分以内で実現 ■型式：TSD-101-W ■メーカー：エスペック株式会社 ■テストエリア内容量：100l ■テストエリア耐荷重：30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より良い観察の提案が可能！高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入
自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が 飛躍的に増大し、開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます 要求されています。 試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、 工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。 【特長】 ■内部構図を立体的に把握でき、任意箇所の断面画像を得られる ■二つのX線管を併せ持つCTシステム ■150nmまでの微細構造を認識できる高解像度観察が可能 ■積層物のCTに適したヘリカルスキャン機能も搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EMC評価・対策 ■表示不良解析 ■信頼性試験 ■パネルの評価・解析 ■パネルの構造解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
不良箇所を推測しながら的を絞って観察！素早く結果を報告し課題の早期解決に貢献
当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察できます。 【特長】 ■BGAの接合面の状態、ボイドの有無、配線パターンの確認も可能 ■数多くの故障事例を見てきた分析担当者が観察を担当 ■好適な条件を設定し、これまで見る事の出来なかった箇所の観察、 よりクリアな写真を提供 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプリング可能！
当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 【特長】 ■試料サイズは数十μmから測定可能 ■厚みはサブミクロン～10μm程度までが対象 ■透過測定及び反射測定が可能 ■反射測定時には対象物質下部が金属の必要がある ■対象物質が樹脂上に存在する際には、金属板上にサンプリングすることで測定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より市場再現性の高い評価方法が求められる！温度サイクル試験をご紹介
温度サイクル試験は、外部環境及び自己発熱による温度が繰り返し変化する 状況を想定し、熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 「急速温度変化チャンバー(ESPEC製 HRS-306M)」では、温度勾配が 10℃/1minとなっており、試料の温度を制御しながら、周囲の温度も 急速に変化させることが目的。 液槽、気槽式の冷熱衝撃試験機と違い試験品に過剰なストレスを与えず、 より現実的な環境下での温度サイクル試験が可能となります。 【試験装置仕様】 ■型番：HRS-306M ■メーカー：ESPEC ■温度範囲：-40℃～＋180℃ ■湿度：20～98％rh ■槽内サイズ：W600×H800×D600 ■温度変化速度：10℃/1min ■内容量：306L ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！
株式会社クオルテックは、2025年1月、大阪府堺市津久野町に 「パワエレテクノセンター」を新規に設立します。 開設に向けて現在準備しており、2024年5月より改装工事を着工。 現在3か所に分散しているパワー半導体評価拠点を当センターに集約し、 効率化を図ると同時に、パワー半導体評価の更なる需要拡大に対応するため、 現行の1.5倍となるよう評価設備の増設を段階的に行います。 【当センターの取り組み】 ■パワー半導体評価技術の研究開発 ■パワー半導体評価の受託試験の増加に対応すべく、試験設備の拡充 ■ユーティリティの冗長化による安全・安心の試験業務システムの構築 ■先進セキュリティシステムによる顧客情報の機密管理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度勾配環境または恒温環境下で微生物の増殖状況を自動測定。
光学系測定機能を備えた培養ブロックを恒温環境に保ちながら振盪培養することで、微生物の増殖曲線が得られます。 【特長】 ●最大6台まで接続でき、36検体の吸光度測定が可能で、パソコンに接続することで、測定値のグラフ表示、保存が可能です。 ○詳しくは、お問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。
「特許登録件数上位100社でのシェアNo.1※」の特許調査支援サービス
＜特許調査に慣れていない技術者の方へ＞ ・新規参入分野、新しい技術分野を調査したい ・短時間で調査を行いたい ・調査ツールを簡単に、素早く使いこなしたい 「PatentSQUARE」は、現場技術者に喜ばれるAI検索機能や、効率よく調査を行うためのさまざまな機能により、現場技術者のお困り事にお応えします。 開発着手前や知財戦略立案時に実施する「技術動向調査」、特許出願前の「出願前調査」および「先行技術調査」、事業化前に行う「侵害予防調査（FTO調査／クリアランス調査／抵触調査）」、問題特許発見時のための「無効資料調査」、「ウォッチング」、「ステータス検索」など、さまざまな特許調査の現場で活用されています。 ※ 2021年1月～12月当社調べ ●商品の詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。
競合と自社技術の差異の解明／重要な文献の検索／海外特許の概要把握～簡単に調査を行える機能を解説したセミナー講演資料~（無料提供）
●競合と自社技術の差異の解明 ●重要な文献の検索 ●海外特許の概要把握 2023年2月開催のWebセミナーでは、「PatentSQUARE」を活用し、これらの調査を簡単に行えるパテントマップ機能についてご紹介しました。 当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発部門で実践！競合会社の技術戦略を読み解く3つの手法とは 重要特許・競合動向を知る～ パテントマップを使った3つの手法のご紹介 ～ グローバルの特許調査を効率よく行いたい方におススメです 1. 特定技術分野における重要特許を効率よく見つけるポイント 2. 中国／非英語圏の文献調査が英語や日本語で行える、マップの使い方 3. 競合会社の出願と、自社技術の差異を明確にするコツ ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。
高剛性で長寿命！マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能
当社で取り扱う、セパレータ『VEGシリーズ』をご紹介いたします。 マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能。 長寿命で、最大1000万サイクルメンテナンスフリーです。 また、2本のロッドがワークを1つずつ選別することにより生産工程での 信頼性を向上させる「VEシリーズ」もご用意しております。 【特長】 ＜VEGシリーズ＞ ■焼き入れ済みステンレス製ガイド ■さまざまなニーズに対応 ■長寿命 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm、 SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能（Slice&View）
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。
電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで
二次電池の劣化のメカニズムを調べる際に、電極表面の付着物を解析することが重要となっています。MSTではサンプルを雰囲気制御下でTOF-SIMS測定を行いますので、電極最表面の化学状態を大気暴露による変質無く評価することが可能です。 また、充放電サイクル試験から電極表面の測定まで一貫して行うことで、充放電の状態と電極表面の付着物の状態の相関を調べることができます。
試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価
SiO2中のアルカリ金属の分布を一般的な分析条件で測定すると、測定に起因する電界などの影響により、深さ方向濃度分布に変化が生じることが知られています。 MSTではSIMS測定時に試料を冷却することでアルカリ金属の濃度分布変化を抑制し、より高精度に濃度分布を評価いたします。
適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減
ラマン分光分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。 下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした（図1）。下地の影響の無い無機結晶上にサンプリングを行うことで、異物の情報が得られ、異物はフラックスと同定されました（図2）。
