更新日： 集計期間:2025年04月16日～2025年05月13日
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物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 二次イオン質量分析（SIMS）】 ○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
優れた測定が可能にする分析手法です！
『二次イオン質量分析』は、数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して 放出される二次イオンの質量分析により、水素を含む全元素の組成分析を 行う手法です。 高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が 可能になっています。 【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能！
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の結晶性、膜厚の構造、水素量、密度、硬度の評価を紹介いたします。
最上位精度の全自動多目的X線回折装置
XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。 糖の結晶化度は食品の肉眼的特性(食感や口当たりなど)に大きな影響を与えます。X線回折を使用して食品中の糖を特定し、その結晶化度を調べることができます。
動画撮影・作業分析・動作比較が1つのアプリで完結！いつでも、どこでも、手元から始めるカイゼン活動を。【製造業DX】
『Mobile OTRS』は、生産現場のDX・生産性向上を目指し、 カイゼン活動を促進するために作られたスマートフォンアプリです。 【3つの特長】 ■作業現場ですぐ使える！ スマートフォンで簡単に動画撮影。 現場にいながらそのままスマートフォンで作業分析できます。 ■動画比較でスグに情報共有できる！ 動画で残せるから、分析結果が伝わりやすい。 社内の情報共有・技術伝承の効率化・スピードアップに役立ちます。 ■PC版OTRS10との連携でさらなるデータ活用可能！ スマートフォンの動画を用いて、PCでマニュアル作成。 PCで作成した分析データをスマートフォンアプリMobileOTRSへ連携することで、現場で標準の動作をいつでも確認可能。 撮影データ・分析データをより柔軟に活用できます。 ※詳しくはPDFダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください。
材料の推定を適切な方法でサポート！現物しかなく破壊することが出来ないものでもご相談ください
未知の素材に遭遇した際、わからないままにしておくと、トラブルの基に なることは容易にご想像できるかと思います。 材料の推定をする為には、スペクトル解析や硬度測定、放電、火で炙る、 等と色々な方法が御座いますが、当社は適切な方法で推定をサポート。 現物しかなく破壊することが出来ないというものでもお気軽にご相談ください。 【組成分析サービス流れ】 ■現物・資料確認/お打ち合わせ ■お見積り ■スクリーニング分析・解析 ■報告書作成 ■データ検査・ご納品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします
TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 （C2H4O）を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH- HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！
再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物（CH CN）、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可能です
当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば、深さ方向に連続的にスペクトルを 取得することが可能です。 【特長】 ■共焦点光学系を採用 ■多層膜の表面から各層の材料分析が可能 ■ラマンレーザー光の焦点を深さ方向に変化させることができる ■深さ方向に連続的にスペクトルを取得することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能！分析事例もご紹介いたします
株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄膜の深さ方向分析を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
固体試料は、イオン性成分を純水に溶出！水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能です
『イオンクロマト分析』は、水溶液中の微量なイオン性成分の 定性分析・定量分析が可能です。 イオン交換樹脂を充填したカラムを用いて分離を行い、電気伝導度を 測定することで、水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能。 固体試料は、イオン性成分を純水に溶出させ、測定いたします。 【主なスペック】 ■陰イオン：Cl- Br- NO2- NO3- 有機酸など ■陽イオン：Li+ Na+ K+ Mg2+ Ca2+ など ■定量下限：約100ppb（イオン種による） ■検出限界：約10ppb（イオン種による） ■検出器：電気伝導度（サプレッサー仕様） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料に特殊な試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が可能になります！
通常の熱分解GCMSでは試料を加熱し揮発した成分を検出しますが、加熱では 揮発しない成分や検出感度の低い成分の分析は困難です。そこで試料に特殊な 試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が可能になります。 例えば、ポリマーの分析では、ポリマーを熱分解すると非常に多くの熱分解 生成物が検出され、試料によっては他の添加剤とピークが重なってしまい 解析が困難になりますが、反応熱分解GCMSを行うことでモノマーのメチル エステルを検出出来、また添加剤と切り分けて解析を行う事が出来ます。 このように、分析対象物が通常の分析では検出が難しい場合でも、反応熱 分解GCMSでは分析対象物に対して適切な試薬を選択する事によって、感度 良く検出する事が可能になります。 【事例】 ■フタル酸エステル（DIDP）の分析 ■ポリマー（ポリエチレンテレフタレート）の分析 ■銅防錆剤（BTA）の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能！
株式会社アイテスでは、樹脂材料（半導体 LED用途）の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■TMA ■GCMS ■SEM-EDX ■TG-DTA ■FT-IR ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
