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すべての炭素分をCO2ガスに変換することや半定量的TOC分析を行うことが可能！
TOC量の直接定量は土壌、岩石の特異な性質により難しく、温度による分別 測定を用いる必要があります。 全炭素分析として抵抗加熱炉または高周波炉を持つ装置で試料の完全分解を 行うことが可能です。 当記事では3台の全炭素分析装置を用いて、無機炭素の酸処理の有無を含む TOC分析の事例をご紹介します。加えて酸処理工程において試料が親水性、 疎水性の場合の比較も記載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■公定分析法 ■分析条件 ■試料の前処理 ■結果 ■結論 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料重量を増やすと精度が向上！大気ブランクの補正について考慮する必要があります
スターチ、ビール、栄養ドリンクなどを含む低窒素試料の測定を窒素/ たんぱく質分析装置「FP828」「FP928」を用いて行いました。 二つの装置はどちらも窒素分析装置ですが「FP828」の試料重量は1.0gまで、 一方「FP928」は1.0 g以上 (試料によっては2g、3gまで)の試料を分析 できるようデザインされています。 装置の持つ特性を活かした装置選びを行うことにより幅広い試料の測定に 対応することができます。 【測定手順(抜粋)】 ＜FP828＞ ■1.0g以下の試料をスズホイル、カプセル等の試料容器にはかり取り、装置に投入 ■試料は炉の中に落下し、純酸素気流中で完全燃焼 ■燃焼ガスは炉を出て水分が除去され、バラストと呼ばれるタンクに貯められる ■ガスはタンク内で平衡化したのち一定量を分取 ■測定用キャリアガスの不活性ガス中に導入 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PFAS分析にも、超高感度TQ ICPMSにも対応しているため、高感度分析はこれ一台でOK！コストダウンにも貢献します！
今使っている超純水装置ではPFAS分析に使えない！ またPFAS分析用の超純水を購入して使うのはコストがかかるし、面倒だ！ こんな悩みをお持ちの分析者の方はいませんか？ エルガ・ラボウォーターの『PURELAB Chorus 1 Analytical Research』ならPFAS分析にそのまま使えます。 同時にTQ ICPMSでの超微量元素分析にもそのまま使えます！ 【LCMSMSを用いた超純水中のPFOS、PFOA、PFHxSの分析例】 ■PFOS：< DL（0.02 ng/L） ■PFOA：< DL（0.02 ng/L） ■PFHxS：< DL（0.02 ng/L） 【TQ ICPMSを用いた超純水の元素分析例】 ■ホウ素：BEC 3ppt （DL 1ppt） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※新しいICPMSの分析例もお気軽にお問合せください。 【展示会出展情報】 ■展示会名：JASIS 2024 ■日時：2024年9月4日（水）～ 6日（金） 3日間 ■会場・コマ番号：幕張メッセ国際展示場 5A-204
検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分析結果の紹介
半導体材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン 質量分析（SIMS）が適しています。 SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出下限を 1E16n/cm3に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー ：180keV ■ドーズ量 ：1E15n/cm2 (ドーズ量は当社の RBS によって得られた値を使用) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 二次イオン質量分析（SIMS）】 ○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
優れた測定が可能にする分析手法です！
『二次イオン質量分析』は、数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して 放出される二次イオンの質量分析により、水素を含む全元素の組成分析を 行う手法です。 高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が 可能になっています。 【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能！
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の結晶性、膜厚の構造、水素量、密度、硬度の評価を紹介いたします。
最上位精度の全自動多目的X線回折装置
XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。 糖の結晶化度は食品の肉眼的特性(食感や口当たりなど)に大きな影響を与えます。X線回折を使用して食品中の糖を特定し、その結晶化度を調べることができます。
動画撮影・作業分析・動作比較が1つのアプリで完結！いつでも、どこでも、手元から始めるカイゼン活動を。【製造業DX】
『Mobile OTRS』は、生産現場のDX・生産性向上を目指し、 カイゼン活動を促進するために作られたスマートフォンアプリです。 【3つの特長】 ■作業現場ですぐ使える！ スマートフォンで簡単に動画撮影。 現場にいながらそのままスマートフォンで作業分析できます。 ■動画比較でスグに情報共有できる！ 動画で残せるから、分析結果が伝わりやすい。 社内の情報共有・技術伝承の効率化・スピードアップに役立ちます。 ■PC版OTRS10との連携でさらなるデータ活用可能！ スマートフォンの動画を用いて、PCでマニュアル作成。 PCで作成した分析データをスマートフォンアプリMobileOTRSへ連携することで、現場で標準の動作をいつでも確認可能。 撮影データ・分析データをより柔軟に活用できます。 ※詳しくはPDFダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください。
材料の推定を適切な方法でサポート！現物しかなく破壊することが出来ないものでもご相談ください
未知の素材に遭遇した際、わからないままにしておくと、トラブルの基に なることは容易にご想像できるかと思います。 材料の推定をする為には、スペクトル解析や硬度測定、放電、火で炙る、 等と色々な方法が御座いますが、当社は適切な方法で推定をサポート。 現物しかなく破壊することが出来ないというものでもお気軽にご相談ください。 【組成分析サービス流れ】 ■現物・資料確認/お打ち合わせ ■お見積り ■スクリーニング分析・解析 ■報告書作成 ■データ検査・ご納品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします
TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 （C2H4O）を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！
再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物（CH,CN）、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可能です
当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば、深さ方向に連続的にスペクトルを 取得することが可能です。 【特長】 ■共焦点光学系を採用 ■多層膜の表面から各層の材料分析が可能 ■ラマンレーザー光の焦点を深さ方向に変化させることができる ■深さ方向に連続的にスペクトルを取得することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
