半導体分析
各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能!
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
- 企業:株式会社イオンテクノセンター
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2026年03月18日~2026年04月14日
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各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能!
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能!
DLC(ダイアモンドライクカーボン)の結晶性、膜厚の構造、水素量、密度、硬度の評価を紹介いたします。
たったの2ステップで複雑な形状分析がわずか数秒で完了!簡単・スピーディー、低価格!しかも正確です。
電子顕微鏡(SEM)画像などから特定の形状を分析し、ヒストグラムや統計値を表示します。 1.ソフトに画像をドラッグし、2.キーボードをワンクリック。 わずか2ステップの操作で研究者が数時間かけていたつらい作業がわずか数秒で完了します。 ■ほぼ自動で分析可能! 個人による分析ムラがありません。 ■低コストで導入可能! 装置に依存しないため、高解像度でクリアな画像を撮影できる環境があれば、すぐに導入いただけます。 ■分析対象に応じたカスタマイズが可能! カスタマイズに柔軟に対応させていただきます。 分析方法だけでなく、信号やレポート出力で研究や生産ラインに幅広くご利用いただけます。 画像が鮮明であれば人間の感覚にほぼ近い分析が可能です。また、分析後に手動で微調整ができますので満足いく結果を得られます。形状を数値化することで、データの信頼性が飛躍的にアップします。
いつ起こるかわからない瞬間的な変動を見逃さない!かつてない高速・長時間計測
100μsの高速計測を無制限にモニタリングし続けられます。 いつ発生するかわからない… 一瞬だけピークが変動する… でも、従来の高速分光器ではデータの取りこぼしや モニタ可能時間の短さがネックだ。 このような声にお応えしました。 この速度でデータを取りこぼさないマルチチャンネル型分光器は他にありません。 しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。 ・信号出力機能 ・プロセス終了後の再生機能 ・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去
海水中の低濃度の硝酸・アンモニア・リン酸・シリカが測定できます。(連続流れ分析法を採用)
官公庁・大学の海洋調査機関でご使用頂いております。 最大で硝酸・亜硝酸・リン酸・アンモニア・シリカの5項目を同時に 120検体毎時に測定が可能です。 超低濃度の栄養塩類測定が可能です。 【特長】 ■気泡分節型連続流れ方式を原理とした高精度、高感度分析 ■本体コンソールに4つの比色計を搭載可能 ■エキストラ比色計の追加により5項目まで同時分析可能 ■120本掛けのオートサンプラーを標準装備 ■超低濃度の栄養塩類測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「オートアナライザーを用いたふっ素、シアンの分析事例」についてご紹介!
当資料は、お客様の声として「連続流れ分析(CFA法)を用いたふっ素、 シアンの分析事例」について掲載しています。 三菱マテリアルテクノ株式会社様では、古くから連続流れ分析装置(CFA法)を 使用して、土壌や排水等のふっ素やシアンの測定を行ってきました。 当社のオートアナライザー「swAAT」を使用する際のメリットや問題点について 検討を行ったほか、シアン分析における各機関の室間再現性等の比較を行い、 紹介しています。 【掲載内容】 ■オートアナライザー活用による効果 ■連続流れ分析による時間短縮と多検体測定 ■流れ分析による誤差低減 ■共同実験による方法比較(シアン) ■室温によるベースライン変化 ■メンテナンス事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
環境分析におけるCFA法の活用事例および宍道湖環境修復への取り組みについて
当資料では、大福工業株式会社様の「環境分析におけるオートアナライザー の活用事例および宍道湖環境修復への取り組み」についてご紹介しています。 オートアナライザーは、当社の「SYNCA」を採用いただきました。 改良土の六価クロム分析ついてJIS K 0170-7 とJIS K 0102 65.2.1 の 比較検討を行った報告のほか、宍道湖環境修復への取り組みとして、 浅場における断続的な貧酸素がヤマトシジミの生残に与える影響に関する 考察について掲載しています。 【掲載内容】 ■環境分析におけるオートアナライザー(SYNCA:六価クロム)の活用事例 ・分析方法 ・装置及び概要 ・結果 まとめ ■宍道湖環境修復への取り組み (浅場における継続的な貧酸素がヤマトシジミの生残に与える影響) ・材料と方法 ・結果及び考察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
連続流れ分析装置(CFA)や近赤外分析装置(NIR)を用いた作業効率化をご提案。実例もご紹介
分析機器の開発・製造・販売を手掛ける当社では、 『分析作業効率化 WEBオンラインセミナー』を開催いたします。 環境分析の公定法となった「連続流れ分析装置(CFA)」や、 300℃加熱ができる「酸分解前処理装置」、熱量・たんぱく質・脂質・ 炭水化物・食塩相当量を約30秒で分析できる「近赤外分析装置」をご紹介。 全3部構成で、いずれか1つだけのご参加も可能です。参加費は無料(事前登録制)。 実例も交えて作業の効率化をご提案します。 【セミナー概要】 日時:2020年7月3日(金)第1部13:00~ 第2部14:00~ 第3部15:00~ 費用:無料(事前登録制) 申し込み方法:http://www.bl-tec.co.jp/ よりお申込みください (受付は6月19日より開始いたします) ※PDFダウンロードより本セミナーの詳細資料をご覧いただけます。 お問い合わせもお気軽にどうぞ。
連続流れ分析法(CFA法)を用いた、工場排水におけるふっ素化合物測定事例の紹介の詳細
当資料は、工場排水におけるJIS K 0102 34.4 連続流れ分析法(CFA法)を用いた工場排水中のふっ素の測定事例を紹介しております。 内容 ■分析の概要 ■装置の紹介 ■実際の測定事例 ■回収率の結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析の自動化を通してお客様の生産性向上に貢献 ビーエルテック オンライン展示会
分析の自動化を通してお客様の生産性向上に貢献 ビーエルテック オンライン展示会開催中。
【技術資料進呈】環境・排水試料における金属分析のコラボ! ~環境分析の前処理とICP/MS測定の自動化装置(AATM)~
工場排水、環境水、地下水等における前処理方法は、工場排水試験方法や環境省告示の規格に定められている硝酸などを用います。 しかし、分析操作は煩雑で分解に非常に手間がかかり、硝酸試薬の肌や目への飛び散りや、 酸性のガスの排出に伴い、人への曝露にも注意が必要です。 そこで、分析者の安全・作業の効率化・ヒューマンエラーをなくすために、 当社では、一気通貫により環境分析や排水分析や土壌分析における 前処理~測定を自動化可能な装置により定量可能な装置を紹介いたします。 <一部導入事例> ■排水分析のICP/MSを用いた無機物分析 ■環境分析(河川水・海水)のICP/MSを用いた無機物分析 ■土壌(含有/溶出)のICP/MSを用いた無機物分析 ■地下水・飲料水のICP/MSを用いた無機物分析 ※仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせください。
Heガス充填、UHVなど多彩な試料環境!放射光ビームラインとのハード・ソフト連携が可能
『STXM』は、コンパクトかつリジットな設計の放射光用走査型 透過X線顕微鏡です。 透過、蛍光、電子収量など検出器の組み合わせ計測。 ゾーンプレートを使用し高空間分解能20~100nmを誇ります。 当社は、使いやすいデータ取得ソフトなどお客様のご要望に応じて カスタマイズ開発いたします。 【特長】 ■ゾーンプレートを使用し高空間分解能 ■5nm以下の位置安定性 ■コンパクトかつリジットな設計 ■検出器の組み合わせ計測 ■使いやすいデータ取得ソフト ■放射光ビームラインとのハード・ソフト連携 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
現場の生産性向上や標準化に適したAIサービス。OTRS+AIで、現場の生産性はこんなに変わる!
OTRS+AIは、OTRS10に搭載可能な作業分析AIサービスです。 OTRS10で手作業で行う1~20サイクルの要素作業分割をAIが自動で分析します。 教師データを複数準備する必要は無く、1つ(1サイクル)の教師データを登録するだけで、複数サイクルの分析や他の作業者の動画を分析します。 【OTRS+AIの特長】 ・1サイクルのデータのみで学習可能 ・要素作業分割の精度は95%以上 ・様々な撮影条件に対応 【OTRS+AIの機能】 お手本データと分析データの違いについて、動作の違い・作業時間の違いをスコアや数値で表示ができます。 お手本と違う動作の箇所を簡単に確認でき、カイゼン活動の幅を広げることができます。 ※詳しくはPDFダウンロードまたはお問い合わせください
動画撮影・作業分析・動作比較が1つのアプリで完結!いつでも、どこでも、手元から始めるカイゼン活動を。【製造業DX】
『Mobile OTRS』は、生産現場のDX・生産性向上を目指し、 カイゼン活動を促進するために作られたスマートフォンアプリです。 【3つの特長】 ■作業現場ですぐ使える! スマートフォンで簡単に動画撮影。 現場にいながらそのままスマートフォンで作業分析できます。 ■動画比較でスグに情報共有できる! 動画で残せるから、分析結果が伝わりやすい。 社内の情報共有・技術伝承の効率化・スピードアップに役立ちます。 ■PC版OTRS10との連携でさらなるデータ活用可能! スマートフォンの動画を用いて、PCでマニュアル作成。 PCで作成した分析データをスマートフォンアプリMobileOTRSへ連携することで、現場で標準の動作をいつでも確認可能。 撮影データ・分析データをより柔軟に活用できます。 ※詳しくはPDFダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください。
材料の推定を適切な方法でサポート!現物しかなく破壊することが出来ないものでもご相談ください
未知の素材に遭遇した際、わからないままにしておくと、トラブルの基に なることは容易にご想像できるかと思います。 材料の推定をする為には、スペクトル解析や硬度測定、放電、火で炙る、 等と色々な方法が御座いますが、当社は適切な方法で推定をサポート。 現物しかなく破壊することが出来ないというものでもお気軽にご相談ください。 【組成分析サービス流れ】 ■現物・資料確認/お打ち合わせ ■お見積り ■スクリーニング分析・解析 ■報告書作成 ■データ検査・ご納品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析
有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします
TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 (C2H4O)を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です!
再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物(CH,CN)、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ラマン分光法による深さ方向への測定!多層膜の表面から各層の材料分析が可能です
当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば、深さ方向に連続的にスペクトルを 取得することが可能です。 【特長】 ■共焦点光学系を採用 ■多層膜の表面から各層の材料分析が可能 ■ラマンレーザー光の焦点を深さ方向に変化させることができる ■深さ方向に連続的にスペクトルを取得することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたします
株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄膜の深さ方向分析を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法をご紹介いたします
EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメージクオリティーマップ)をはじめ、IPFマップ、GRODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子がどのような方向を向いているのか(結晶方位)を解析 ■加工条件(圧延、押出等)の違いによる結晶方位や結晶粒径の 変化が解析可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
固体試料は、イオン性成分を純水に溶出!水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能です
『イオンクロマト分析』は、水溶液中の微量なイオン性成分の 定性分析・定量分析が可能です。 イオン交換樹脂を充填したカラムを用いて分離を行い、電気伝導度を 測定することで、水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能。 固体試料は、イオン性成分を純水に溶出させ、測定いたします。 【主なスペック】 ■陰イオン:Cl- Br- NO2- NO3- 有機酸など ■陽イオン:Li+ Na+ K+ Mg2+ Ca2+ など ■定量下限:約100ppb(イオン種による) ■検出限界:約10ppb(イオン種による) ■検出器:電気伝導度(サプレッサー仕様) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料に特殊な試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が可能になります!
通常の熱分解GCMSでは試料を加熱し揮発した成分を検出しますが、加熱では 揮発しない成分や検出感度の低い成分の分析は困難です。そこで試料に特殊な 試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が可能になります。 例えば、ポリマーの分析では、ポリマーを熱分解すると非常に多くの熱分解 生成物が検出され、試料によっては他の添加剤とピークが重なってしまい 解析が困難になりますが、反応熱分解GCMSを行うことでモノマーのメチル エステルを検出出来、また添加剤と切り分けて解析を行う事が出来ます。 このように、分析対象物が通常の分析では検出が難しい場合でも、反応熱 分解GCMSでは分析対象物に対して適切な試薬を選択する事によって、感度 良く検出する事が可能になります。 【事例】 ■フタル酸エステル(DIDP)の分析 ■ポリマー(ポリエチレンテレフタレート)の分析 ■銅防錆剤(BTA)の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
似通った構造の化合物を区別して同定!プロトンの個数、構造の特長などの情報を得る事ができます
株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 似通った構造の化合物を区別して同定するにはNMR分析やGCMS分析が有効です。 当分析では、積分値からプロトンの個数、ケミカルシフトから官能基など 構造の特長、またカップリングパターンやカップリング定数から周りの プロトンとの位置関係などの情報を得る事ができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
NMR分析で類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や枝分かれ構造などを解明!
株式会社アイテスでは、フタル酸エステル類の1H NMR分析を行っております。 類似分子構造の化合物を区別し、側鎖、置換基の結合位置や 枝分かれ構造などの構造解明にNMR分析は有効な手法です。 有機合成、高分子合成において、狙った分子構造物を得られたのかの確認には 必須の分析で、 医薬品、サプリメント、食品、繊維など、その特性効果・効能は 分子団の置換基の場所や分子構造により左右されます。 もう一歩踏み込んだ有機分子構造解析を当社技能集団がご対応いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能!
株式会社アイテスでは、樹脂材料(半導体 LED用途)の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■TMA ■GCMS ■SEM-EDX ■TG-DTA ■FT-IR ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査!断面観察及びSEM/EDXによる元素分析のご紹介
『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品・素材の機能や特性、状態を解明。分析対象・目的に応じた分析手法をご提案
当社の『化学分析サービス』は、パネル製品、半導体製品、樹脂成形品など 様々な工業製品・材料を分子、原子レベルで分析し、それらの機能や特性、 状態を明らかにして、お客様の課題解決に貢献します。 分析対象の材質や分析の目的に合った分析手法の提案が可能です。 ぜひお気軽にご相談ください。 【分析内容の例】 ◎製品内の異物 ◎使用材料の状態 ◎材料の変質 ◎材料に含まれる微量成分・元素 ◎製品や材料の熱による物理特性
絶対値として質量数を検出!化合物の組成に関する情報を得る事が出来ます
当社では『MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析』を行っております。 「MALDI-TOFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量情報、末端基情報などを得る事が可能。 合成化合物の質量確認や、他の分析手法と組み合わせての構造解析など、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法(MALDI法)採用 ■化合物の組成に関する情報を得る事が出来る ■GPCに対しては小さく、LCMSに対しては大きいようなポリマーの分析に好適 ■絶対値とし て質量数が検出される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇所の特定ができます
発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは 解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の 特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。