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GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
試料加熱時の発生ガスの温度プロファイルを得る方法としてEGA-MS法がありますが、この方法では発生したガスをGCのカラムを通さずに混合物のまま質量分析計に導入するため、化合物の同定が困難です。このような場合、ガスを一度トラップしてGC/MS測定を行う、ハートカットEGA法を用いることにより、化合物の分離、同定が可能になります。本事例ではポリ酢酸ビニルをハートカットEGA法で測定し、加熱温度による分解機構の違いを明らかにした例を紹介します。
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
試料加熱時の発生ガスの定性分析を行う方法として熱分解GC/MS法がありますが、ここで検出された各成分がそれぞれどのような温度で発生するかを調べる方法としてEGA*-MS法が有効です。この方法は、試料を昇温加熱して発生したガスをGCのカラムを通さずに直接質量分析計に導入する方法です。 本事例ではポリ酢酸ビニル加熱時の発生ガスの温度プロファイルを測定した例を紹介します。 * EGA：Evolved Gas Analysis
ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法
クリーンルームや生産ラインなどの環境中に浮遊する金属元素は、製品に付着・混入することで、製品の性能悪化の原因となり得ます。ICP-MSでは、清浄なSiウエハで暴露試験を行い、表面に付着した金属元素量をpptレベルで測定することができます。 なお、事前に洗浄処理をしたSiウエハの貸出しも行っております。
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
有機酸は酸性の有機化合物の総称です。酸味成分のクエン酸や旨み成分のイノシン酸といった食品中に含まれる成分のほか、化粧品や医薬品、工業分野においては原材料や添加剤等に用いられ、幅広い用途で使用されています。本資料では、HPLC法による有機酸12成分の一斉分析と清涼飲料水の分析事例について紹介します。カラムにて各成分を分離後、発色液（BTB液）と作用させ検出することにより、夾雑成分の影響を受けずに選択的に分析が可能です。液体試料だけでなく、固体からの抽出液中の有機酸を一斉に定性・定量分析することが可能です。
ハロゲン（F、Cl、Br）、硫黄の分析が可能です
燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン（F、Cl、Bｒ）や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。この吸収液をイオンクロマトグラフ法で測定することで、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンや硫黄含有量を測定することが出来ます。
TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージング分析
TOF-SIMSおよびMALDI-MSはいずれもイメージング質量分析（IMS：Imaging Mass Spectrometry）が可能な手法で、得意とする成分や質量、空間分解能が異なります。TOF-SIMSでは低質量成分を得意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージング質量分析の結果を例に、TOF-SIMSとMALDI-MSで測定した事例を紹介します。
【無料プレゼント】誰もが使える優れた操作性。FT-IR顕微鏡の技術資料
各種工業製品に発生する不具合の原因特定において、異物や汚染物質の 同定は、非常に重要です。また、化学捜査の分野では、事故や事件の現場に 残された繊維や塗料等の断片に関する分析の結果が、重要な証拠となる 場合があります。 当社の新型顕微FT-IR「LUMOS」は、誰もが使える優れた操作性と、満足する 高い分光性能を併せ持ち、短時間で精度の高い分析結果を提供します。 当資料では「LUMOS」の主な仕様をはじめ、アプリケーション例などについて 詳しく掲載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■装置 ■アプリケーション例 ・SMDチョーク上の汚染物質の同定 ・ワニス被膜の透過マッピング測定 ・塗料片のATR測定 ・生体試料の赤外スペクトルマッピング ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【無料プレゼント】イソシアネート基含有率の検量モデル作成の実例をご紹介
近赤外分光法(NIR)は、少量の試料をガラス製バイアル瓶に サンプリングして装置にセットするだけで正確な測定が可能です。 当資料では近赤外分光計と光ファイバー式透過プローブの組み合わせによる ポリウレタン合成反応過程におけるイソシアネート基含有率の検量モデル 作成の実例についてご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験 ■検量モデル作成 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【無料プレゼント】MIRS法を応用した新たなアプローチである製品をご紹介
シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に 大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が ますます重要となっています。 当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの グループとの研究成果を製品化したものです。 【掲載内容】 ■はじめに ■Wafer ATR(ウェハーATR) ・多重内部反射による感度の向上 ・測定時の必要事項 ■測定例 ■判別分析 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます
XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
オンラインで遠隔での立会い分析が可能に！もちろん訪問での立会いも受け付けております
通常訪問で実施の立会い分析をWeb会議ツールを使用 してオンラインでも行います ・分析機器のデータ画像をWeb会議ツール上で共有 します ・当社からの分析内容説明、当社とお客様の情報交換、質疑応答を通信によりリアルタイムで行います ・FIB、TEM、AFM で実施可能です。他の分析装置もご相談ください 立会い分析に関してお気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※分析事例は多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
材料由来の不具合の原因分析、材料開発。ナノレベルの構造／表面分析によりサポートします
故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであっても、ユーロフィンFQLはそれを追求します。 透過型電子顕微鏡をはじめ、原子数個の大きさを調べる分析装置と材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援。 “製品や部品に付着した異物の正体を特定したいが、方法がわからない”などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【特長】 ■故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであってもそれを追求 ■透過型電子顕微鏡をはじめ原子数個の大きさを調べる分析装置と 材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援
効果的な再発防止策を立案！分析を実施する中で使えるテクニックを紹介
根本原因の分析対象を終始一貫して設計開発のプロセスに絞り込み、再発防止策をより導きやすくしています。 基礎的な考え方や作法を習得することで、初めてなぜなぜ分析を行う方や、なぜなぜ分析がうまく出来なくて困っている方でも、効果的な再発防止策を立案できるようになります。 【特長】 ■設計開発業務における問題発生の要因をプロセス起点で解説 ■難しい表現を避け、挿絵を多用した読みやすいテキスト ■お客様のご要望に応じてグループ演習事例をカスタマイズすることも可能 ■なぜなぜ分析を5つのステップに分けて解説。各ステップでポイントとなる 表現方法など、分析を実施する中で使えるテクニックを紹介
環境分析はおまかせください
環境分野におけるトータルスペシャリストとして、快適な社会環境を目指し、みなさまの環境改善のお手伝いをいたします。
一般大気中から石綿除去工事の作業中室内まで！幅広く対応した環境分析
石綿障害予防規則の改訂に伴い石綿の分析方法は平成18年8月21日付けで通達（基発第0821002号「建材中の石綿含有率の分折方法にいて」）が発行され変更となりました。分析方法としてはJIS A 1481：2006「建材製品中のアスベスト含有率測定方法」が指定され含有の判定が0.1％（重量％）となっています。株式会社兵庫分析センターでは分散染色用位相差顕微鏡（回転アナライザ付）、X線回折装置、低温灰化装置等により、含有の判定0.1％（重量％）に対応した分析を行っています。 【特徴】 ○石綿含有建材中の石綿含有率分析機関登録 ○空気中の石綿計数分析に関する クロスチェックＡランク認定分析技術者登録 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
