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ナノ～オングストローム分解能！原子レベルで微細形態観察・組成分析
TEM/STEMは電子ビームを使用してサンプルを画像化する分析手法です。 TEM/STEMの空間分解能は約1〜2Åです。 高エネルギー電子（80〜200 keV）は、電子透過性サンプル（〜100 nmの厚さ）を透過します。TEM/STEMの空間分解能はSEMより優れていますが、多くの場合複雑なサンプル調製が必要です。また、近年ではSTEMに球面収差補正レンズを搭載したAC-STEM（CS補正機能付きSTEM）により従来のSTEMよりも高分解能での分析が可能になりました。 EAG LaboratoriesではTEM/STEMを20台以上所有し、試料作製用のFIB-SEMを30台以上所有しています。また、元素分析を行うEDS/EELSも複数台所有しています。分析に充分な設備数を所有しているため、TEM/STEM分析は常に短納期でご対応することが可能になっています（標準納期：6～8営業日/特急納期：お問合せ）。
輸送環境（振動・衝撃）の測定と分析
輸送環境記録計で記録された物流過程の振動・衝撃・落下などのデータを有効に活用するためには、輸送環境記録計の設定や分析にも専門的な知識が要求されます。また、大量のデータを処理するためには労働集約的な作業が要求されます。こうした専門性、そして分析にかかる時間という壁（「ソフトの専門用語がよく分からない」、「ソフトの操作を覚えるのが大変」、「データの見方がよく分からない」、「データの分析に時間がかかる」）は意外に高く、データの活用が思ったほどできていないとしたら、原因の多くはここにあります。 この問題を解消するため、エクサーチではこの分野で１５年以上の経験があり、専門知識を持ったスタッフが、輸送環境記録計を使用した物流過程の振動・衝撃・落下・温度・湿度の測定と分析を請け負います。お客様が本来業務に集中しながらも測定データを最大限活用できるよう、測定計画作成から実施・データ分析・活用まで一貫してサポートします。輸送環境記録計をお持ちでないお客様にも対応できるよう、機器のレンタルまで含めてサポートいたします。
正確なマススペクトルの抽出が可能！異臭クレームにおける原因物質の特定にも有用
自動車室内のVOCの分析方法としてGCMSを用いたターゲット分析が定められて いますが、ターゲット分析でにおい成分をすべて把握することは困難です。 また、自動車室内VOCには非常に多くの成分が含まれているため、1次元GCを 用いた手法ではすべてのピークの分離することは困難でした。 そこで、本分析では微量成分まで捕集可能な加熱脱離用捕集菅による サンプリングとGCxGC-TOFMSによるノンターゲット分析を組み合わせる ことにより、自動車室内のにおい成分を明らかにすることを試みました。 【概要】 ■GCxGC-TOFMSによる高感度分析とデコンボリューション ■通常の1次元GCでは分離が困難な共溶出成分の分離と正確な マススペクトルの抽出が可能 ■においに含まれる各成分の組成比を簡易的に把握 ■製品の変質、製品由来の有臭化合物の割合の変化など、さまざまな要因が 考えられる製品の異臭クレームにおける原因物質の特定にも有用 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
すべての炭素分をCO2ガスに変換することや半定量的TOC分析を行うことが可能！
TOC量の直接定量は土壌、岩石の特異な性質により難しく、温度による分別 測定を用いる必要があります。 全炭素分析として抵抗加熱炉または高周波炉を持つ装置で試料の完全分解を 行うことが可能です。 当記事では3台の全炭素分析装置を用いて、無機炭素の酸処理の有無を含む TOC分析の事例をご紹介します。加えて酸処理工程において試料が親水性、 疎水性の場合の比較も記載しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■公定分析法 ■分析条件 ■試料の前処理 ■結果 ■結論 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料重量を増やすと精度が向上！大気ブランクの補正について考慮する必要があります
スターチ、ビール、栄養ドリンクなどを含む低窒素試料の測定を窒素/ たんぱく質分析装置「FP828」「FP928」を用いて行いました。 二つの装置はどちらも窒素分析装置ですが「FP828」の試料重量は1.0gまで、 一方「FP928」は1.0 g以上 (試料によっては2g、3gまで)の試料を分析 できるようデザインされています。 装置の持つ特性を活かした装置選びを行うことにより幅広い試料の測定に 対応することができます。 【測定手順(抜粋)】 ＜FP828＞ ■1.0g以下の試料をスズホイル、カプセル等の試料容器にはかり取り、装置に投入 ■試料は炉の中に落下し、純酸素気流中で完全燃焼 ■燃焼ガスは炉を出て水分が除去され、バラストと呼ばれるタンクに貯められる ■ガスはタンク内で平衡化したのち一定量を分取 ■測定用キャリアガスの不活性ガス中に導入 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能タイプ金属材料分析装置 belec vario lab
オープンタイプの測定スタンドを採用！ 拡張性と高感度を備え、フレキシブルな拡張性をもった高性能分析システム 【特徴】 ○高感度フォトマルチプライヤー検出器と温度安定型分光器を 採用した発光分光分析装置 ○オープンタイプの測定スタンドを採用し、大型試料や長尺試料も分析可能 ○スパークスタンドとプローブの両方を同時に装着可能 ○温度安定型分光器の採用により 温度変化の影響を受けず高精度で安定した分析が可能 ○炭素（C）リン（P）硫黄（S）は当然のこと 真空オプションを追加することで窒素（N)の分析も可能 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大3台の分光器を搭載可能なため、最大128チャンネル対応 （マルチベース・アプリケーションに） ○様々な専用アダプタを用意 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア
デスクトップタイプ 金属材料分析装置 belec lab 3000s
低価格・コンパクトでありながら、フォトマルチプライヤー検出器と 温度安定型分光器を採用！デスクトップタイプの金属材料分析装置 【特徴】 ○低価格・コンパクトなデスクトップタイプ ○温度安定型分光器の採用により温度変化の影響を受けず 高精度で安定した分析が可能 ○高感度フォトマルチプライヤー搭載 ○炭素（C）リン（P）硫黄（S）まで標準仕様にて分析可能 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大24チャンネル （シングルベース・アプリケーションに） ○様々な専用アダプタを用意 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア
ハイブリッドポータブルタイプの金属材料分析装置です。
belec compact port HLCは、ポータブルタイプでハイブリッド分光光学系システムを搭載した第6世代分光光学系システム6GSO System (6th Generation Spectrometer Optic System)を採用した、小型・ポータブルタイプの発光分光分析装置です。 新開発のアルゴンUVプローブを使用することで、カーボンはもちろん、リン、硫黄、ボロン、スズまで分析可能です。（検出限界：C 0.003%、P 0.005%、S 0.005%、B0.0005%） また、窒素光学系オプションを使用することで、デュープレックススチールの分析に不可欠な窒素も0.05%の検出限界にて分析が可能です。 【特徴】 ○温度安定型分光器の採用 →周囲の温度に影響を受けず高精度な分析が可能 ○オプションにてDuplex Steelの分析にかかせない窒素の分析も可能 ○マルチベースアプリケーションにも最適 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
サーモモジュール（ペルチェ素子）用基板向けに10年以上の製造実績。パワーデバイス、ソリッドステートリレー（SSR）などに！
アルミナセラミックス基板に銅回路版をDCB（Direct Copper Bond）法(※)にて接合した放熱用絶縁基板です。 ※DCB（Direct Copper Bond）法とは セラミックス基板上に銅回路版を共晶反応によって接合する方法 【特長】 ■サーモモジュール（ペルチェ素子）用基板向けに10年以上の製造実績 ■中国の100％独資製造子会社にて製造 ■アルミナセラミックス白板は日本製、ドイツ製、中国製より選択が可能 ■セラミックス基板は金型加工、レーザー加工等でさまざまな外形寸法に柔軟に対応することが可能 ■自社設備にてセラミックス白板と銅版を接合、エッチング等の銅張り加工を施し出荷 ■銅回路表面は、未処理、Niめっき処理、Ni＋Auめっき処理等の対応が可能 ※詳しくはお問い合わせ、またはPDFをダウンロードしてください。
PFAS分析にも、超高感度TQ ICPMSにも対応しているため、高感度分析はこれ一台でOK！コストダウンにも貢献します！
今使っている超純水装置ではPFAS分析に使えない！ またPFAS分析用の超純水を購入して使うのはコストがかかるし、面倒だ！ こんな悩みをお持ちの分析者の方はいませんか？ エルガ・ラボウォーターの『PURELAB Chorus 1 Analytical Research』ならPFAS分析にそのまま使えます。 同時にTQ ICPMSでの超微量元素分析にもそのまま使えます！ 【LCMSMSを用いた超純水中のPFOS、PFOA、PFHxSの分析例】 ■PFOS：< DL（0.02 ng/L） ■PFOA：< DL（0.02 ng/L） ■PFHxS：< DL（0.02 ng/L） 【TQ ICPMSを用いた超純水の元素分析例】 ■ホウ素：BEC 3ppt （DL 1ppt） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※新しいICPMSの分析例もお気軽にお問合せください。 【展示会出展情報】 ■展示会名：JASIS 2024 ■日時：2024年9月4日（水）～ 6日（金） 3日間 ■会場・コマ番号：幕張メッセ国際展示場 5A-204
検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分析結果の紹介
半導体材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン 質量分析（SIMS）が適しています。 SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出下限を 1E16n/cm3に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー ：180keV ■ドーズ量 ：1E15n/cm2 (ドーズ量は当社の RBS によって得られた値を使用) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 二次イオン質量分析（SIMS）】 ○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載しております！
当事例集では、400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）を マイクロESCA（Quantum-2000）により分析した結果を紹介しております。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果 二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を 利用してメッシュ間距離などを測ることができます。 【掲載概要】 ■マイクロESCAによる分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れた測定が可能にする分析手法です！
『二次イオン質量分析』は、数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して 放出される二次イオンの質量分析により、水素を含む全元素の組成分析を 行う手法です。 高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が 可能になっています。 【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
