更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月23日～2025年08月19日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
541～555 件を表示 ／ 全 3107 件
リサーチからルーチン分析まで幅広い対応が可能なコンパクトで優れた汎用性、信頼性を兼ね備えた高感度熱流束型DSC
示差走査熱量測定装置（シングルファーネス DSC）『DSC 4000 / 6000』のご紹介です。 リサーチからルーチン分析まで幅広い対応が可能なコンパクトで優れた汎用性、信頼性を兼ね備えた高感度熱流束型DSCです。従来機と比較して、安定かつ平坦なベースライン、感度の向上を実現します。 【特長】 ◆優れた温度検出を可能にした高感度センサーディスクを搭載 ◆堅牢・耐腐食性・長寿命の不活性アルミニウムを採用した低熱容量ファーネスを採用 ◆2 種のガスに対応のデジタルマスフローコントローラー内臓 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
優れたプログラム温度追従性を実現！Wavelet Analysisがさらにノイズを低減します
『入力補償型ダブルファーネス DSC 8000』は、低質量のファーネスが 優れたプログラム温度追従性を実現する示差走査熱量測定装置です。 マスフローコントローラーを内蔵しており、自動2ラインガス切り換えが可能。 SmartScanによる安定したベースラインで、Wavelet Analysisがさらに ノイズを低減します。 【特長】 ■低質量のファーネスが優れたプログラム温度追従性を実現 ■SmartScanによる安定したベースライン ■Wavelet Analysisがさらにノイズを低減 ■自動2ラインガス切り換え（マスフローコントローラー内蔵） ■自動診断機能付オートサンプラー（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
JIS Z 8808 排ガス中のダスト濃度測定法に基づいた普通型自動試料採取装置です。
あらかじめ、水分値、排ガス密度、使用ノズル径などを設定しておいて排ガス温度、動圧（流速）、静圧、大気圧などを連続的に測定して、理論値の等速吸引流量を計算させます。計算した理論値と、実際にガスメーターで吸引している吸引流量をパルス信号によりフィードバックさせ、絶えず理論値と、実際値とが合致するように装置内部のバルブを自動的にコントロールさせます。
T560 ディレイ／パルス発生器で時間差を作り、MCS8A マルチストップTDC/TOFで時間差を測る構成について説明します。
◆T560 ディレイ／パルス発生器 ・ディレイ時間とパルス幅が4チャンネル個別に指定でき、10ps刻みで最大10 秒まで設定可能 ・入出力遅延（インサーション・ディレイ）：21ns ・最大トリガ・レート：16MHz ◆MCS8A マルチストップTDC/TOF ・複数のイベントタイムを記録できる8入力のデジタイザ ・STARTとSTOPの間の時間差を、80psの分解能で最大8.3日まで検出可能 ・STOPは立上り,立下り,または両方のエッジで検出可能 ・STARTとSTOPの閾値レベルは、-1～+1.5Vの範囲を1mV刻みで設定可能 ・タイムビン当り80ps、デッドタイムのないマルチ・イベントタイム・デジタイザ ◆MPA4T TDC/TOFとマルチパラメータMPAの複合機 ・MCS8Aを5入力、タイムビン当り100psにした5入力のデジタイザ ＋8チャンネルのADC入力ポートを装備したマルチパラメータ・データ収集システム（MPA） ⇒超高速リストモード・システムとして動作 ⇒各ADC入力には、マルチスケーラやTOFデバイスも接続可能
u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)
単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置
ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。
世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔率・細孔分布測定装置
■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。
薄膜太陽電池パネル測定装置
フラットパネルディスプレイ製造マーケットでは、品質管理用途にて非常に多くの実績がございます。
水銀プローブにより電極の形成が不要！R&Dにおける開発時間の短縮、Lowコスト化を提供
『MCV-530/530L/2200/2500』は、半導体シリコンウェハーの電気特性や MOSデバイスの酸化膜等の特性評価を可能にする装置です。 従来ではウェハーにゲート電極としてPoly-SiやAl等を蒸着し、MOS構造・ ショットキー構造形成後にCV/IV特性評価を行っておりました。 当製品は、装置自身がゲート電極を持つため、メタルゲート作成なしに 酸化膜やウェハーの電気特性を得ることが可能。プロセスモニタリングによる 素早いフィードバックやR&Dにおける開発時間の短縮、Lowコスト化を 提供します。 【特長】 ■水銀プローブにより電極の形成が不要 ■抜群の再現性 ・ショットキー：0.3％(1σ）／MOS：0.1％(1σ） ■ウェハー面内のマッピング可 ■新開発水銀交換機構により安全かつ容易な水銀交換が可 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
トレンチ深さ測定装置
パワーデバイスのディープトレンチやTSV形状、DRAMのキャパシタートレンチの深さ、CD測定、リセス測定を非接触で測定。独自技術MBIR（Model Based Infrared)により高アスペクト比のトレンチの測定が可能。また、エピ膜のドープ濃度の縦方向プロファイルの測定にも対応。
薄膜膜厚・ヤング率測定装置
非接触、非破壊でウェハー基板上の薄膜膜厚、膜のヤング率、 ポアソン比を測定することができる。
不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備
『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ／デジタル（測定はアナログ、データ処理はデジタル） ロックイン平均法を採用したユニークなシステムで、且つオペレーター フレンドリーなソフトを装備しています。 【特長】 ■高感度な汚染検出が可能（2x10^8atoms/cm3） ■幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備 ■温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能 ■世界で100台以上の豊富な納入実績 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能
『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【特長】 ■探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0.035～3200ohm／sq.という広い範囲で優れた測定直線性 ■計測データを三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
IR反射率測定ヘッドを使用可能！高スループットのエピ膜厚測定を実現した測定装置
『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装置の稼働時間を向上してメンテナンスの必要性を減らします。 【特長】 ■ウェハーサイズ：4～12インチ ■Si, SOI, SiC, SiGe, III Vなど ■FTIR機能 ■エピ膜厚を高精度測定 ■遷移領域の膜厚測定 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【無料テストあり】風量を瞬時に測定！正確な測定値が得られる風量測定装置
■無料テスト可能です 空気清浄機、集塵機、エアコン、送風機、冷却用小型ファン等の風量が正しく出るかテストしたい方は自社テストセンターにてテスト可能です。条件等はお問い合わせください。 『ウィンドウォッチャーχ(WWA)』は、JIS A1431の測定方法をベース にした吸引式測定装置を用い、吹出し口や吸込み口の風量を瞬時に、しかも正確に計測できる装置です。 集風フードの静圧とフード外の静圧が等しくなるように、吸引ファンの運転周波数を自動制御させ、吹出し口の風量を吸引ファンの下流に設置した校正済みの風量計で測定します。 風量計には整流格子を内蔵し設置特性に優れた「エアメジャー」を採用しています。 【特長】 ■アナログ出力も用意 ■測定誤差が少なく再現性に優れる ■フレキシブルダクト採用 ■吸い込み口の風量測定も可能 ■NETIS登録番号：KT-240015-A ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
