試験・分析・測定

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

設立昭和５９年８月１日（１９８４年）
住所東京都世田谷区喜多見1-18-6
電話03-3749-2525
最終更新日：
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【測定法】質量分析法 【測定法】質量分析法
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【測定法】電子顕微鏡観察・分析 【測定法】電子顕微鏡観察・分析
【測定法】振動分光 【測定法】振動分光
【測定法】X線回折関連 【測定法】X線回折関連
【測定法】SPM関連 【測定法】SPM関連
【測定法】故障解析 【測定法】故障解析
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【加工法・処理法】 【加工法・処理法】
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【分析事例】LSI・メモリ 【分析事例】LSI・メモリ
【分析事例】光デバイス 【分析事例】光デバイス
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【分析事例】化粧品 【分析事例】化粧品
【分析事例】食品 【分析事例】食品
【分析事例】医薬品 【分析事例】医薬品
【分析事例】医療機器 【分析事例】医療機器
【分析事例】日用品 【分析事例】日用品
【分析事例】環境 【分析事例】環境
【分析事例】その他 【分析事例】その他
MSTが出展した展示会の資料 MSTが出展した展示会の資料
【分析事例】照明

【分析事例】照明

照明の分析事例をご紹介します

固体試料表面の質量分析法の使い分け

目的成分やイメージ ング視野の大きさなどに応じて、両手法を使い分けることが有効です

詳しくは、お問い合わせください。

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蛍光光度計によるりん光の発光寿命測定及びりん光測定

蛍光光度計にてりん光測定が可能です

詳しくは、お問い合わせください。

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NMR（核磁気共鳴分析）による構造解析

軽溶媒そのままの測定

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【分析事例】GaNの部分状態密度測定

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

測定法：XAFS・SXES 製品分野：照明・酸化物半導体・LSI・メモリ 分析目的：電子状態評価

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