試験・分析・測定

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

設立昭和５９年８月１日（１９８４年）
住所東京都世田谷区喜多見1-18-6
電話03-3749-2525
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【測定法】質量分析法 【測定法】質量分析法
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【測定法】電子顕微鏡観察・分析 【測定法】電子顕微鏡観察・分析
【測定法】振動分光 【測定法】振動分光
【測定法】X線回折関連 【測定法】X線回折関連
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【測定法】故障解析 【測定法】故障解析
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【加工法・処理法】 【加工法・処理法】
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【分析事例】LSI・メモリ 【分析事例】LSI・メモリ
【分析事例】光デバイス 【分析事例】光デバイス
【分析事例】太陽電池 【分析事例】太陽電池
【分析事例】燃料電池 【分析事例】燃料電池
【分析事例】ディスプレイ 【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】酸化物半導体 【分析事例】酸化物半導体
【分析事例】パワーデバイス 【分析事例】パワーデバイス
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【分析事例】二次電池 【分析事例】二次電池
【分析事例】照明 【分析事例】照明
【分析事例】製造装置・部品 【分析事例】製造装置・部品
【分析事例】バイオテクノロジ 【分析事例】バイオテクノロジ
【分析事例】化粧品 【分析事例】化粧品
【分析事例】食品 【分析事例】食品
【分析事例】医薬品 【分析事例】医薬品
【分析事例】医療機器 【分析事例】医療機器
【分析事例】日用品 【分析事例】日用品
【分析事例】環境 【分析事例】環境
【分析事例】その他 【分析事例】その他
MSTが出展した展示会の資料 MSTが出展した展示会の資料
【分析事例】太陽電池

【分析事例】太陽電池

各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価

同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池バッファ層界面の観察

超高分解能STEMによるZn(S、 O、 OH)/CIGS接合界面の結晶構造評価

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【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面の状態、有機膜の分散状態評価

雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です

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【分析事例】TEM・SEM有機EL・ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価

組成・結合状態・構造・密度の評価が可能

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【分析事例】ポリカーボネート表面の劣化評価

TOF-SIMSを用いた樹脂表面の劣化による構造解析

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【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例

IC（イオンクロマトグラフ）法でアミン類の測定が可能です

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【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価

GCIB（Arクラスター）を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可能

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低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

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ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

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有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

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電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

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【分析事例】イオン注入アニール処理後Si低温PLスペクトル

照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価

シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察

超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価

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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価

真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価

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【分析事例】有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価

雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能です

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【分析事例】顔料・色素の分散の観察

TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定

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【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価

断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能

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【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

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【分析事例】SIMSによるCIGS太陽電池の各層の相互拡散評価

表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です

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【分析事例】CIGS膜の結晶粒評価

SEMによる結晶方位解析

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【分析事例】有機薄膜太陽電池の断面観察

低加速電圧のSTEMを用いると有機膜のわずかな密度の違いが観えます

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【分析事例】SIMSによるZnO膜の組成・不純物の分布評価

イメージングSIMS分析により面内分布を可視化

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【分析事例】有機ＥＬ素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

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SEM装置での歪み評価

EBSD：電子後方散乱回折法

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マイクロサンプリング法

FIB：集束イオンビーム加工

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【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング

太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます

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【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価

ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価

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【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価

金属元素および大気成分元素の極微量分析

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【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価

表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価

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【分析事例】SIMSのa-Si薄膜太陽電池ドーパント濃度分布評価

対象元素に応じて測定条件を選択

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【分析事例】シリコン単結晶中の格子間原子濃度の定量

赤外吸収法により非破壊で格子間酸素・炭素濃度を定量

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【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析

薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能

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【分析事例】CIGS粉体の組成・不純物分析

主成分および微量成分の定量分析が可能

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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析

Csコレクタ付STEMによる原子レベル分解能EDX分析

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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

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【分析事例】酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価

XAFSとXPSの複合解析によって高精度なバンドギャップ評価が可能

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【分析事例】低温PL・SIMS分析Si基板の格子間型炭素の評価

Si基板に含まれる微量な炭素の確認が可能です

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界面および深さ方向分解能について

SIMS：二次イオン質量分析法

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クリーンルーム内有機化合物の評価方法

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

試料断面における応力分布を確認することが可能です

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