セイコーフューチャークリエーションの製品・サービス一覧

集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 詳しくは動画をご覧ください。

• めっき装置
• 受託解析
• その他金属材料

温度変調DSCは、通常のDSCでは得られない多くの情報が得られ、以下が可能となります ・上記のように可逆成分と不可逆成分の比較による熱履歴等の判別 ・JIS法による比熱測定では困難とされていた、1000℃付近以上の高温領域での比熱測定 ・室温以下の低温領域での比熱測定 その他、緩和現象の解析に用いることが期待できます。 この事例ではその技術の一例として 「PETを評価した事例」 を紹介しています 詳細はぜひPDF資料をご覧ください また、弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用可能 ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 その他情報はこちら https://www.seiko-sfc.co.jp/analysis-service/thermal-analysis.html

• その他高分子材料
• 受託解析
• プラスチック

弊社では示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)により雰囲気を適切に選び材料の有機分、無機分の重量測定、成分比を明確にします この事例ではその技術の一例として 「ゴム内のカーボンブラックの定量」 を紹介しています この測定によりゴム中の天然ゴム、カーボンブラック、無機・金属の成分比を把握できます 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はTG-DTAの他、DSC、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 以下にその他事例もありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/analysis-service/case.html

• ゴム
• その他高分子材料
• 受託測定

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形：φ5μm ・ピラーの高さ：700nm/650nm/600nm ・ピラーの径：φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。 こちらもお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さい。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• 加工受託
• 受託解析
• その他半導体

弊社ではDMA測定の結果にWLF則(時間-温度重ね合わせの定理)を適用することにより、実際には測定していない周波数領域での弾性率等を推測できます(マスターカーブの作成) その技術を活用して材料特性を把握してみませんか この事例ではその技術の一例として 「ゴムの長時間変形(クリープ試験)の結果予測」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 以下にその他事例もありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html

• ゴム
• 受託解析
• 受託解析

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能です。 このAFMとクライオミクロトームを使いポリイソプレンゴムをいろいろな角度から観察しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 本技術はゴム以外にも樹脂、プラスチック、各種高分子材料に応用可能です。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• その他高分子材料
• 受託解析
• ゴム

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます その他事例もありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html

• 食品試験/分析/測定機器
• 受託解析
• 解析サービス

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では「サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定」を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立てているお客様が多数いらっしゃいます ぜひPDF資料をご覧ください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行っております 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• その他金属材料
• 磁石
• 受託解析

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では 「EBSD を用いたアルミスパッタ膜の 評価」を紹介しています この測定技術は、アルミスパッタ膜の性能評価、下地選択に役立ちます 磁石の方位評価や結晶性があればセラミック材料にも応用可能です ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• その他金属材料
• スパッタリング装置
• セラミックス

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・断面形成後の結晶方位解析 ・金属組織の形状変化と内部歪み分布の確認 本事例では EBSDによる「線材の内部歪み測定」を紹介しています この測定技術は、板バネ、ひげぜんまい等の曲げ加工が適切か、加工条件決めに役立ちます ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• その他金属材料
• 受託測定
• その他顕微鏡・マイクロスコープ

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介しています ばね材の加工工程（伸線Φ1.00mm、0.07mm）における金属組織変化を調査して、伸線後に金属組織が変化している様子を確認できました この測定技術は、金属材料選定や材料変更時の比較に大いに役立ちます ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• その他金属材料
• 受託測定
• その他顕微鏡・マイクロスコープ

通常訪問で実施の立会い分析をWeb会議ツールを使用 してオンラインでも行います ・分析機器のデータ画像をWeb会議ツール上で共有 します ・当社からの分析内容説明、当社とお客様の情報交換、質疑応答を通信によりリアルタイムで行います ・FIB、TEM、AFM で実施可能です。他の分析装置もご相談ください 立会い分析に関してお気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※分析事例は多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 分析機器・装置
• 加工受託
• 受託解析

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方位が確認できました この測定技術は、金属や金属化合物における材料の分布で硬さ脆さなどの性能比較、析出具合を検出して色への影響把握に活用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析を行っており多面的に解析分析を行えます。 技術者が直接対応できますので、お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• 受託解析
• その他金属材料
• ステンレス

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり） 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝撃試験による”はんだ内部の歪みの変化”が確認できました。 この測定技術は、はんだの条件違いや経年劣化による不具合の発生時、事前の不具合予想に応用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料も多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• はんだ
• 受託測定
• その他金属材料

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」 を紹介しています。 本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えFIBとの併用で、試料のある領域に対して3D構築を行う不良個所特定も得意としております。 実際に紹介いたしますのでお気軽にお声がけいただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 半導体検査/試験装置
• 受託解析
• その他半導体

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」 を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えTEM、SEM各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• めっき装置
• 受託解析
• その他金属材料

示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA）では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。 この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します。 我々はお客様から状況をお聞きして適切な測定雰囲気を提案いたしますが、その背景となります。 本比較を活用すれば樹脂で”その試料そのものが燃焼しているのか”、”その試料から放出されたガスなのかの切り分けも可能です。 弊社はTG/DTAの他、DSC、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析についての事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 複合材料
• 受託解析
• 受託解析

示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA）では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。 この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します。 我々はお客様から状況をお聞きして適切な測定雰囲気を提案しますが、その背景となります。 本比較を活用すれば樹脂で”その試料そのものが燃焼しているのか”、”その試料から放出されたガスなのかの切り分けも可能です。 弊社はTG/DTAの他、DSC、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析についての事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託測定
• 複合材料
• ガラス

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。H(水素)が検出できるのも本装置の特長です。 この事例では「変色したステンレス(SUS)の組成調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本GD-OESに加えXPS、AESオージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• その他金属材料
• 受託測定
• 表面処理受託サービス

AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、AES、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の実績も多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• めっき装置
• 受託解析
• 電気計器・電位計(メータ)

X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケルめっき)の変色調査」を紹介します。 ニッケルめっきの変色という不良に対してXPSによる表面分析で変色の理由を探りました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 表面処理受託サービス
• めっき装置

物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります 弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術があります その技術を活用して材料特性を把握していただければ幸いです この事例ではその技術の一例として 「シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA(熱機械分析)： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 以下に他の事例も多数ありますのでご覧ください https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html

• ゴム
• 受託解析
• 解析サービス

XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本XPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 表面処理受託サービス
• 膜厚計

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 解析サービス
• めっき装置

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測定することで、同一試料内での熱履歴の違いを測定することが可能です。 DSCを用い融解挙動を測定することにより、熱履歴と結晶型の関係を把握することが可能です。製造条件の検討、品質管理に応用できます。 この事例ではDSCを用いた皆様の身近なチョコレートの分析を紹介しています。 その第4弾「チョコレートのDSC測定4（最適生成条件の検証）」です。 チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内、。V型の結晶に揃える作業)で重要なことが分かります。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 受託測定
• 受託解析

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測定することで、同一試料内での熱履歴の違いを測定することが可能です。 皆様の身近なチョコレートの分析を行っています。 この事例はその第3弾「チョコレートのDSC測定定2（製品間の比較）」です。 板チョコの中央部と外周部での溶け方を違いを確認可能ですのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 他の食品でも実績がありますのでお気軽にご相談いただければ幸いです。 ●事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 食品試験/分析/測定機器
• 有機天然材料

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例ではDSCを用いた 「チョコレートのDSC測定定2（製品間の比較）」 で皆様の身近なチョコレートの分析を紹介しています。 その第2弾です。 チョコレートの食感(口どけ)判別で製品比較にも役立ちますのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託測定
• 食品試験/分析/測定機器
• 有機天然材料

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例ではDSCを用いた 「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」 で皆様に身近なチョコレートの分析を紹介しています。 チョコレートの食感(口どけ)判別や品質管理に役立ちますのでぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 他の食品でも実績がありますので熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 油脂
• 有機天然材料

ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。 そこで表面に敏感な手法であるX線光電子分光分析(XPS)による表面分析を実施しました。 この事例では「XPSによるポリイミド表面汚染分析」を紹介いたします。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本WPSに加えGD-OES、オージェなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• その他高分子材料
• 表面処理受託サービス

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では、本事例以外でもめっき関連の分析実績は多数あります。 また、本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各種表面分析を行っております。 何かございましたらお気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 加工受託
• めっき装置

●試料：プラスチック製のワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による、変形・破断の様子を推定 ●手法：TMA(熱機械分析)・応力ひずみ測定装置による圧縮クリープ測定、応力ひずみ測定 ●結果：クリープ曲線、応力ひずみ曲線から、試料の圧縮による変形の様子が分かりました ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はTMAの他に、DSC、TG/DTAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 本事例および熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• プラスチック
• その他高分子材料

●目的:ポリエチレン(PE)のガラス転移を測定 ●手法:粘弾性測定(DMA) ●結果:DSCでは捉えられないPEのガラス転移を測定可能 この事例では DMAを用いた 「動的粘弾性測定によるポリエチレン(PE)のガラス転移測定」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社は他にDSC、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• その他高分子材料
• プラスチック

•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができます この事例ではDSCを用いた 「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社はDSCの他、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております。 ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析の各事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• 受託測定
• その他高分子材料

弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいています。 その他、FIBの関連技術として 『FIBによるめっき層内の異常個所発見方法』 の事例があります。 FIB装置のご活用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さい。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• 受託解析
• 加工受託
• その他コネクタ

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置ではマスクレスで任意形状のパターン描画(パターン形成)を行うことが可能です。 ・エッチングによるパターン描画では、1ドットあたり0.1μm程度の大きさで描画が可能です。（加工を行う材質、加工条件により最小サイズは変わります） ・ マスクレスでイオン注入を行うことが可能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 この事例では FIB装置で実際にシリコン基板上へパターンをどのように描画するか を紹介しています。 尚、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおりです。 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を適切に短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さい。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

• 受託解析
• プリント基板
• 加工受託

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では自動で断面を連続で作製し、断面写真を取得することが可能です。この機能を用いて、表面からでは判別が難しい試料内部に存在する異常個所を特定することが可能です。 この事例では 「FIB装置の連続自動断面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※なお、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいています。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

• 受託解析
• めっき装置
• その他金属材料

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「XPSによる材料表面の変色調査」をはじめ、「XPSによるPET表面改質評価」や、 「XPSによる撥水膜の分析」、「メッキ部品の加熱影響評価」などの 特長や分析事例を多数掲載。 他にも、解析結果や変色調査、表面改質評価、撥水膜の分析などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■XPSによる材料表面の変色調査 ■XPSによるPET表面改質評価 ■XPSによる撥水膜の分析 ■メッキ部品の加熱影響評価(AFM、AES) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 受託解析
• その他金属材料
• その他高分子材料

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 （ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定） ■XPSによる表面汚染分析 ■酸化銅の状態解析（XPS・AES分析） ■鉄サビの分析（ラマン分光分析） ■変色したステンレスの組成調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 受託解析
• 表面処理受託サービス

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。 「熱分析による樹脂の硬化特性解析」の分析事例をはじめ、 「高分解能TG測定方法（擬等温・擬等圧重量測定）」の目的や手法と結果、 「動的粘弾性測定によるPEのガラス転移測定」の目的や手法、結果など掲載。 他にも、解析結果や測定データ、シミュレーション結果などご紹介しております。ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■熱分析による樹脂の硬化特性解析 ■高分解能TG測定方法（擬等温・擬等圧重量測定） ■動的粘弾性測定によるPEのガラス転移測定 ■高温型TMAによる粘土の焼成過程測定 ※その他の事例もあります。お問い合わせいただければ送付いたします。

• 受託解析
• その他高分子材料
• プラスチック

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。 ・「シリコンゴムのDSC測定（低温測定）」 ・「熱重量測定によるカーボンブラックの定量」 ・「プラスチックの圧縮応力による変形・破断の推定」 などの各手法と結果を掲載 他にも、解析結果や測定データ、分析事例などご紹介しております。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■シリコンゴムのDSC測定（低温測定） ■熱重量測定によるカーボンブラックの定量 ■プラスチックの圧縮応力による変形・破断の推定 ■DMAによる長時間変形予測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 受託解析
• その他高分子材料

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。 「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」をはじめ、「チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）」や「チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い）」などの目的や手法、結果など掲載。 他にも、解析結果や考察、分析事例などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定） ■チョコレートのDSC測定2（製品間の比較） ■チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い） ■チョコレートのDSC測定4（好適生成条件の検証） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 受託解析
• 解析サービス
• その他高分子材料

熱分析とは、物質の温度を変化させながらその物質のある物理的性質の温度依存を測定する技法です 手法の一例： ●DSC：試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用可能 ●TG/DTA：試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ● TMA：試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 当事例集では、その『熱分析』における事例についてご紹介します。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■TG-DTA測定における雰囲気の影響 ■ココアバターの融解測定（ピーク分離機能の紹介） ■温度変調DSC法の紹介 ■米・麺類の糊化 その他掲載されていない事例も多数あります。 長年熱分析装置ラボで熟練した技術者もおり直接打ち合わせが可能です。お気軽にお問い合わせくさい。

• プラスチック
• 受託解析
• 受託解析

当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。 他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価 ■イオンミリングによる微小部断面加工 ■はんだ断面の残留応力測定 ■線材の残留応力測定 ■冷却（クライオ）イオンミリング断面加工 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 受託解析
• その他高分子材料
• その他金属材料

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料（モルフォ蝶鱗粉）の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他解析
• 受託解析
• 受託解析

当事例集では、『AFM：走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察（ミクロトームによる平滑化）」 弊社の強みの１つであるAFMを使って各種分析を行っています。 是非ご一読ください。 掲載されていない事例を他にも多数あります。 ※詳しくは当社の他PDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他顕微鏡・マイクロスコープ
• 受託解析
• 表面処理受託サービス