受託解析の製品一覧
- 分類:受託解析
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用途はアイデア次第! 重い物が 楽に 軽く 回せる 小型旋回ベアリング「楽っかる(らっかる)」!
- 金属軸受・ベアリング
FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位置に高精度で行えます
- 加工受託
- 受託解析
- その他半導体
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
- 半導体検査/試験装置
- 受託解析
- その他半導体
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
- 受託解析
- その他半導体
- 加工受託
FIBのSlice & View機能によりめっき不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できます
- めっき装置
- 受託解析
- その他金属材料
一般的な熱分析に加え低温測定や変形・破断の推定など弊社の強みであるDSC、TG-DTA、DMA等の各種h事例を多数ご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- その他高分子材料
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
- 受託解析
- 受託測定
- その他高分子材料
DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です。通常長時間かかる評価に活かせます
- ゴム
- 受託解析
- 受託解析