測定・分析の製品一覧

  • 分類:測定・分析

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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました

  • 電池・バッテリー
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静電式により高い捕集率を実現。大型から小型まで豊富なラインアップを展開。水溶性オイルミストにも対応

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  • 空調

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希薄から濃厚溶液まで対応。汚染物質の粒子径・ゼータ電位を測定。

  • その他計測・記録・測定器

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希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上

  • その他計測・記録・測定器

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電極材料の品質管理に。粒子径、ゼータ電位、分子量を高精度測定。

  • その他計測・記録・測定器

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焼結体の品質向上に貢献する、粒子径・ゼータ電位測定システム

  • その他計測・記録・測定器

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食品の品質と安全性を向上させる、粒子径・ゼータ電位測定システム

  • その他計測・記録・測定器

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全30事例!ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全30事例!バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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高分子の構造変化をリアルタイムに評価

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  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで

  • その他計測・記録・測定器

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約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 <デモ機を無料貸し出し中>

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  • 膜厚計

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動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

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  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

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  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

  • 膜厚計

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希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

  • その他計測・記録・測定器

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分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

  • IPROS9761633288204319171.png
  • 分光分析装置

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紫外域でも高精度な測定を実現!

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  • その他電子計測器
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  • 光源・照明

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

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  • 分析機器・装置

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IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

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  • 分光分析装置

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各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに! 

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  • 膜厚計

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光ファイバーにより自由な測定系が可能 LED生産工程での光学特性を高速で評価

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  • LED照明
  • 光源・照明
  • 光学測定器

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
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  • 分光分析装置

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光源や照明器具の配光特性を測定する装置です 

  • 分析機器・装置

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ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!

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  • 膜厚計

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様々な業界で使われている水酸化ナトリウム水溶液(NaOH)の濃度測定を簡便かつ、迅速に測定する

  • その他計測・記録・測定器

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広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

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  • 分光分析装置

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nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

  • 光学顕微鏡

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傾斜モデルを用いたITOの構造解析

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  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置
  • 光学測定器

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

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  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

  • 膜厚値違いによる反射率の変化.jpg
  • 分析機器・装置

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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

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  • 分析機器・装置

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反射分光法と他の測定手法の比較

  • 測定方法の比較.jpg
  • 分析機器・装置

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傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

  • 傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析.jpg
  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

  • 膜厚原理.jpg
  • 分析機器・装置

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