受託サービスの製品一覧

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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SEM装置に搭載されたFIBとTOF型質量分析器を用い、微小箇所の形状観察と元素イメージングを同時に行うことのできる手法です。

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真空中で細く絞られた 電子線を固体試料表面に照射し発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得られます

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物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を観測する手法です。

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HAXPESは、XPS(X線光電子分光)の励起光に硬X線を用いた分析手法です。

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赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

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TG-DTAは、加熱によって生じる重量変化(TG)、吸熱・発熱の熱挙動(DTA)を同時に評価します。

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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ

公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡(SEM)について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元:公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌:2012年5月発行 応用物理 ・企画名:基礎講座 <ホップ・ステップ・ジャンプ>シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者: 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容: 走査電子顕微鏡の研究開発への応用-解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。

イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

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二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です

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電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます

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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

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ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

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有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

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【MSTホームページ】分析事例「熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定」公開しました

MSTホームページにて、分析事例を公開いたしまいた。 ◆タイトル 熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定 ~熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて~ ◆測定法・加工法 GC/MS ◆製品分野 照明・ディスプレイ・化粧品・日用品 ◆分析目的 化学結合状態評価・安全性試験・熱物性評価 ◆概要 熱分解GC/MSは、試料導入部に熱分解装置を設置したガスクロマトグラフ質量分析計です。 複雑な前処理が必要であった高分子材料についても、熱分解装置で試料を加熱することにより前処理無しで発生したガスをGCに導入して分析を行うことができます。 また、熱分解装置の温度条件とサンプリング条件を変えること(ダブルショット法)で、同一試料から添加剤と高分子材料といったように異なった2種類の情報を別々に得られ、未知の高分子材料の解析が容易となります。 ★★詳しいデータはリンク先をご覧ください★★

非接触・非破壊で3次元測定可能

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キャリア分布を二次元的に可視化

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試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

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・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

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XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です

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FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます

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OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です

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ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

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DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます

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照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です

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高速液体クロマトグラフ法(HPLC)は、液体中の成分を固定相と移動相の相互作用の差を利用し分離・検出する手法です。

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カールフィッシャー滴定法は化学反応を利用して試料中の水分を定量する手法です。

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X-ray Computed Tomography

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質量分析法におけるイオン化法の1種であり、試料分子の開裂(フラグメンテーション)を抑制で きるソフトイオン化法です。

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導電性膜でコートされたプローブを用いサンプル表面に交流電圧を印加させることにより、サンプル表面を振動させ電気機械的情報を得ます

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材料・部品などに一定の負荷(温度・湿度・圧力・電圧)をかけたときの耐性を評価することが可能です。

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AFM-MA、AFM-DMAは硬さに関して知見を得ることが可能な分析です。

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MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁気情報を得る測定手法です。

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SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。

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試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効

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導結合プラズマ(ICP)を励起源として用いた無機元素分析の手法です

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マスアレイ法により複数の遺伝子多型を同時に解析できます

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