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環境水中のシアン・ふっ素・フェノールが測定できます。（連続流れ分析法を採用）
官公庁・民間計量証明事業所の水質調査機関でご使用頂いております。 蒸留が必要な測定項目でも20検体毎時に測定が可能です。 全自動蒸留装置が組み込まれています。 【特長】 ■蒸留が必要な測定項目でも20検体毎時に測定が可能 ■全自動蒸留装置を組み込み ■優れた自動化技法 ■優れたコストパフォーマンス ■ＪＩＳ及び環境省告示法に収載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
全粒穀物分析専用の高精度NIR装置！
Bruins Instrumentsの近赤外分光法（NIR）分析装置AgriCheckシリーズは、小麦やトウモロコシから大豆、ソルガム、米などの全粒穀物の分析に特化し、特定の検量線ライブラリを備えた費用対効果の高い高性能装置です。 毎日、世界中のAgriCheck分析装置が、入荷穀物、工程内サンプル、最終製品の水分、タンパク質、でんぷん、さらに油分、繊維、グルテン、ゼレニー、その他製品の種類に応じた信頼性のあるパラメータの測定を行っています。 AgriCheckは、生産者、製粉業者、加工業者にとって魅力的な価格帯で、迅速、正確、信頼性の高い品質測定を提供します。
コンパクトで高精度なリキッドハンドリングプラットフォーム
CyBio FeliXは、シングルからマルチチャンネルでのリキッドハンドリングを自動化できる柔軟なピペッティングプラットフォームです。 豊富なアクセサリーを自在にレイアウトすることで、様々なアプリケーションに合わせてカスタマイズすることができます。 ・一般の実験台に設置可能なコンパクトなリキッドハンドリングプラットフォーム ・デッキは2段に分かれ、省スペースにプレートやアクセサリを計12カ所設置可能 ・簡単なヘッド交換 ・チップやアダプターの自動交換 ・高精度な96チャンネルまたは384チャンネルのマルチ分注 ・シングルまたは列/ 行での分注が1μL〜1000μLという広範囲な容量で可能 ・分注スピードや高さも容易に設定できるCyBio Composerソフトウェア デッキポジション数：12 ピペッティングチャンネル：1 –384 サイズ：(W × D × H) 650 × 450 × 700 mm 重量：本体 約50kg ピペッティングヘッド 約7kg 電源：100 –240V AC 2A 50/60Hz
各相の多種のマップを表示することも可能！試料の持つ結晶構造の情報を基に解析
Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。 【概要】 ＜EDXによる元素分析＞ ■面分析では化合物中にNiやCu、Snの分布が⾒られる ＜EBSDによる結晶方位解析＞ ■EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができる ■Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合がある ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
再現性の高い不純物量評価が可能です
半導体デバイスの製造において、ドーパント等の不純物の制御は重要な工程となります。 イオン注入に着目した場合、僅かな差が品質や性能に影響を及ぼすため、正確な制御が必要となります。SIMS分析の高い再現性は、それらの開発・維持管理に最適です。
TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。
精密機器や真空装置、半導体製造装置においては、用いられる部材の汚染により製品の品質や装置の安定稼働に悪影響を及ぼすことがあります。本事例では種類の異なる使い捨て手袋でガラス部材を扱い、ガラス部材に付着した有機汚染を発生ガス濃縮装置を用いたGC/MS分析によって分析しました。部材の汚染を評価することで、不具合の原因となる部材の特定や部材汚染の原因の除去、部材変更の検討などに役立てることができます。
成分および深さ方向分布評価が可能
ペロブスカイト太陽電池は、フィルム状で優れた変換効率を有し、低コストで製造できることから、実用化に向けた研究開発が盛んに行われています。 HTM層（ホール輸送層）の成分分析や主成分、ドーパント、不純物の深さ方向分布評価には、TOFSIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）が有効です。本資料では、HTM層からペロブスカイト層までの深さ方向分析を実施した事例を紹介します。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：太陽電池 分析目的：同定、分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
中空構造内の微小な異物が壁面に衝突する際に発生する音を検出することで、ショート等のトラブルを未然に防ぐことが可能です。
試料に衝撃や振動をかけ、中空構造内の微小な異物が壁面に衝突する際に発生する 音を検出することで、ショート等のトラブルを未然に防ぐことが可能です。
![[O-PTIR]PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/899/2001512496/IPROS16568394973420817436.jpg?w=280&h=280)
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
? O-PTIRは以下の特徴があります。 ? 空間分解能（最大空間分解能：1μm以下）での評価が可能なため微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 ? 薄片化不要（異物試料等、薄片化が困難な試料に有効） ? 基本的には非破壊での測定が可能 ? FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能
目的成分やイメージ ング視野の大きさなどに応じて、両手法を使い分けることが有効です
代表的な固体試料表面の質量分析法であるTOF-SIMSとMALDI-MSでは、ともに定性分析やイメージン グ分析が可能です。ハードイオン化法を利用するTOF-SIMSでは、質量が数百までの無機・有機成分を 高感度に検出できます。一方、ソフトイオン化法を利用するMALDI-MSでは、数千～数万の高分子を検 出できます。また、照射ビームの径に依存してイメージの空間分解能も異なります。
有機成分および活物質表面の分布評価、定性分析
リチウムイオン二次電池の正極表面における成分の偏析や被膜の形成は、電気容量に影響する一因と なります。正極として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）について、AESによる微小領域マッピングおよびXPS、TOF-SIMSによる有機成分（バインダー）や活物質表面被膜の定性分析を行った事例を紹介いたします。これらの手法では、測定までの一連の処理をAr雰囲気下で行い、試料の変質を抑えた分析が可能です。
最大70×70mm領域の組成分布評価が可能です
XPSによる広域定量マッピングの事例を紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価しました。ピーク強度ではなく存在量（原子濃度）をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受けにくく、且つ広域でのデータ取得が可能です。 試料表面の組成分布を俯瞰的に評価できるため、有機系・無機系の汚染、変色、表面処理等の調査に 適しています。
MALDI-MSによるマウス脳の脂質マッピング
MALDI-MS(マトリックス支援レーザー脱離イオン化分析法)は有機成分を分子イオンのまま検出・イメージングできる手法です。特にMALDIイメージングは、薬物動態研究や医薬品の研究開発において、生体成分や、生体に投与した成分の分布評価に有効です。MSTでは検体の前処理から測定まで一貫したプロセスで対応可能です。本資料では、マウスの脳切片の作成から、MALDI-MSを用いて脂質をイメージングをした分析例を示します。
微小特定箇所の無機成分・有機成分を同時に測定
TOF-SIMSには有機物、無機物の同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できるなどの特徴がありますので、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Siウェハ上で純水を乾燥した事例を紹介します。光学顕微鏡では点状の異物や曇りがわずかに見えるだけです。TOF-SIMSで測定した結果、汚れ部では、炭化水素、PDMS、アミドなど自然に吸着しやすい有機成分が凝集していることがわかりました。
引張応力ごとの三次元構造変化を評価可能
in situ X線CT測定では、試料に負荷（引っ張りもしくは圧縮）を印加した状態で内部構造分析を行うことが可能です。本資料では、アルミニウム板を試料として、通常状態と引き伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施しました。そして、試料にかかる引張応力を計算し、各応力条件ごとの内部構造変化をモニターしました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下 での評価や応力による製品への影響の評価が可能です。
