microscopeのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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microscope - メーカー・企業177社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:Nov 19, 2025~Dec 16, 2025
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microscopeのメーカー・企業ランキング

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  1. スリーアールソリューション Fukuoka//Trading company/Wholesale
  2. null/null
  3. サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K. Tokyo//Testing, Analysis and Measurement
  4. 4 アズサイエンス 松本本社 Nagano//Trading company/Wholesale
  5. 5 アイテス Shiga//Electronic Components and Semiconductors

microscopeの製品ランキング

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  1. Portable Microscope "Magic Loupe R" / 15x Magnification, Photo and Save Capability スリーアールソリューション
  2. White interference microscope equipped with laser 'VK-X4000 series'
  3. White interference microscope equipped with laser microscope 'VK-X3000'
  4. 4 All-in-one fluorescence microscope 'BZ-X1000 Series'
  5. 5 All-in-one fluorescence microscope 'BZ-X800'

microscopeの製品一覧

211~225 件を表示 / 全 662 件

表示件数

Charge photometry: Observation of particles during charging and discharging, such as lithium-ion.

Supports lithium-ion and non-lithium-ion chemical substances! A benchtop measurement device that can be used for electrode optimization and material degradation!

The flagship charge photometry "illumionONE" is a technology that directly measures the process in which individual particles exhibit their functions during charging and discharging through imaging. It visualizes the electrodes during battery operation, allowing for the capture of localized changes in charging state and morphology at the resolution of single particles! It is possible to observe how much material is activated, where performance is lost, and to discover factors that limit charging performance at the active particle level, making it applicable to lithium-ion and other chemical substances. 【Features】 ■ Direct observation of particles during charging and discharging using an optical microscope ■ Benchtop design allows for measurements in the laboratory ■ Fully integrated electrochemical control *For more details, please download the PDF or contact us directly.

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[Case Study] Incident of "Black Foreign Substance" Dispersing from Unit Cooler

Black foreign substances scattered from the unit cooler! Introduction of a case where the trouble was successfully resolved.

We received a request to investigate the "black foreign substances" being dispersed from the unit cooler in the factory. 【Case】 ■Issue - We would like you to investigate the "black foreign substances" being dispersed from the unit cooler. ■Solution - Elemental analysis using "Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray (SEM-EDX)" - Analysis of organic materials using "Fourier Transform Infrared Spectroscopy" and comparison of the surface and cross-section of the foreign substances.

  • Contract measurement
  • Contract Inspection
  • Contract Analysis

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Reading Microscope "XZ Series"

Measurement range: X-axis 200mm, Z-axis 150mm, etc. Please consult us for custom or analog specifications.

The "XZ Series" is a reading microscope handled by our company. The minimum reading value is 0.01mm (digital specification). For other custom specifications, please contact us. For analog specifications, please consult separately. 【Specifications】 ■ Measurement Range - X-axis: 200mm, 300mm, 500mm, 1,000mm - Z-axis: 150mm, 200mm, 300mm, 460mm ■ Minimum Reading Value: 0.01mm (digital specification) *For more details, please refer to the external link page or feel free to contact us.

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Reading Microscope "Z Series"

Measurement range Z-axis 150mm, length measurement change is also possible. Please consult for custom and analog specifications.

The "Z Series" is a reading microscope with a measurement range of 150mm on the Z-axis. Length measurement changes are possible. Available options include standard, with magnet, and with magnet + rotary table. For custom specifications, please contact us. For analog specifications, please consult us separately. 【Features】 ■ Measurement range: Z-axis 150mm ■ Length measurement changes possible ■ Available options: standard, with magnet, and with magnet + rotary table *For more details, please refer to the external link page or feel free to contact us.

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Three-Axis Measurement Microscope 'NTM-100F'

USB port specifications. Measurement range: X and Y axes 0 to 25mm, Z axis (depth) 0 to 6.5mm.

The "NTM-100F" is a USB port specification three-axis measuring microscope. The measurement range is 0 to 25mm for the X and Y axes, and 0 to 6.5mm for the Z axis (depth). The minimum reading value is 0.001mm for the X and Y axes (digital micrometer head) and 0.001mm for the Z axis (digital indicator). 【Specifications (excerpt)】 ■ Measurement Range  ・X and Y axes: 0 to 25mm  ・Z axis (depth): 0 to 6.5mm ※100X ■ Minimum Reading Value  ・X and Y axes: 0.001mm (digital micrometer head)  ・Z axis: 0.001mm (digital indicator) ■ Integrated Magnification: 100X (200X) *For more details, please refer to the external link page or feel free to contact us.

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Shop Measurement Microscope "NSM Series"

Shop measuring microscope with three models featuring total magnifications of 20X, 50X, and 100X.

The "NSM Series" is a shop measurement microscope with total magnifications of 20X, 50X, and 100X. We offer three models, including the "NSM-20" with a measurement range of 5.0mm. 【Specifications (NSM-20)】 ■ Total Magnification: 20X ■ Minimum Division: 5/100mm ■ Field of View: 9.0mm ■ Measurement Range: 5.0mm ■ Working Distance: 30mm ■ Size/Weight: φ64x200mm/600g *For more details, please refer to the external link page or feel free to contact us.

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Digital microscope 10x zoom

NA0.19, WD30mm! The optical magnification is 10x zoom with autofocus for focus adjustment.

We would like to introduce our "Digital Microscope 10x Zoom." The lens is telecentric, and the image circle is 9.4mm (camera). Image measurement is custom, and the camera mount is C-mount. Please feel free to contact us if you have any requests. 【Specifications (partial)】 ■ Lens: Telecentric ■ Optical Magnification: 10x Zoom ■ NA: 0.19 ■ WD: 30mm ■ Image Circle: 9.4mm (camera) *For more details, please download the PDF or feel free to contact us.

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High-precision ultrasonic microscope 'D9600 C-SAM'

A high-precision ultrasonic microscope that conducts inspection and analysis tasks quickly and accurately! It allows for non-destructive observation of the internal conditions of samples!

The "D9600 C-SAM" is a standard model product from Sonoscan, a company that boasts a world-leading share in ultrasonic microscopy. It captures and images the reflected ultrasonic waves emitted by a transducer at a constant depth (focus) within the sample, allowing for non-destructive observation of the internal conditions of the sample. Different bonding surfaces of materials and areas with air layers exhibit unique reflections, enabling the detection of subtle differences compared to normal areas through accurate measurement and analysis. 【Features】 ■ Equipped with a linear motor scanner ■ Standard scan reference included ■ Capable of detecting and imaging even weak signal waveform changes within the gate with higher sensitivity ■ Supports multilingual display including Japanese, English, and Chinese ■ Can simultaneously scan multiple different depths ■ Capable of measuring up to 100 gates *For more details, please request documentation or view the PDF data available for download.

  • Other microscopes
  • Ultrasonic Oscillator

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Wired Microscope WMS-01

You can connect it to a PC or smartphone (Android) via USB. It is suitable for checking barriers and semiconductors, etc.

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  • others

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Digital Microscope JMS1

It is a portable digital microscope that supports various languages and can be folded.

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  • others

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Wired Microscope X4D-1000

With a zero-distance field of view, you can see more clearly.

The zero-distance field of view allows for a clearer view.

  • Optical Measuring Instruments

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Technical Data: Electrode Deposits (Contacts)

Introducing a case study that investigated contact surfaces with poor conductivity through electron microscope observation!

Our company is engaged in the analysis solution business. This document presents cases where non-contact, non-destructive observation of contact surfaces that experienced poor conductivity was conducted using an electron microscope at magnifications of 40 to 250 times, allowing for the observation of contaminants on the contact surfaces. By identifying the contaminants through qualitative elemental analysis using fluorescent X-ray analysis and qualitative compound analysis using micro-infrared spectroscopy, we can clarify the adhesion mechanism of the identified contaminants to the contacts, enabling an investigation into the causes of poor conductivity. [Contents] ■ Overview ■ Features ■ Analysis Cases - Electron Microscope Observation - Fluorescent X-ray Analysis, Micro-infrared Spectroscopy *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

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Technical Data: Low Vacuum SEM (Observation and Evaluation of Adhesive Interfaces)

Introduction to observation and evaluation analysis of low vacuum SEM that does not require coating processes such as vacuum deposition!

Our company is engaged in the analysis solutions business. In low vacuum SEM, coating treatments (pre-treatments) such as vacuum deposition are not required for sample preparation. Even for samples such as insulators, semiconductors, and food, after low vacuum SEM observation without coating treatment, they can be used directly for other analyses. [Contents] ■ Overview ■ Analysis Examples ・ Observation and evaluation of adhesive interfaces *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

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"Optical Equipment" Comprehensive Catalog Vol. 5

Introducing a variety of evaluation equipment, jigs, and charts that support the development of the high-tech industry.

This catalog is a comprehensive catalog from Pearl Optical Industrial Co., Ltd., providing solutions for optical instrument measurement, test charts, and thin film patterning. It features a wide range of optical instruments, including the centering microscope CM series, image processing systems, autocollimators, test charts, and thin film patterning. [Featured Products] ■ Centering Microscopes ■ Transmission-type Eccentricity Measuring Instruments ■ Image Processing Systems ■ Reflection-type Eccentricity Measuring Instruments ■ Options for Reflection-type Eccentricity Measuring Instrument RCM-2 *For more details, please download the PDF or contact us.

  • Optical Measuring Instruments

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