受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位置に高精度で行えます
- 加工受託
- 受託解析
- その他半導体
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
- 半導体検査/試験装置
- 受託解析
- その他半導体
弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパターン描画、構造解析など)を多数ご紹介します。
- 受託解析
- その他半導体
- 加工受託
FIBのSlice & View機能によりめっき不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できます
- めっき装置
- 受託解析
- その他金属材料
一般的な熱分析に加え低温測定や変形・破断の推定など弊社の強みであるDSC、TG-DTA、DMA等の各種h事例を多数ご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- その他高分子材料
DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします
- 受託解析
- 受託測定
- その他高分子材料
DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です。通常長時間かかる評価に活かせます
- ゴム
- 受託解析
- 受託解析
バイオコンパチブル機能とリアルタイムバイオプロセスモニタリングにより、PAT、プロセス制御、自動化・リモート化をサポート
- 分析機器・装置
- 分離装置
- 受託解析
PAT 動向と新製品 Infinity III Bio LC による最先端のバイオ医薬品分析【INTERPHEX オンラインカンファレンス 2024】
講演内容：Bio オンラインLCの活用により、反応やバイオプロセスを可視化し、全自動で経時変化をとらえられる。一方、LCによるルーチン分析の自動化、負担軽減はラボ効率化につながる。ユーザーをアシストする最新HPLCによって、未来のラボ、DXを実現する。
試作段階から製品要求仕様や量産工程を考慮した設計提案を行います！ FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
開発技術担当者様に寄り添い、更なる開発力向上の為の提案・支援を致します！ FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレスで可能なので試作に最適です。
- 受託解析
- プリント基板
- 加工受託
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所を狙って断面を作製できます
- 受託解析
- 加工受託
- その他コネクタ
繰り返し伸縮可能で、変形に追従できるフレキシブル基板です。 FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- 表面処理受託サービス
2次から40次までの高調波を使用して診断！ モーター、機械、インバーター、電力用変圧器、コンデンサーを異常・劣化が診断が可能に
- その他電子計測器
- 受託解析
一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます
- ゴム
- 受託解析
- 解析サービス
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です
- その他高分子材料
- 受託解析
- ゴム
知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。当社は適切に選定し測定いたします
- 複合材料
- 受託解析
- 受託解析
硬化特性解析や測定方法など！DSC、TG、DMA、TMAによる事例を多数ご紹介。詳細は資料をダウンロードしてご確認願います
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察でき、Slice&View機能により異常の起点発見も可能です
- 受託解析
- めっき装置
- その他金属材料
YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。
集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 Slice & Viewにより不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できています。
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるため表面汚染・変色の分析や表面処理その他の評価に最適です
- 受託解析
- その他高分子材料
- 表面処理受託サービス
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しました。ぜひご覧いただき資料ダウンロードください
- 受託解析
- その他金属材料
- その他高分子材料