更新日： 集計期間:2025年10月22日～2025年11月18日
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チャンネル数は全7種類！マルチディッシュを用いた様々な細胞培養工程を支援します
『EDR-24LX』は、自動分注、自動希釈、サンプリングなど多用途での使用が 可能なコンパクト・ワークステーションです。 制御ソフトは全て日本語。タブレットPCで直感的な操作が実現しました。 また、クリーンベンチ、安全キャビネットへ楽々設置でき、不要なときには 取り出せるコンパクトなサイズとなっております。 【特長】 ■自動分注、自動希釈、サンプリングなど多用途での使用が可能 ■マルチディッシュを用いた様々な細胞培養工程を支援 ■軽量コンパクトでクリーンベンチ、キャビネット内にも楽々設置できる ■ヘッドはワンタッチで交換可能 ■チャンネル数は1ch、6ch、12ch、24chの全7種類 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
スペースをとらないコンパクト設計オートのダイリューター・ドロッパーについてご紹介
『EDR-96RX』は、臨床検査において96ウェルマイクロプレートへの 試薬分注作業、検体の分注およびトランスファー作業、希釈系列の作成 などに適した8ch/12ch列毎処理 連続自動分注・希釈装置です。 スタッカー部にはマイクロプレートを20枚、チップラックを5個収納可能。 また、ステージ回転機構により、プレートの縦/横両方向の分注希釈作業に 対応することができます。 【特長】 ■直感的で操作性の良い専用PCソフトを用意 ■CSVファイルを使用した分注希釈パターン設定 ■試薬残量、チップ廃棄リミット、作業状況等を管理 ■トレーサビリティに適したログ管理機能 ■スペースをとらないコンパクト設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
0.1μL分注対応！左右に専用プレートスタッカーを接続しても省スペースで場所をとりません
『EDR-384SX-6』は、好評の12ステージワークステーション「EDR-384SX」の コンパクト版として登場した6ステージワークステーションです。 分注ユニットは、ワンタッチで簡単に交換可能。 左右に専用プレートスタッカーを接続しても省スペースで場所をとりません。 また、簡単スタートで使いやすさを徹底追求した制御ソフト“ICS”を 搭載しています。 【特長】 ■96/384/1536ウェルプレート対応 ■ダブルレンジヘッド対応 ■コンパクト版 ■マイクロウェルプレートとチップラックを合計6個まで設置可能 ■チャンネル数や分注レンジを簡単に変更できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクト設計で省スペース化を実現、安全キャビネットにも設置可能です！ 高精度微量分注と大容量分注を兼ね備えた二刀流モデルです！
『EDR-8LZ』は8ステージを有し、豊富なステージレイアウトを可能としています。 遠心管から384ウェルプレートまで幅広い容器に対応しています。 1ch～8chの任意の本数で使用できるので、希少な試薬を1chで分注し、サンプルは8chで分注するなどの連続作業が可能です。 新たにヘッド部に採用した「ダブルレンジ機構」はヘッドの交換が不要。 容量に応じて異なるシリンジを使用する事で微量から大容量まで、高精度な分注ができます。 国内生産のため、消耗品の安定供給が可能です。 【特長】 ■コンパクトな設計 ■豊富なステージ ■様々な容器に対応 ■ヘッド交換不要＆高精度微量分注の実現 ■液だれ防止シャッター ■各種センサーによる液面検知機能を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
抗体、タンパク質の煩わしい精製から解放されて、新たな価値を生みませんか？
当社が取り扱う『EDR-384GX』をご紹介します。 少量多検体のHigh-throughput screeningなら、 PhyTipと96chリキッドハンドラーの組み合わせが適しています。 お好みの本数での精製も可能。 また、複数検体の自動化に適している小型8chタイプの「EDR-8LZ」も ご用意しております。 【特長】 ＜EDR-384GX＞ ■低速ピペッティング等、処理時間を要する各工程を自動化可能 ■チップ交換速度の向上及び分注ヘッドの高速化によりハイスループット化を実現 ■装置開口部を大きく取り、自動化インテグレートに適した構造 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。 ・高感度（ppb～ppm） ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い（主成分元素から極微量不純物まで） ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数～数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメージ分析が可能 ・深さ方向分析の定性分析が可能
導結合プラズマ（ICP）を励起源として用いた無機元素分析の手法です
ICP-MSは溶液を分析するため、固体分析では作製が難しい標準試料を比較的容易に調製することが可能です。そのため、溶液中の極微量な無機元素を精確に定量する場合に頻繁に用いられています。 ・高感度・低バックグラウンドな測定が可能なため、無機元素分析用装置としては最も低い含有量（ppt*あるいはサブpptレベル）を検出できます。(＊：ppt：10-12g/g) ・定量分析の比較基準となる標準試料（標準溶液）の調製を柔軟に行うことができるため、不確かさの小さな結果を得ることができます。 ・周期表の多くの元素を同時に測定可能なため定性分析が可能です。また、広いダイナミックレンジを備えており主成分から微量成分までを同時に分析可能です。
試料冷却による高精度なBのプロファイル分析
デバイスの設計の上で特性に大きく影響を与えるSi中Bの濃度分布は、SIMS分析により高感度・高深さ方向分解能での評価が可能です。しかし、一般的な分析条件では、測定起因によりBの濃度分布に歪みが生じることがわかりました。 MSTでは試料冷却がこの歪み補正に有効であることを確認し、より高精度な濃度分布の評価が可能になりました。
天然物由来のアミノ酸類の収率や精製レベルを評価
ヒラタケ科の食用きのこ類に多く含まれるアミノ酸同族体であるエルゴチオネインは、高い抗酸化能を持った天然物由来の物質として食品・医療・美容分野で注目されています。最近になって化学的合成技術も確立されましたが、引き続き天然食品資源からの高効率な分離精製技術の確立が必要とされており、収率を精度良く測定して精製レベルを評価することが求められています。
切断できない大きな部品でも表面汚染を適切にサンプリングして測定
Al材表面に水はじきのよいシミがあることがわかりました。そのシミ部をテープに付着（転写）させ、TOFSIMSで分析を行いました。 「シミ部を転写させたテープ表面」からは、「Al材表面のシミ部」と同じフラグメントが検出されており、シミの原因物質がテープに転写されているものと考えられます。このように、原因物質をテープに転写させて採取するこの方法は、切断ができない部品に有効です。
汚染成分を同定し、汚染発生工程を推定
フッ素系の化合物はさまざまな種類が存在します。汚染原因調査の際、フッ素系の種類の定性を行うことで、原因となった工程を調べることが可能となります。そこで、表面敏感なTOF-SIMSを用いて水はじきのよい場所に何が付着しているか分析を行いました。 各工程で使用しているフッ素系のオイルは、種類によってフラグメントパターンが異なることを利用し、指紋照合を行ったところ、工程Bのオイルに相当する物質が付着していることがわかりました。
TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します
粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。
微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能
二次イオン質量分析法（SIMS）を用いて、市販ＴＦＴ液晶ディスプレイのデータ信号配線とゲート電極配線の交差部（4μm×10μm）を、基板側から分析（SSDP-SIMS）した例を示します。 基板側から測定（SSDP-SIMS）を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜などの影響がないデータの提供が可能となります。
有機EL素子を深さ方向分解能よく評価
有機EL素子の長寿命化には、エレクトロマイグレーションによる劣化の評価が必要なため、電極金属成分の有機層への拡散の状態を調べることが重要です。しかしながら、陰極側から直接分析しても、陽極側からSSDP法*により分析しても、深さ方向分解能が低下し、界面から有機層への拡散を評価することは困難でした。（*SSDP法：裏面側からの分析。分析手法詳細編B0013参照。） そこで、特殊加工によって、陰極/有機層界面および有機層/陽極界面を露出させ、そこから有機層を分析することにより、有機層中を高い深さ方向分解能で評価することが可能になりました。
