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潤滑油の低温始動性の指標となる粘度を測定！SAE粘度グレードの区別に用いられます
当社で行っている、潤滑油試験分析「低温見掛け粘度：CCS」について ご紹介します。 潤滑油の低温始動性の指標となる粘度を測定する試験。 試料の高せん断速度における見掛け粘度を測定します。 得られた結果はSAE粘度グレードの区別に用いられます。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【試験詳細】 ■項目番号：L321 ■必要量：100ml ■規格番号：JIS K2010 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
屈折率、密度、分子量、硫黄分の結果から算出！芳香族などの各炭素数の割合を求める
当社で行っている、潤滑油試験分析「n-d-M環分析」についてご紹介します。 試料中のパラフィン、ナフテン、芳香族の各炭素数の割合を求め、 屈折率、密度、分子量、硫黄分の結果から算出。 対象油種は、機械油やエンジン油、工業用ギヤ油となっております。 【試験詳細】 ■項目番号：L247 ■必要量：300ml ■規格番号：ASTM D3238 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ISO規格に従って汚染度を0から28等級に分類！光センサーによって粒子の大きさ毎に個数測定
当社で行っている、潤滑油試験分析『きょう雑物：汚染度-計数法(ISO)』 についてご紹介いたします。 試料中に存在するきょう雑物の粒子数を測定する試験。 ISO規格に従って汚染度を0から28等級に分類します。試料中のきょう雑物を、 光センサーによって粒子の大きさ毎にその個数を測定します。 【試験詳細】 ■項目番号：L240 ■必要量：400ml ■規格番号：JIS B9933、ISO 4406 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
油中のきょう雑物や摩耗金属の量を測定！対象油種は工業用ギヤ油、エンジン油、自動車用ギヤ油
当社で行っている、潤滑油試験分析『不溶解分：トルエンA法』について ご紹介いたします。 油中のきょう雑物や摩耗金属の量を測定。 専用の遠沈管に試料を採り、不溶解分：ペンタンA法(L234)を実施後に トルエンを加え、遠心分離によって沈殿したトルエン不溶解分を測定します。 【試験詳細】 ■項目番号：L236 ■必要量：30ml ■規格番号：ASTM D893 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
対象油種はエンジン油、自動車用ギヤ油！油中のきょう雑物や摩耗金属の量を測定
当社で行っている、潤滑油試験分析『不溶解分：ペンタンB法』について ご紹介いたします。 油中のきょう雑物や摩耗金属の量を測定。 専用の遠沈管に試料を採り、凝集剤の入ったペンタンを加え、遠心分離によって 沈殿したペンタン不溶解分を測定します。 【試験詳細】 ■項目番号：L235 ■必要量：30ml ■規格番号：ASTM D893 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料に空気を吹き込んだ際の泡立ち度と一定時間後の泡安定度を測定！
当社で行っている、潤滑油試験分析『高温泡立ち』について ご紹介いたします。 試料に空気を吹き込んだ際の泡の立ちやすさ(泡立ち度)及び一定時間後の 泡の消失度合い(泡安定度)を測定する試験。 測定は150℃の温度条件で行います。 【試験詳細】 ■項目番号：L2293 ■必要量：400ml ■規格番号：JIS K2518 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
対象油種は機械油、エンジン油、自動車用ギヤ油、工業用ギヤ油！
当社で行っている、潤滑油試験分析『泡立ち 24℃』について ご紹介いたします。 泡立ち SeqI～III(L229)のうち、シーケンスIのみを行う試験。 必要量は400ml、対象油種は機械油、エンジン油、自動車用ギヤ油、 工業用ギヤ油です。 【試験詳細】 ■項目番号：L2291 ■必要量：400ml ■規格番号：JIS K2518 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
所定量の試料をフィルターでろ過し、フィルターの質量変化を測定！
当社で行っている、潤滑油試験分析『きょう雑物：汚染度-質量法』について ご紹介いたします。 試料中に存在するきょう雑物の質量を測定する試験。 所定量の試料をフィルターでろ過し、フィルターの質量変化を測定します。 対象油種は、機械油、灯油(ジェット燃料含む)、軽油(混合軽油含む)、 エンジン油、自動車用ギヤ油、工業用ギヤ油です。 【試験詳細】 ■項目番号：L227 ■必要量：100ml ■規格番号：JIS B9931 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料中に2つの球状電極を置き、電圧を除々に上げたときに連続放電した電圧を測定！
当社で行っている、潤滑油試験分析『絶縁破壊電圧』について ご紹介いたします。 試料の絶縁性能を測定する試験。 試料中に2つの球状電極を置き、電圧を除々に上げたときに連続放電 (絶縁性を失った状態)した電圧を測定します。 【試験詳細】 ■項目番号：L223 ■必要量：600ml ■規格番号：JIS C2101 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
石油製品中に含まれている塩基性成分の量を測定する試験！電位差滴定法で測定
当社で行っている、潤滑油試験分析『中和価：塩基価-過塩素酸法』について ご紹介いたします。 石油製品中に含まれている塩基性成分の量を測定する試験。 試料油1g中に含まれている塩基性成分を中和するのに必要な過塩素酸と当量の 水酸化カリウム(KOH)の量をmgで表します。JISでは指示薬滴定法と 電位差滴定法があり、当社では電位差滴定法で測定します。 【試験詳細】 ■項目番号：L218 ■必要量：50ml ■規格番号：JIS K2501 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体・電子部品・有機複合材料などの内部構造や欠陥を拡大して観察できます
『それ、壊さずに見えますよ!』は、隠れた異常が見える受託分析サービスです。 非破壊の観察手法には電流経路を可視化する磁場顕微鏡、剥離を高感度で 検出する超音波顕微鏡、内部構造を3次元で観察できるX線顕微鏡(X線CT)があり、 これらを組み合わせることで、さまざまな現象を捉えることが可能です。 また、高輝度X線により、錠剤の吸水と崩壊開始の状態をリアルタイムに 観察でき、動画でのご提供も可能です。 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■剥がれ・割れが見える ■3次元構造が見える ■磁場・電流が見える ■知りたい数値が見える(粒度・体積・配向・空隙・密度) ■リアルタイムで形状変化が見える ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に！
磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で 観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【解析フロー】 1.磁場顕微鏡による異常検出 2.3次元X線顕微鏡による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
3次元X線顕微鏡でカプレット錠内部の空隙を可視化！X線吸収率が小さく暗く表示
錠剤には、服用しやすさ、取り扱いの容易さ、においや苦味の抑制などの 利便性と、適切な部位で適量が作用するように、溶ける箇所・時間などを 調整する重要な機能があります。 3次元X線顕微鏡(X線CT)は、コーティング層、粉薬の分布状態などの 内部構造を確認でき、非破壊であるため、乾燥・湿潤などによる 状態変化の確認にも活用できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【カプレット錠内部の空隙率の算出 概要】 ■3次元X線顕微鏡でカプレット錠内部の空隙を可視化 ■空隙はX線吸収率が小さく暗く表示される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介！
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
外観検査ではわからない内部の状態を非破壊で可視化できます！
電気製品で断線による故障が発生する場合があります。 配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が 発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。 そのような場合、X線透過観察により、断線箇所を見つけることが可能です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■X線透過観察による断線箇所特定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
構成元素の種類と量、膜質などを評価！複合的な分析をご提案いたします
当社で行う「薄膜分析・評価」についてご紹介いたします。 薄膜は電子デバイスの機能性を向上させるための重要な因子の一つです。 薄膜の複合的な分析をご提案いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【詳細】 ■組成評価 ■不純物・汚染評価 ■結合状態 ■密度評価 ■発生ガス ■形状観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段！
当社で行う「高温XRDによる極薄膜の結晶性評価」についてご紹介いたします。 高温でのX線回折(XRD)は、各種材料の温度条件による相変化・化学反応・ 格子定数の変化を知るために有効な手段です。 添付のPDF資料にて、nmオーダの極薄膜の結晶構造の変化をIn-PlaneXRD＋ 高温測定で評価した事例をご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【高温＋In-Plane XRD 特長】 ■極低角でX線を入射して面内方向に検出器を走査させる方法 ■入射X線は表面から深くまで入らず、かつ表面に対して 垂直な回折面のみを検出することができる ■数nmの極薄膜についても結晶の情報を得ることができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
二次電池の充放電過程における正極/負極材料の粒径・ひずみ量評価などの用途に！
当社で行う「リートベルト解析によるX線回折データの定量分析」 についてご紹介いたします。 X線回折データにリートベルト解析を適用することにより、標準試料を 必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、結晶子サイズ、 均一ひずみの定量が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■標準試料を必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、 結晶子サイズ、均一ひずみの定量が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
質量分析計には、磁場型・四重極型・飛行時間型などの種類があり、分析の目的に応じて使い分けます！
二次イオン質量分析(SIMS)は、ppbレベルの極微量不純物元素を 同定・定量できる非常に高感度な分析手法です。 スパッタリングしながら測定するため、膜中の不純物の深さ方向分布を 得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■磁場型SIMS：高感度が要求される不純物の評価に用いる ■四重極型SIMS：深さ方向分解能が要求される評価や、絶縁膜を含む 多層膜の評価に用いる ■飛行時間型SIMS：極表面にある極微量物質の分子構造レベルの評価、 表面の有機物などの汚染状態や微小異物の評価に用いる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出！
酸化膜の形成プロセスにおいて、酸化膜厚の制御は非常に重要な項目の1つです。 そこで、光電子分光を用いて表面酸化膜の膜厚を非破壊で見積りました。 表面が薄い酸化膜で覆われているような試料の場合、多くの元素の光電子ピークは 酸化物成分と基板成分に対応して2つのピーク構造を示します。各成分のスペクトル 強度を測定することによって酸化膜の膜厚を見積ることができます。 非破壊にて膜厚を求める分析手法はいくつかありますが、他の手法に比べ、 特定箇所の膜厚の見積りが可能であるところが、この手法の特長です。 ※記事の詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立！
ウェーハベベル部の成分評価は一般的にTEMやTOF-SIMSで行われていますが、 これらの手法はいずれも感度や定量に制限があり、微量の成分評価は困難と されてきました。 今回、新たに開発した専用治具を用いることで、感度・定量に特化したSIMS (D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立しました。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【技術概要】 ■傾けた不安定な状態の試料の位置ずれ、検出安定性の低下を 防止するために専用治具で固定 ■測定位置を高精度かつ自由度高く選択することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能！
当社で行う「X線反射率測定(XRR)による薄膜評価」についてご紹介いたします。 X線反射率測定(XRR)は、臨海全反射各近傍でのX線の減衰や干渉縞のある X線プロファイルと計算で得られたプロファイルをフィッティングさせることで、 表面(界面)粗さ・膜密度・膜厚の情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【解析可能な薄膜】 ■試料表面：鏡面(表面粗さ 5nm以下) ■試料サイズ：30mm×30mm以上 ※サイズが小さい場合はご相談 ■膜厚：2nm～500nm ■必要な情報：膜構造および膜組成情報 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調査！
当社で行う「半導体の表面・薄膜解析」についてご紹介いたします。 半導体デバイスのプロセス開発・工程管理・不良解析において、材料評価・ 故障モードの特定に有効な分析をご提案。 表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調べ、研究開発 および製造プロセス・不良解析に役立つ情報をご提供します。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【最表面】 ■組成：XPS ■結合状態：XPS ■汚染：TOF-SIMS・ICP-MS ■ラフネス：AFM・SEM ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
金属との接合状態や樹脂材料成分の分散状態を明確に観察可能！
当社で行う「金属表面のコーティング膜解析」についてご紹介します。 金属表面に腐食防止などを目的に形成されたコーティング膜(樹脂や セラミックス)を評価する際には、イオンミリングによる断面加工を施す ことで、金属との接合状態や樹脂材料成分の分散状態を明確に観察可能。 イオンミリングは、SEMなどの断面観察用の試料作製に用います。Arイオンを 試料の加工該当部に照射し、そのスパッタ効果を用いて加工します。 【イオンミリング加工のメリット】 ■介在物を脱粒させずに、そのままの状態で確認できる ■空隙が確認された場合は、脱粒によるものではないことが特定できる ■元素分布確認(EDS分析)にて、白色樹脂内の粒子、金属との界面、 金属表面のメッキ層の積層が明確に確認可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
検出深さが大きくなり、より深い領域の評価が可能になります！
当社で行う「放射光HAXPESによる埋もれた界面の評価」について ご紹介します。 X線光電子分光(XPS)は、表面の組成・状態分析が可能であり、 表面分析では不可欠な手法。 ラボ型XPS(Al Kα：1.5keV)では、3nm程度の極表面の評価に限られますが、 外部施設を利用した硬X線光電子分光(HAXPES)：8keVにより、多層構造や 実デバイスに近いスタック構造の埋もれた界面など、より深い領域の評価が 可能となります。 【特長】 ■通常のXPSに比べて検出深さが大きい ■深いエネルギー準位からの光電子を測定 ■同時に発生するオージェ電子などの重なりがなくなるため、状態分析が容易 ■第三世代の放射光施設(SPring-8)を高輝度X線源として利用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
部品内部へ溜まった水分が熱ストレスにより気化！体積膨張する事により応力が発生
「表面実装部品のはんだ耐熱性試験」では、表面実装部品の防湿梱包から リフローまでをシミュレートし、熱ストレス耐性を評価します。 試験で発生した不良事例では、部品内部へ溜まった水分が熱ストレスにより 気化し、体積膨張する事により応力が発生。発生した応力により界面で剥離、 クラックなどの異常が発生します。 これらの異常は外観から確認する事が困難なため、超音波顕微鏡を用いて 内部の密着状態を検査します。 【試験フロー】 ■初期状態を確認 ■恒温槽で水分を排湿 ■恒温恒湿槽で水分を吸湿 ■リフロー装置で熱ストレスをかける ■試験後状態確認 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
必要に応じて樹脂通液後のフィルターを分析！お客様にとって好適な運用をサポート
当社では、拡大観察、元素分析を含む様々な分析サービスを行っております。 フィルターの使用において異常が確認された場合等は「解体調査」、 洗浄時にフィルターに特殊な異物が確認された場合等は異物の 「元素分析サービス」をご要望に応じて承っております。 また、当社が保有する研究施設にある粘度測定器を用いて、 一定の温度下での粘度を測定することも可能です。 【サービス内容】 ■解体調査 ■元素分析 ■粘度測定 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
射出成形可能な制振エラストマー！粘着テープ不要で異樹脂接着！
テファブロック(TM) ADは高い制振性をもつ 熱可塑性エラストマーです。（反発弾性1桁台） 制振性はもちろん、射出成形性に加え、 様々な樹脂や金属との熱融着が可能です。 制振性が求められる周波数に応じて材料提案をいたします。 使い方をはじめご不明点ありましたら、 小さなことでも遠慮なくお問い合わせください。 【特徴】 ■幅広い周波数での制振性 ■様々な材料への接着性 （PP、PE、PC、ABS、PA、金属） ■端材リサイクル可能 ■粘着テープ不要 ■射出成形性 ■形状追従性 ■音響減衰 ■衝撃吸収 ■低反発 ■軽量
国連規則、国際標準規格、その他自動車に関する指針を考慮した独自の分析観点！
当社では、自動車セキュリティの豊富な実績に基づく独自の観点での 仕様策定・分析サービスを行っております。 セキュリティ仕様書や設計書の内容について資料を分析し、開発担当者様へ ヒアリングを行ったうえで、製品のセキュリティを確保するために考慮が不足している 観点の洗い出しや、より良い設計方法について提言を行います。 製品の開発前にセキュリティの問題点を洗い出すことで、 セキュリティ設計の不備による手戻りや修正コストを削減可能です。 【サービスの特長】 ■自動車セキュリティに精通した専門家 ■国連規則、国際標準規格、その他自動車に関する指針を考慮した独自の分析観点 ■自動車と連携するシステムと合わせた包括的な分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
