評価 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日：2025年07月30日集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
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評価のメーカー・企業ランキング

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ユーロフィンFQL株式会社神奈川県/サービス業
株式会社トリーエンジニアリング兵庫県/産業用機械
株式会社ロンビック三重県/樹脂・プラスチック
4 株式会社BREXA Technology（旧社名：アウトソーシングテクノロジー）東京都/その他
4 株式会社アイテス滋賀県/電子部品・半導体

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評価の製品ランキング

更新日：2025年07月30日集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
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パワーサイクル試験｜パワーモジュール・パワーデバイスの信頼性評価ユーロフィンFQL株式会社
3分でわかる！【デバイス開発】の基礎知識｜半導体設計・評価株式会社BREXA Technology（旧社名：アウトソーシングテクノロジー）
【口コミ・レビュー】レトルトパウチ食品製造メーカー様からのご評価株式会社トリーエンジニアリング
4 【口コミ・レビュー】食品メーカー様からのご評価株式会社トリーエンジニアリング
5 樹脂、プラスチック材料　物性測定・評価株式会社ロンビック

評価の製品一覧

121～135 件を表示／全 291 件

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安全評価、認証取得サービス（EMC試験）

展示会にて無料コンサルティングを実施！ヨーロッパ、北米に向けてのEMC試験（製品安全評価、認証取得）ならお任せ下さい！

～EMC・ノイズ対策技術展（テクノフロンティア）に出展します～会期：7/23(水)～25日（金）会場：東京ビッグサイト小間番号 2D-210 【展示会当日のイベント】 ★EMCエンジニアが常駐し、20分の無料コンサルティングを行います！（要事前予約）★ ・期間中、ブースにてご商談・ご成約頂いたお客様に特別お試し価格でご案内！・期間中、ブースにてご商談のお客様へ、抽選でQUOカードをプレゼント！（後日発送） ○見どころ： CEマーキング、SEMI、KC/KCsなど、製品安全認証サポートサービスを提供皆様のご来場を心よりお待ちしております。【サービスの一例】 ■CEマーキング適合評価サービス →EU圏に輸出する際にCEマーキングの適合を宣言 →機械指令（MD）、低電圧指令（LVD）、防爆指令（ATEX）、圧力機器指令（PED）、EMC指令（EMC）適合評価 ■フィールドラベリング（北米の産業機器に対する規制） →米国NRTL登録されているQPS社と業務提携。可能な場合は出荷前にフィールドラベリングを貼ることも可能 ☆急なEMC試験にも極力対応させていただきます！

企業：株式会社キューセス
価格：応相談

EMC試験
公共試験/研究所

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熱可塑性プラスチック/プラスチック系複合材料の衝撃試験法・評価

★複合系・透明プラスチックの衝撃性の評価方法をじっくり学べる ★自動車部品において最も重要な耐衝撃性をいかに正確に評価するか?

講　師拓殖大学工学部機械システム工学科　教授笠野英秋　氏 (日本複合材料学会理事・フェロー、強化プラスチック協会理事　米国スタンフォード大学・ペンシルバニア州立大学客員研究員をご歴任) 対　象　プラスチックの評価特性に関心のある技術者・研究者・担当部門の方など会　場　東京中央区立産業会館 4F　第2集会室【東京・中央区】都営浅草線・東日本橋駅より徒歩4分日　時平成23年6月30日(水)　13:00-16:15 定　員 30名　※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。聴講料　1社2名まで49,350円(税込、テキスト費用を含む)　⇒　◆請求書2名分に2分割可能です(備考欄に希望の旨、ご記入ください) ※6月16日までに初めてお申込いただいた新規会員登録者は早期割引価格⇒44,100円 ◆同一法人より3名でのお申し込みの場合、61,950円

企業：株式会社AndTech
価格：1万円 ~ 10万円

技術セミナー

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エレクトロニクス･半導体業界向け硬さ･弾性率･粘弾性評価

セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーション試験

エレクトロニクス･半導体産業では製品開発のためにナノインデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。ナノインデンテーション試験では数百ナノ～数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。測定例 -スマートフォン等のディスプレイ用有機材料・ポリマーフィルム (絶縁体・光ファイバー・半導体) -磁気記憶媒体 (ハードディスクドライバー) -太陽光発電バックシート -プリント基板のSi3N4及び高誘電率セラミック層 -サファイヤコーティングゴリラガラスアントンパール社製ナノインデンテーションテスタは、特許取得済みの独自のアクティブ表面リファレンスシステムにより、熱ドリフト及びコンプライアンスの影響が実質的に排除されます。したがって、ポリマーや非常に薄い膜、軟組織などを含むあらゆる種類の材料を長時間測定するのに最適です。

企業：株式会社アントンパール・ジャパン
価格：1000万円 ~ 5000万円

半導体検査/試験装置

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ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が逃さず観察します。【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有無の判定 ■外観観察にてウィスカが検出されたらデジタルマイクロスコープで　観察・測長 ■より詳細に観察、分析を行いたい場合は、表面SEM/EDX分析を実行 ■必要に応じて、断面観察（SEM）や結晶方位解析（EBSD）などの観察、　解析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

解析サービス
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超微⼩硬度計による材料評価

経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定

当社の「超微⼩硬度計による材料評価」では、⾦属・⾼分⼦・プラスチック・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定を行えます。また、硬さを数値化できるため、経年の品質管理にも役⽴ちます。圧⼦に荷重をかけている状態で、くぼみの押し込み深さを直読し、硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。【装置概要】 ■試験⼒レンジ0.4mN～1000mN 精度±0.02mN ■押し込みレンジ1nm（0.01μm）～700μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

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色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価

透明度、色彩を数値データ化！透過率、黄変度を客観的に評価します！

色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価についてご紹介します。製品構成素材を、透明、色彩豊かにすることで、製品用途に必要な機能特性や芸術性、意匠性などが付与されますが、使用される環境により黄変（変色）し、それらの特性が損なわれることがあります。透明度、色彩を人の目の感覚ではなく、数値データ化することで、客観的な評価が可能となります。【概要】 ■色差測定原理と取得データ（XYZ Yxy表色系）・光源から放出される光が透明試料を通過し、積分球ボックス内で、　透過した波長（透過率）と変換された表色系データを取得 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

その他受託サービス

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素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価

素材分子構造変化をIR分析にて検証した事例をご紹介！多種多様なサンプルの設置も工夫してご対応

製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様なサンプルの設置も工夫してご対応。当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■サンプル設置の工夫 ■化学分析による試験前後の比較評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

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WPAによる製品／素材の歪、複屈折評価

素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握できます！

製品を構成する材料は様々ですが、製造成形プロセスにおいて内部応力が大きく、または偏って存在すると、使用中、使用環境により変形、割れ（クラック）、特性低下などの不具合を招きます。『WPA（広範囲偏光分析）』により、素材の配向、歪、複屈折を評価することで、内部応力、歪状態を把握することが可能となります。お気軽に、ご相談ください。【特長】 ■内部応力、歪状態を把握することが可能 ■材料の歪、複屈折の評価を分子の視点で解明 ■複数の手法でマトリックスに解析し、不具合、理論を解明　・ラマン分光（定性/歪/結晶性）、XRD（X線回折）、AFM/SEM/TEM 　（結晶構造観察）、DSC（結晶化度）など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

受託解析
その他受託サービス

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プリント基板の各種評価

プリント基板の品質の確認、検証に。

各種電子機器等に使用する基板(リジッド基板・FPC)について、株式会社クオルテックで培った技術を駆使し信頼度の高い評価を行い、基板品質の確認／検証を行います。【表面処理の品質検査】 ■はんだ付けパッド評価　・はんだ濡れ性　・はんだ付け性　・めっき厚測定　・ソフトエッチング耐食性　・粒界腐食観察【基板の仕上がり品質検査】 ■スルーホール評価、信頼性評価　・スルーホール初期評価　・スルーホール導通信頼性評価　・絶縁信頼性評価 ※詳細に関しましては下記までお問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。

企業：株式会社クオルテック
価格：応相談

その他検査機器・装置

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ウィスカ・マイグレーション検査／プリント基板の品質評価

開発スピードアップに貢献！各種分析装置も取り揃えております！

「手間暇のかかる作業に時間を取られる」「検査や評価の精度に疑問を持っている」などのお悩みはござませんか？クオルテックにお任せ下さい。開発スピードアップに貢献します。観察・分析装置は、実体顕微鏡・デジタルマイクロスコープ・蛍光顕微鏡を保有。この他、レーザー顕微鏡、3D測定マクロスコープ、AFM、FE-SEM、 EDX、FT-IR GC-MS、XRF等、各種分析装置も取り揃えております。また、プリント基板のスルーホール耐性評価では、ホットオイル試験により熱衝撃を加え、試験前後のスルーホール導通抵抗測定や断面観察によるスルーホールめっきのクラック発生有無の確認、内層剥離有無の確認などの検査を行います。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。【このようなお悩みを解決】 ■手間暇のかかる作業に時間を取られる ■検査や評価の精度に疑問を持っている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社クオルテック
価格：応相談

受託検査

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SEM装置での歪み評価

EBSD：電子後方散乱回折法

TEM（NBD：Nano Beam Diffraction）のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

受託解析

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【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第25回インターフェックスジャパンでデータ展示★

液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM分析（クライオSEM分析）を行って評価が可能です。

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

受託解析

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半導体のイオン化ポテンシャル評価

UPS：紫外光電子分光法

半導体では、価電子帯立ち上がり位置(VBM)と高束縛エネルギー側の立上り位置(Ek(min))より、イオン化ポテンシャルを求めることが可能です。表面有機汚染除去程度のArイオンスパッタクリーニング後に測定を行っています。 ■価電子帯立ち上がり位置(VBM)の決定価電子帯頂点近傍のスペクトルを直線で外挿し、バックグラウンドとの交点を求めます。 ■イオン化ポテンシャルの算出イオン化ポテンシャル（I.P.）＝ hν-W hν：照射紫外線のエネルギー(He I線21.22eV) W：スペクトルのエネルギー幅（Ek(min) - VBM）

企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
価格：応相談

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ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

XPS分析ではX線照射により得られた光電子のエネルギーを観測することにより、物質表面の結合状態評価を行います。金属元素が酸化状態にあるかどうかの評価はもちろん、酸化によるエネルギーシフト（ケミカルシフト）が大きい元素では、複数の価数の存在、及び存在割合についての評価も可能となります。以下に、複数価数評価可能な主な金属元素と酸化物を示します。