更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
136～150 件を表示 ／ 全 291 件
SIMS：二次イオン質量分析法
SIMSによる半導体素材SiGeの不純物の定量・組成評価では、分析時に下記を考慮する必要があります。 ●Ge濃度に応じた適切な定量補正を行わないと不純物定量値は本来の値に比べて50%以上異なることがある。定量評価を行うためには各組成に応じた標準試料が必要。 ●SiとSiGeではスパッタリングレートが異なる事が知られている。組成が深さごとに異なる試料においては、深さごとにスパッタリングレートが変化する。 MSTでは、標準試料の整備により高精度な組成分析が可能です。また、検量線を用いることでSiGe各組成における不純物分析およびスパッタリングレート補正が可能です。
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
ＷＡ（ウエハアナライザー）は、φ76～300mmのウエハを昇温加熱することにより、ウエハ表面に付着している有機汚染物質をガス化させ捕集管にトラップする装置です。そのため、デバイス特性への影響や製造上のトラブルの原因とされるフタル酸エステル系化合物や環状シロキサン化合物などを濃縮し、GC/MSで高感度に測定できます。またヘキサデカンによる換算定量も可能です。 ・ウエハ片面の有機汚染物質の評価が可能 ・真空引きが不要なため、揮発しやすい成分も検出可能 ・有機成分を高感度に検出可能(300mmウエハの場合0.01ng/cm2オーダー) ・ヘキサデカン換算による定量が可能
ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法
ICP-MSを用いたSiウエハ表面の金属汚染評価の目的には、Siウエハ自体の汚染評価以外にも、半導体装置内の汚染評価、Siウエハ暴露による作業環境場の評価などもあり、Siウエハ表面の分析は様々な目的で行われます。ICP-MS分析ではSiウエハ表面の金属汚染量を高感度に取得でき、さらに目的に応じて評価領域を指定することも可能です。
CellPet FTを用いたがんオルガノイドの抗がん剤評価についてご紹介！【技術資料無料進呈】
当資料は、スフェロイド小片化・分散装置「CellPet FT」を用いた "F-PDOの小片化/抗がん剤評価"について掲載している技術資料です。 70μmのメッシュフィルターを使用し、処理直後から培養3日、9日、 13日の様子を写真を用いてご紹介しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自動培養装置「MakCell」は、手培養と比較して温度環境の変化が少ない！【技術資料無料進呈】
卓上型自動細胞培養装置「MakCell」と手培養の比較評価についてご紹介します。 手培養と比べ、MakCellでの培養は、 得られた細胞数の増加が確認できました。 細胞の形態については、特に変わった様子は確認できず、 浮遊する細胞についてはMakCellのみならず手培養ともに確認できました。 ～限定情報～ 現在庫2台（2023年3月時点）に限り、 定価 13,700,000円（税抜）が、2023年6月末までの納入で 約28.5％値引きの定価9,800,000円（税抜）で販売致します！ ［搬入調整費 別途 300,000円（税抜）］ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状態を把握できます。他の表面加工の解析にもご活用ください
グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では、本事例以外でもめっき関連の分析実績は多数あります。 また、本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各種表面分析を行っております。 何かございましたらお気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
予兆保全及び設備管理業務の効果測定、品質改善を検討するお客様へお勧めの技術提案！ 大規模データや機械学習も活用！！
予兆保全を行うにあたり必ず問題となる閾値の検討や、予兆保全を検討、実施していく上でどのような指標を元にすれば良いかを弊社の導入実績、経験から説明した資料となります。 また、設備保全と併せて検討を頂く上で近年多くお問い合わせを頂く品質関連との因果関係分析にも焦点を当てて説明をしております。 IoTや予兆保全のシステム構築を行う際には最初から100点満点のシステムを導入するのではなく60点、70点程度の完成度から徐々にシステムの改善を行い、目指す姿へと変えていく事が必要です。 本資料ではそのエッセンスの一部を紹介しております。
『無料サンプル』進呈中！【PDFダウンロード】ボタンからお申し込み方法をご確認いただくか、関連リンクから直接お申し込みください。
急速なデジタル化により、分散型・局所型のセンシング電子機器への需要が高まっていること、また、医療や工業など、さまざまな業界において継続的な遠隔モニタリングを実施できることなどの要因が同市場の主な促進要因です。集中型コンピューティングシステムの負担軽減と、単一システムへの非依存による信頼性の向上も今後の採用を促進すると考えられています。 本レポートでは、スマートセンサー技術が産業オートメーションプロセスに与える影響を調査し、スマートセンサーの重要性、各種コンフィギュレーション、市場への影響因子および市場機会の分析、技術の開発および採用に影響を与える要因、スマートセンサーの進歩を促進する主要イノベーターと主要技術、産業オートメーション分野における主な成長機会などをまとめています。
単位作業場を縦横等間隔に区切って行うA測定や気中濃度のB測定など！技術情報のご紹介
作業環境測定の評価についてご紹介いたします。 A測定とは、気中有害物質の濃度の平均的な状態を把握するために、単位作業場を 縦横等間隔に区切って行う測定です。 B測定とは、A測定を補うための測定で、作業者の曝露量が最大と考えられる場所と 時間における気中濃度の測定です。 【概要】 ■A測定：気中有害物質の濃度の平均的な状態を把握するために、単位作業場を 縦横等間隔に区切って行う測定 ■B測定：A測定を補うための測定で、作業者の曝露量が最大と考えられる場所と 時間における気中濃度の測定 ■第1評価値：単位作業場内の5%がこの濃度を超えている ■第2評価値：算術平均値 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各種解析による性能評価、サスペンション制作、軽量・高剛性な部品の製作、車体・フレーム性能評価などを受託しております
CAE による強度解析を行います。強度、運動、流体の解析を行います。ホイールインモーター等の特殊なサスペンションの製作もいたします。 簡易な治具を製作し、溶接構造部品を短納期で製作、溶接後の熱処理や機械加工を前提とした、高精度な部品の製作も承ります。 高張力鋼、チタン、コンポジット素材を用いた、軽量な部品を製作します。オリジナルフレームの製作や、改造フレームをご要望の予算、性能にて製作いたします。
プレス成形シミュレーションを最適化し、初期段階でのスプリングバックの分析で、製品およびダイフェースの開発を素早く修正可能。
通常、プレス成形シミュレーションの最終工程で行っているスプリングバック見込み補正を早期段階の工程で修正することにより、金型の加工後よりより容易かつ安価に行うことが可能となります。 【掲載内容】 ・より正確な材料情報を適用したシミュレーション ・スプリングバックの測定に有効なメッシュおよびコントロール・パラメータ ・生産計画を再現した部品のシミュレーション ・安全な「グリーン」のシミュレーションの構築 ・スプリングバックの解析と測定の設定に関する諸注意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様が特許所有の全体的な価値を把握することを支援します
大半の企業では知的財産（IP）を保護することの価値が理解されており、必要な特許保護を適用することに熱心です。しかし、大抵の場合、特許保護の最大限の潜在能力は決して実現されていません。その主な理由は、時間・リソース・ポートフォリオ構造の欠如、もしくはビジネス目的と戦略が一致していないことです。 【特許ポートフォリオの全体的な価値と把握】 [お客様が特許所有の全体的な価値を把握することを支援] ○特許ポートフォリオをお客様のビジネスのニーズに一致させる ○ライセンス供与または売却には余剰な特許を特定することで 不要な特許を維持するコストを削減 ○コア技術を競合他社から保護するために「価値の高い資産」に 関連する特許を強化 ○買収または戦略的提携の機会を特定 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
最短半日見積り／10/23 開催「ヘルスケア・医療機器 開発展（MEDIX）」へ出展致します。
弊社は、精密加工部品を扱うファブレスメーカーです。 ものづくりに於いて欠かせない、3つの分野の事業を展開しており、 培ってきたネットワークと情報力でお客様のものづくりをアシストします。 ◎ 精密機械加工部品の調達 ◎ 加工部品や開発品の計測と評価 ◎ 機械装置や専用治具の設計・製作 調達に於ける独自の「ビジネスモデル」や 幅広い「加工技術」と「検査設備」が お役に立つかもしれません。 「展示会」医療機器・ヘルスケア 開発展（MEDIX）へも 出展しますので、是非とも実際にご覧いただき 弊社を知っていただければと思います。 「会社案内」は下部のカタログダウンロードよりご覧いただけます。 金属～樹脂までOK！試作・開発部品の切削加工はお任せください。 ご不明な点はお気軽にお問い合せくださいませ。 ※画像は「東京・機械要素技術展」へ出展した際のブースです。
対象物表面の歪を測定・評価する「面歪スキャニングセンサ」についての技術資料
八光オートメーション株式会社の「面歪スキャニングセンサ STRIPER」は、ストライプパターンの変化量(変位)から曲率を算出し、対象物表面の歪を測定／評価します。 "変位”ではなく、なぜ"曲率”なのでしょうか？ 数μmの微小歪を"変位”で評価しようとすると、測定対象面の変位の中に 埋もれてしまうため、歪部分の区別・抽出が困難です。 微小歪を"曲率”で評価すると、測定対称面の緩やかな変化・傾きは 曲率半径が大きく曲率はほぼ“0”になるのに対し、歪み部分は曲率半径が 小さいため、曲率が大きく変化し区別が容易となります。 【掲載内容】 ■曲率とは？ ■メリット 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
