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様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です
SIMS分析で不純物濃度を求めるためには、分析試料と同じ組成の標準試料を使うことが必要です。紫外LEDやパワーデバイスに使われているAlGaNについて、様々なAl組成のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。 市販深紫外LEDを解体後、SIMS分析を行い、ドーパントのMgの濃度、及び主成分のAl組成の分布を求めた事例を紹介いたします。 測定法：SIMS 製品分野：照明・パワーデバイス・光デバイス 分析目的：微量濃度評価・不純物評価・分布評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
GC/TOFMSにより液晶ディスプレイ中液晶分子の構造推定が可能です。
液晶パネルの応答速度、駆動電圧、コントラストの信頼性特性は、液晶分子構造などに起因します。そのため、分子構造の詳細を解析することは、液晶パネルの表示特性を制御するのに不可欠です。ここでは、市販品のパネル中の液体成分を抽出し、GC/TOFMSで構造推定した事例を紹介します。負の誘電異方性を示す液晶材料など約10種の成分を精密質量情報から推定しました。 測定法：GC/MS 製品分野：ディスプレイ、テレビ、プロジェクター 分析目的：市販品調査、分子構造評価、劣化調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
洗浄効果評価や汚染物質の同定が出来ます
ポンプやエンジン等の機械部品をオーバーホールする際、部品を洗浄して再利用する場合があります。 その際、洗浄によって汚れが十分に取り除けていない場合、組み立て後の機械で不具合が生じる危険性があります。汚れの付着有無を調べたり、付着している成分が何かを調べるには、加熱脱着GC/MS（TD-GC/MS）が有効です。試料を高温（上限350℃）で加熱することで、付着している有機物を揮発させGC/MSで測定することができます。付着している成分の同定や洗浄前後での付着量の比較、また洗浄方法の違いによる洗浄度合いの比較をするのに有効です。 測定法：GC/MS 製品分野：製造装置・部品 分析目的：組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
LDI-MSとMALDI-MSの違いについて
LDI（レーザー脱離イオン化法）とは、紫外レーザーのエネルギーのみを利用して分子を昇華・イオン化させる方法です。一方のMALDI(マトリックス支援レーザー脱離イオン化法)はマトリックスと混合した試料に紫外レーザーを当てることで分子を昇華・イオン化させる方法です。
TOF-SIMSでは無機材料の変色原因のイメージングが可能
セラミックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。不純物や付着物により生じるセラミックスの変色評価には、着目箇所について有機物・無機物を問わず微量成分のイメージング分析が可能なTOF-SIMS分析が有効です。 本資料ではAl酸化物のセラミックス変色部分をTOF-SIMSで分析し、イオンイメージとラインプロファイルで変色原因を示した事例を紹介します。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：製造装置・部品 分析目的：組成分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能
セラミックスは日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。その表面状態は日用品や電子部品などの材料の性質・性能に大きく影響しています。そのため、セラミックスの機能を判断するうえで、表面状態を適切に評価することは重要です。 本資料ではZr酸化物からなるセラミックス表面のぬれ性に寄与する洗浄成分について、表面分布および深さ方向分布をTOF-SIMSで評価した事例を紹介します。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：製造装置・部品 分析目的：定性・分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
再現性の高い不純物量評価が可能です
半導体デバイスの製造において、ドーパント等の不純物の制御は重要な工程となります。 イオン注入に着目した場合、僅かな差が品質や性能に影響を及ぼすため、正確な制御が必要となります。SIMS分析の高い再現性は、それらの開発・維持管理に最適です。
フッ素系グリース、フッ素系潤滑剤、フッ素系オイル等の構造解析
フッ素系の高分子材料は化学的安定かつ様々な特性をもち、産業機械や半導体、エレクトロニクス分野で幅広く使用されています。LDI-MS（レーザー脱離イオン化質量分析法）は分子量数千程度のフッ素系ポリマーを分子のままイオン化できる分析手法であり、フッ素系ポリマーの繰り返し単位と分子量を把握し、末端基組成や構造を推定することが可能です。本資料では、潤滑剤や熱媒体などの基油として使用されるパーフルオロポリエーテル（PFPE）を構造解析した事例を紹介します。 測定法：MALDI-MS 製品分野：高分子材料 分析目的：組成評価・同定、化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。
精密機器や真空装置、半導体製造装置においては、用いられる部材の汚染により製品の品質や装置の安定稼働に悪影響を及ぼすことがあります。本事例では種類の異なる使い捨て手袋でガラス部材を扱い、ガラス部材に付着した有機汚染を発生ガス濃縮装置を用いたGC/MS分析によって分析しました。部材の汚染を評価することで、不具合の原因となる部材の特定や部材汚染の原因の除去、部材変更の検討などに役立てることができます。
成分および深さ方向分布評価が可能
ペロブスカイト太陽電池は、フィルム状で優れた変換効率を有し、低コストで製造できることから、実用化に向けた研究開発が盛んに行われています。 HTM層（ホール輸送層）の成分分析や主成分、ドーパント、不純物の深さ方向分布評価には、TOFSIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）が有効です。本資料では、HTM層からペロブスカイト層までの深さ方向分析を実施した事例を紹介します。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：太陽電池 分析目的：同定、分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
![[O-PTIR]PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/899/2001512496/IPROS16568394973420817436.jpg?w=280&h=280)
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。
? O-PTIRは以下の特徴があります。 ? 空間分解能（最大空間分解能：1μm以下）での評価が可能なため微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 ? 薄片化不要（異物試料等、薄片化が困難な試料に有効） ? 基本的には非破壊での測定が可能 ? FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能
目的成分やイメージ ング視野の大きさなどに応じて、両手法を使い分けることが有効です
代表的な固体試料表面の質量分析法であるTOF-SIMSとMALDI-MSでは、ともに定性分析やイメージン グ分析が可能です。ハードイオン化法を利用するTOF-SIMSでは、質量が数百までの無機・有機成分を 高感度に検出できます。一方、ソフトイオン化法を利用するMALDI-MSでは、数千～数万の高分子を検 出できます。また、照射ビームの径に依存してイメージの空間分解能も異なります。
有機成分および活物質表面の分布評価、定性分析
リチウムイオン二次電池の正極表面における成分の偏析や被膜の形成は、電気容量に影響する一因と なります。正極として用いられるLi（NiCoMn)O2（NCM）について、AESによる微小領域マッピングおよびXPS、TOF-SIMSによる有機成分（バインダー）や活物質表面被膜の定性分析を行った事例を紹介いたします。これらの手法では、測定までの一連の処理をAr雰囲気下で行い、試料の変質を抑えた分析が可能です。
官能基の変化を捉えることでUV硬化樹脂の硬化度を評価可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤 として利用されています。FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、UV硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）の硬化度を評価した事例をご紹介します。 接着剤における紫外線照射時間の検討や、製品に剥離が発生した際の硬化状態の評価に有効です。
最大70×70mm領域の組成分布評価が可能です
XPSによる広域定量マッピングの事例を紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価しました。ピーク強度ではなく存在量（原子濃度）をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受けにくく、且つ広域でのデータ取得が可能です。 試料表面の組成分布を俯瞰的に評価できるため、有機系・無機系の汚染、変色、表面処理等の調査に 適しています。
重量分析
木質バイオマスの主成分は、セルロース、ヘミセルロース、リグニンから構成されており、その構成割合は元となる植物種によって異なります。これら3種の成分の構成割合は、試料にKlason法やWise法などの特定の化学処理を施し、その重量を量ることで評価できます。MSTでは以下の分析フローにしたがい、木質バイオマス中の主成分割合を算出します。
微小特定箇所の無機成分・有機成分を同時に測定
TOF-SIMSには有機物、無機物の同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できるなどの特徴がありますので、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Siウェハ上で純水を乾燥した事例を紹介します。光学顕微鏡では点状の異物や曇りがわずかに見えるだけです。TOF-SIMSで測定した結果、汚れ部では、炭化水素、PDMS、アミドなど自然に吸着しやすい有機成分が凝集していることがわかりました。
引張応力ごとの三次元構造変化を評価可能
in situ X線CT測定では、試料に負荷（引っ張りもしくは圧縮）を印加した状態で内部構造分析を行うことが可能です。本資料では、アルミニウム板を試料として、通常状態と引き伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施しました。そして、試料にかかる引張応力を計算し、各応力条件ごとの内部構造変化をモニターしました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下 での評価や応力による製品への影響の評価が可能です。
31P核を用いてリンを含む有機化合物の濃度を算出することが可能！
弊団では、NMR(核磁気共鳴分析)を承っております。 NMRは核スピンを直接観測していることから、測定で得られる測定核種の ピークの面積(：積分値)は、測定対象の溶液あるいは固体に含まれる 核種の数および濃度に比例。 この原理からNMRでは検量線を必要としない定量分析が可能。 例えば、31P核のピークの積分値を用いて関係式に従い、二種類の 混合試料の一方の既知の濃度から他方の濃度を求めることが可能です。 【測定法・加工法】 ■[NMR]核磁気共鳴分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能！触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に好適
弊団では、in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価を 承っております。 試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、 試料の化学結合状態・局所原子構造が評価可能。そのため、触媒等、 特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。 in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで 昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例では、スペクトルの形状から、 100℃～200℃の間でRuO2がRuに還元されることが確認されました。 【測定法・加工法】 ■[XAFS]X線吸収微細構造 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
毛髪のキューティクルにおける成分分布の評価が可能です！
弊団では、キューティクルの成分分布評価を承っております。 キューティクルの評価はその微細さから電子顕微鏡での構造観察にとどまっており、 詳細な成分分布は不明瞭でした。 無機物・有機物についてサブミクロンオーダーの分布を評価できるTOF-SIMSを用いることで、 キューティクル中の多彩な成分の分布を評価することが可能です。 本事例では毛髪を評価し、キューティクル中の成分分布を可視化した 結果を紹介いたします。 【測定法・加工法】 ■[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
熱分解GC/MSでポリカーボネートの末端基、製造法の区別が可能！
弊団では、ポリカーボネートの末端基構造解析を承っております。 ポリカーボネートは、耐衝撃性、耐熱性に優れたエンジニアリング プラスチックであり、電気・電子・光学機器の材料として広く使用。 その製造法には主に2種類の方法があり、ポリマーの物性に影響を与える 末端基構造は、製造法によって異なります。ポリマーの末端基部分は 主鎖に比べて微量であるため、その構造解析が可能な分析手法は限られます。 ここでは、熱分解GC/MSを用いてポリカーボネートの末端基構造を 評価した事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
マウス精巣中脂質のイメージング！TOF-SIMSとMALDI-MSで測定した事例を紹介
弊団では、脂質のイメージングを行っております。 TOF-SIMSでは低質量成分を得意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。 一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の 種類が豊富です。 ここではマウス精巣中における脂質のイメージング質量分析の結果を例に、 TOF-SIMSとMALDI-MSで測定した事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 ■[MALDI-MS]マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
研究開発・品質管理に使える高感度な成分分析
TOF-SIMS分析（飛行時間型二次イオン質量分析法）は、試料表面の成分分析を行う手法です。 最表面に存在する有機物・無機物の同定に適しており、イメージング測定によって成分の面内分布を視覚的に把握することができます。 特に異物や変色・洗浄残渣など不良原因の特定に有効です。 さらに、掘りながら測定することで、深さ方向の分布も確認可能です。
不純物元素の定量評価及び膜厚評価が可能です
ダイヤモンドは高絶縁破壊電界など優れた物性を有するため、次世代のパワーデバイスや 量子デバイス材料として期待されています。ダイヤモンドへ不純物元素をドープすることにより 高性能な半導体として機能します。ドープした元素の濃度分布を把握するには、 ppb～ppmオーダーの不純物を高感度で検出可能なSIMS分析が有効です。 あわせて不純物の濃度分布から各層の膜厚評価も可能です。 MSTでは、ダイヤモンド標準試料を取り揃えており、30種類以上の元素について定量することができます。
再生紙メーカーの排水処理プラントにおける、TOC計の更新の事例をご紹介
ドイツの再生紙メーカーSteinbeis papier社は、長年にわたり高温燃焼酸化 方式のTOC計を利用してきましたが、既設のTOC計の測定範囲では不十分な ケースが多く、機器の老朽化に伴う交換が必要であると考えられていました。 そこで、更新を機に下水処理場の入口と出口のTOC含有量を測定するTOC オンライン分析装置を新たに導入することにしました。 廃水処理プラントの入口に当社のオンラインTOC計を設置することで、浄水 沈殿処理プロセスの制御を自動化。また、プロセス制御システムは、流量、 アンモニア濃度、TOC値に基づいて、尿素とリン酸の投与量をリアルタイムで 管理し好適な栄養比率を確保しました。 【概要】 ■企業：Steinbeis papier社 ■導入製品：B7000i TOC分析装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
汚染された廃水の放出を制御！メンテナンスの最小化を実現した分析装置！
空港では、厳しい環境規制を満たすために、雨水の正確で信頼性の高い 汚染負荷測定が必要です。 「BioTector TOC分析装置」は、油流出、航空燃料やエンジン燃料の燃焼、 航空機や地上車両のメンテナンスや修理、燃料補給作業など、さまざまな 分野で使用されます。 当資料では、空港でのアプリケーションについて詳しく解説。 是非、ダウンロードしてご一読ください。 【掲載内容】 ■環境への影響 ■TOCパラメータ ■THE BIOTECTOR SOLUTION ■信頼性 ■結論 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
日影分析可能なソーラー測定器（GPS搭載）。太陽光発電システム施行前の発電量調査、ソーラーパネル検査の必需品！
太陽光発電システムを施工する前に、1回の撮影で、月間や年間日照時間を算出できます。 搭載されている魚眼レンズで周囲を撮影し実際に影が発生する位置を特定し年間の太陽軌跡から年間の日照時間を求められます。
近赤外線を使用した高速アスベスト専用分析計。
microPHAZIR ASは、現場での迅速なアスベスト含有材料のスクリーニングと同定用に設計された携帯型 NIR 材料分析装置です。 現場におけるスクリーニング装置として最適です。 重量約 1.25kg の携帯型分析装置は、電池駆動式で現場での分析を数秒以内に正確に行います。 microPHAZIR AS は、専門的知識の無いユーザーに対しても使いやすく、時間と費用を節約する近赤外分光法を利用しています。 【特徴】 ○高原はタングステン電球で安全 ○本体からUSBケーブルで外部PCにデータ通信が可能 ○充電式リチウムイオン電池で8時間程度連続運転が可能 ○片手で操作可能な重量（約1.2kg） ○専用キャリングケース付き 詳しくはお問い合わせ下さい。
ポータブル装置では難しい鉄鋼中の微量炭素(0.03％以下)、リン、硫黄窒素を測定！
『PMI-MASTER Smart』は、品質管理等でご使用頂ける信頼性のある分析結果・ 合金判別が可能な、発光分光金属分析器です。 専用カートで工場や屋外に持ち運んでの測定も可能であり、約10秒で分析結果・ 合金判別が表示されます。材料受入や出荷前検査、不良品検査に適しています。 【特長】 ■高分解能CCDを搭載しており、鋼材の分析が可能 ■PMI検査、原料の受入検査や異材判別を短時間(10秒測定)で行える ■鋼材の微量炭素を高精度分析 ・SUS316/316Lの判別 ・炭素鋼、低合金鋼の判別 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
