検査装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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検査装置 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年07月23日~2025年08月19日
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検査装置のメーカー・企業ランキング

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  1. CKD株式会社 愛知県/産業用機械
  2. 伊藤忠マシンテクノス株式会社 東京都/産業用機械
  3. ソフテックス株式会社 神奈川県/その他 営業本部
  4. 4 株式会社山善 大阪府/商社・卸売り
  5. 5 シチズンファインデバイス株式会社 長野県/セラミックス

検査装置の製品ランキング

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  1. AI画像検査 EYEbeGenesis+アイビージェネシスプラス 株式会社山善
  2. PTPシート・錠剤異物検査装置『フラッシュパトリFPシリーズ』 CKD株式会社
  3. 合理化・自動化solution (外観検査・測定検査・工数削減) シチズンファインデバイス株式会社
  4. 4 はんだ印刷検査機 VP6000-V/5200-Vシリーズ CKD株式会社
  5. 5 OCS社 卓上型粉体品質検査装置 PT2C 伊藤忠マシンテクノス株式会社

検査装置の製品一覧

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シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置『X-CAS-2』

シリコンウェーハ内部の結晶欠陥ボイドを自動で検査!

アイビットの『X-CAS-2』は、X線を用いてシリコンウェーハ内部の 結晶欠陥であるボイドを自動で検査する装置です。 X線による検査方式を採用することで、ウェーハの抵抗値に関係なく また、研磨前の状態(スライス直後)であっても検査が可能。 検査対象シリコンウェーハのサイズは12インチ、8インチで、 オプションで6インチを追加することができます。 【特長】 ■シリコンウェーハ内部のボイドを自動で検査 ■ウェーハの抵抗値に関係なく検査可能 ■研磨前の状態でも検査可能 ■12インチ、8インチ、オプションで6インチのシリコンウェーハが検査対象 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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セミナー「X線装置を用いての不良基板の解析方法」のご案内

実装・組立プロセス技術展2024 in熊本 にてセミナー開催!X線による不良解析方法、不良原因の特定方法 などをご紹介します

実装機メーカーと実装後工程のメーカー19社による展示会「実装・組立プロセス技術展2024 in熊本」にて 「X線装置を用いての不良基板の解析方法」無料セミナーを開催いたします。 当セミナーは、X線検査手法と合わせて、X線による不良解析方法、 不良原因の特定方法などをご紹介。 また、「基板内層Viaの気泡による不良」や「基板スルーホールのクラック による不良」などの不良事例も取り上げます。ぜひ、ご来場ください。 【開催概要】 ■開催日時 ・2024年11月28日(木) 15:00~16:00 ・2024年11月29日(金) 10:15~11:15 ■会場:グランメッセ熊本 会議室 ■住所:熊本県上益城郡益城町福富1010 ■参加費:無料 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • X線検査装置

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展示会「実装・組立プロセス技術展」出展のご案内

X線検査装置(オフライン検査装置、インライン実装検査装置、リール対応検査など)多数のX線検査装置を公開予定です!

株式会社アイビットはハイブ長岡(新潟)にて開催される 「実装・組立プロセス技術展」に出展いたします。 当展示会では生産現場の品質改善・生産性向上を支え続けている 各メーカーの新設備をご覧いただけます。 当社は、3次元X線観察装置や3D-X線ステレオ方式X線観察装置、 3D-X線ステレオ方式インラインX線検査装置を展示予定です。 【開催概要】 ■開催日:2025年4月24日(木)~25日(金) ■開催時間:10:00~17:00(最終受付16:00) ■参加費:無料 ■会場:ハイブ長岡 1F全面ホール ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • X線検査装置

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高倍率X線検査装置『FX-300tRR』

リールtoリール検査機能追加!オプションのCTユニットで3D撮影も可能

『FX-300tRR』は、リールに入った電子部品を簡単に検査可能な 高倍率X線検査装置です。 従来機FX-300tR2の性能、機能はそのままで「高倍率900倍で 2D検査、直上0°~斜め60°」「リールtoリール検査」、 「3D-CT」での解析と1台3役をこなす多機能な製品。 また、トレイを交換すれば実装基板のはんだ付け検査やJEDEC規格 トレイでの検査もできます。 【特長】 ■リールの状態で、1個1個の部品を撮影確認可能 ■3000個のリール部品を1時間程度で検査可能 ■自動操作で全数画像保存も可能 ■X線カメラを傾斜してのリール部品検査も可能 ■撮影操作性を大幅向上したVCT機能で、透視検査だけでなく  3次元解析も実現可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • X線検査装置

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既築住宅の水道常圧での給水配管点検方法

当社の配管用圧力記録検査器を用いて既設の給水給湯配管の点検が簡単に実施可能!

既築住宅の水道常圧での「給水配管点検方法」についてご紹介いたします。 配管用<圧力記録>検査器「はじめくん HWR-N1-1」を用いて既設の 給水給湯配管の点検が簡単に実施可能。 屋外にあるホーム水栓等に検査器をつなぎ、水道メーターの止水栓を止めて、 漏れがある場合は水道圧が下がる現象を詳しく観察することで短時間に 配管の点検ができます。 【特長】 ■給水系統だけでなく、一回の検査で給湯側も一緒に点検できる ■ホーム水栓に接続する場合は、オプションのホーム水栓アダプターが便利 ■一般の水栓コマは逆止弁機能が作用するため検査には、固定コマを  使用するのが望ましい ■リフォーム等で、設備に手を加える前に、旧来配管の点検に使用する事が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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給水給湯樹脂配管・メーターユニットからの水圧検査方法

「はじめくん HWR-N1-1」を用いて器具付け後の水圧試験を実施・圧力の記録がとれます!

給水給湯樹脂配管・メーターユニットからの「水圧検査方法」について ご紹介いたします。 配管用<圧力記録>検査器「はじめくんHWR-N1-1」を用いて水栓等の 器具付け後の水圧試験を実施・圧力の記録がとれます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■給水側回路と給湯側回路をバイパスするためには、「逆止弁解除機能付  ボールバルブ」を給湯器に用いると検査時だけ解除できて便利 ■メーターユニットから水圧をかける場合、ユニットの逆止弁を解除する方法が  メーカーごとに違いがあるので確認が必要 ■あらかじめ複数部屋をまとめて水圧をかけておきたい場合にはオプションの  オーリングアダプター+ボールバルブ(HWR-OP11)を推奨 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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排水管の満空試験方法

従来、水張り・満水試験を実施してきた排水管に対して、空圧で試験が可能!

排水管の「満空試験方法」についてご紹介いたします。 配管用<圧力記録>検査器「はじめくん HWR-N1-1」を用いると従来、 水張り・満水試験を実施してきた排水管に対して、空圧で試験が可能。 不良があった場合でも濡らさないテストのため、水の手配、排水が 準備できていない工程でも対応します。 【検査準備(抜粋)】 ■竪管には、各フロアで、満空試験に対応した満水継手や試験治具を使用する ■満空対応の継手、治具が使用出来ない時は、風船型の  治具(テストプラグ等)を用いる ■横引管端末部には、封止用治具(各種)が使用可のほか、キャップを接着して  検査後に切断も可 ■横引管の継手に塩ビ管を差し込んだだけの検査では、水は漏れなくても、  空気は漏れる事例があり、必ず接着後に検査する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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シート品質検査機(CIS) S-con Smart 

カンタン操作で移動可能な新ジャンル製品をご紹介

汚れ等の品質検査やバーコード等の可変検査が可能です。 〇シート全面検査・両面対応(OP)  CISを使ったラインカメラタイプ  ・システム系と搬送機構を一体型にしたコンパクト設計  ・オプションで下読みCIS設定が可能で両面同時検査に対応  ・キャスター付きでサッと移動可能 〇新ソフトUI   1画面内で設定から検査まですべて対応  ・汚れ等の品質検査と可変検査が同じ領域で可能  ・ディープラーニングを使ったAIS OCRを採用、事前のフォント登録が一切不要  ・結果保存、欠陥画像・全画像保存

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  • その他検査機器・装置

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「失敗しないマシンビジョン検査装置(設備)の選び方 その2」

検査装置の押えるポイント、検査測定精度が定量化されていますか?

検査対象ワーク(●●、●●など)、及び検査項目(●●、●●など)が決まったら、今度は、検査精度を明確にする必要があります。現時点にて、検査要領書等があり、それに基づき外観検査を行っている場合は、検査要領書等を参考にすれば良いです。しかしながら、現時点にてキズ検査・有無検査等にて、目視検査に頼り、検査精度があいまいになっているケースが良くあります。この場合は、サンプルテスト等を行い、機器選定等から検査精度を定量化を行い、エンドユーザー等と協議する必要があります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 画像処理機器
  • 生産管理システム

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「失敗しないマシンビジョン検査装置(設備)の選び方 その3」

検査装置の押えるポイント、検査装置の一般仕様が明確になっていますか?

マシンビジョン検査装置(設備)を導入する為に、サイクルタイム、装置設置スペース、必要ユーティリティー、及び周辺環境を確認しておく必要があります。これらの条件が整い、初めてマシンビジョン検査装置(設備)としての導入予算、時期等を決めることが出来ます。上記条件等をまとめたマシンビジョン検査装置(設備)用の共通フォーマットを作成し、漏れが無いような状況を作っておくことをお勧めします。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 画像処理機器
  • 生産管理システム

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「失敗しないマシンビジョン検査装置(設備)の選び方 その4」

画像処理の押えるポイント、画像処理メーカーの選定

現在、多くのメーカーから画像処理装置(設備)、及び端末(コントローラ)が発売されています。これらの違いを理解したうえでの機器選定を行うことにより、導入費用や装置能力の良い装置(設備)を導入することができます。大きく分けると、「開発タイプ(マシンビジョン検査装置)」と「汎用タイプ(マシンビジョン検査装置)」に分けることが出来ます。「開発タイプ(マシンビジョン検査装置)」においては、自分達で画像処理ソフトに付属している豊富なライブラリ、及び命令により多種・多様な画像処理が可能です。しかしながら、何も無いところからの開発の為、工数を含めて考えると費用が多く掛かります。逆に、「汎用タイプ(マシンビジョン検査装置)」においては、「開発タイプ(マシンビジョン検査装置)」に比べ初期導入費用が安く、使い勝手も良い為、「開発タイプ(マシンビジョン検査装置)」と比較すると早く立ち上げることが出来ます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 画像処理機器
  • 生産管理システム

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「失敗しないマシンビジョン検査装置(設備)の選び方 その6」

画像処理の押えるポイント、無料の画像処理セミナー

これについても、前述の画像処理等のカメラ・レンズ・証明の選定と同じく、専門書を読んでもすぐに出来るものではありません。やはりこれについても、サンプルテストを実施しているメーカーにまずはお願いすることが近道だと考えられます。また、各画像処理メーカーにて導入に向けた画像処理セミナーを行っていますので、そちらに参加することで画像処理のことを勉強する方法もあります。中には、体験コースであれば、無料の画像処理セミナーもありますので参加してみては如何でしょうか?詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 画像処理機器
  • 生産管理システム

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「失敗しないマシンビジョン検査装置(設備)の選び方 その9」

検査装置で失敗するケース、投資に対して、コストが合わない!!

「最適な画像処理方法を見つけたが、見積を取ったらコストが合わない」「***万円でマシンビジョン検査装置(設備)を導入したいが、コストが合わない」等の事例も良くお聞きします。これも最初から画像処理の方に仕様検討を重視するばかり、装置(設備)仕様の方がおろそかになり上記のような状況に陥ってしまった事がほとんどです。いままで述べてきた各種ポイントを熟知した上でサンプルテストから装置(設備)構想までをまとめることが出来るマシンビジョン検査装置メーカーに依頼することが最も良い選択だと考えられます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 画像処理機器
  • 生産管理システム

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DLP式2D+3Dセンサー ※様々な3D検査を高速で実施!

従来の2D検査に3D検査機能を共存!15mm角の半導体の形状検査などに対応

『DLP式2D+3Dセンサー』は、様々な製品の3D検査を高速で行う製品です。 Z精度は2μm、XYサイズは1m×1mまで、タクトは0.05秒まで対応可能。 既存の2D検査に追加できるオプションもご用意しております。 ご用命の際は当社へお気軽にご連絡ください。 【対応】 ■ハードウェア・ソフトウェア両方の開発対応 ■立体的なワークの死角に対応 ■複合素材、明るさムラ対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • センサ
  • センサ
  • その他 センサー

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ウエハ外観検査装置 ※検査内容に合わせた機能の選択が可能!

検査内容に合わせた機能の選択、豊富なオプション機能による高精度検査が可能なウエハ外観検査装置

当社が取り扱っている『ウエハ外観検査装置』について ご紹介いたします。 ウエハ工程で発生する外観欠陥を高速かつ高精度に検査可能。 検査対象はLSI、LD、Di、LED、パワー半導体、化合物半導体、MEMS。 検査例はカケ・ワレ、クラック、スクラッチ、パターン異常、異物、 塗布不良、ズレです。 【特長】 ■検査内容に合わせた機能の選択が可能 ・ミクロ検査、マクロ検査 ・カラー検査、モノクロ検査 ・エリアカメラ、ラインカメラ ・表面検査、表裏面検査 ■豊富なオプション機能による高精度検査が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 外観検査装置

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