検査装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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検査装置 - 企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年04月02日~2025年04月29日
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企業ランキング

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  1. 出光エンジニアリング株式会社 千葉県/サービス業
  2. マール・ジャパン株式会社 神奈川県/試験・分析・測定
  3. CKD株式会社 愛知県/産業用機械
  4. 4 ソフテックス株式会社 神奈川県/その他 営業本部
  5. 5 株式会社安永 三重県/自動車・輸送機器 本社

製品ランキング

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  1. 加熱炉・小口径パイプラインの肉厚検査装置 出光エンジニアリング株式会社
  2. 自動ダイヤルゲージ検査機 Precimar ICM 100 IP マール・ジャパン株式会社
  3. 卓上型X線検査装置『EMT-F90』 ソフテックス株式会社 営業本部
  4. 4 PTPシート・錠剤異物検査装置『フラッシュパトリFPシリーズ』 CKD株式会社
  5. 5 AIカメラ検査による検反工程の省人化・省力化に! 布帛検査装置 株式会社梶製作所

製品一覧

1201~1215 件を表示 / 全 1246 件

表示件数

レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約181秒/12inch) ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能

  • 半導体検査/試験装置

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ウェハ表面欠陥検査装置(画像式)

透明素材にも対応する高精度検査装置

微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に  観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中

  • 半導体検査/試験装置

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ウェハ外観検査装置(画像式)

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です! ・ウェハ(基板)の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット)とも提案可能です。 ・AI機能も実装しており、学習を進めることで 欠陥弁別精度向上が可能です。

  • 半導体検査/試験装置

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パワーモジュール検査装置『NSAT Series』

ワイドバンドギャップな計測技術!最大144UPHの高スループット検査を実現

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査~175℃(~200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他検査機器・装置

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半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7862』

LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能!多様なオートメーション要求に対応

当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7862』をご紹介いたします。 総合アライメント精度は±2.5μmで、ハーフ/クオーターパネル向けの 検査装置。チップレットなどの大型・多ピン基板に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 半導体検査/試験装置

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プリント基板自動検査装置『STAR REC V5III』

両面アライメント機構付!微細化するプリント基板の検査にも対応

『STAR REC V5III』は、V3/V5シリーズとの治具互換や先進テスタ搭載を 実現したプリント基板向け導通・絶縁検査装置です。 検査精度と速度も改善し、微細化するプリント基板の検査にも対応。 また、オプションにて基板に刻印された2Dコードの読取致りを実施、 検査結果と2Dコード情報の紐付けを行い規定のフォーマットにて、 外部PCにデータ出力実施いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■検査ソリューションの提供 ■2Dトレーサビリティ対応(オプション) ■スマートファクトリー対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 基板検査装置

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IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』

低LS 4.5nH!ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 <NATS-1000> ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査~175℃(~200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他検査機器・装置

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インライン型目視検査装置『NVS400LL2』

Lサイズ基板対応で610×510mmまで検査可能!自動アングル調整機能も搭載!

『NVS400LL2』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ■■少ない検査員で検査効率を上げるマルチコントロール機能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 欠陥検査装置

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インライン型目視検査装置『NVS500LL2』

Lサイズ基板対応で610×510mmの検査が可能!不良箇所を漏れなく表示!

『NVS500LL2』は独自のダブルカメラ方式で、繊細な不良も上から斜めから 自在に検査し、検査画像をすべて記録する「Neoview series」の一つです。 外観検査装置がNG検出した箇所を自動で映し出すので検査員は画面に映った箇所を判定するだけ。難しい操作は必要ありません。 撮影条件設定機能を搭載。 不良項目ごとに上と斜めのカメラのどちらで映すか、さらにカメラの回転角度や照明の明るさもあらかじめ設定でき、カメラ操作は最低限で済むので、検査時間の削減につながります。 また、蓄積した検査結果を活用すれば品質向上の切り口もすぐに見つかります。 【特長】 ■不良箇所を漏れなく表示し、見逃し防止 ■画像付き検査データでトレーサビリティ保証 ■少ない検査員で検査効率を上げるマルチコントロール機能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 欠陥検査装置

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偏行ローラー搬送方式ブランクス検査機『S-Blanks KSB』

供給フィーダーで自動供給しながら、両面を連続検査するコンベア搬送方式の検査機

『S-Blanks KSB』は、京都精工株式会社製の搬送機を採用した ブランクス専用画像検査機です。 メッシュベルトによる安定した吸着搬送しながら、高解像度ラインカメラで、 ピンホール、文字欠け、かすれ、位置ずれ、異物などの微細欠陥を自動検出。 不良品はフラップ排出機構で自動排出され、良品は枚数をカウントし、 前後左右方向から整列して集積されます。 【特長】 ■京都精工株式会社製搬送機を採用した、両面ブランクス専用検査機 ■最大検査対象サイズは、幅500mm×送り500mmに対応 ■最大搬送速度:120m/分、処理枚数:送り300mm時、12 900枚/時 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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円筒/オーバル容器兼用検査機『S-Bottle Dual』

カメラおよび照明の選択により、さまざまなボトル・容器検査に対応可能です!

『S-Bottle Dual』は、各種ボトル・容器全面の印刷品質・外観品質を 高速・高精度で検査する画像検査機です。 円筒形状とオーバル形状の両方を兼用できる検査機で、カメラおよび 照明の選択により、さまざまなボトル・容器検査に対応可能。 高精細カラーラインカメラと高度多機能なカラー処理機能により、 多色刷りやフルカラーの印字・絵柄の品質検査を行います。 【特長】 ■円筒形状とオーバル形状の両方を検査可能 ■透明ボトルも独自の照明技術により裏写りの影響なく検査可能 ■化粧品、医薬品、食品等の円筒/オーバル容器の印刷と外観品質検査機 ■最大60本/分で高速検査しながら良品と不良品を自動分別し排出 ■外観、印刷品質、転写品質から位置ずれ、成形不良、寸法不良まで検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 外観検査装置

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高速自動供給型枚葉検査機『S-Con III』

フィーダーで自動供給しながら、1枚1枚連続検査するコンベア搬送方式の検査装置!

『S-Con III』は、枚葉ラベル・カード・シート用画像検査機です。 供給部には標準のボトムフィーダーか、大量供給可能なマルチフィーダーが 選択可能で、最高搬送速度は従来製品の3倍速、60m/分。 高解像度ラインカメラで、ピンホール、欠け、はみ出し、かすれ、異物、 傷などの微細欠陥を自動検出します。 【特長】 ■搬送速度60m/分、高速枚葉ラベル・カード・シート検査機 ■供給部は標準のボトムフィーダーか大量供給可能なマルチフィーダーを  選択可能 ■吸着コンベア方式で反りのあるワークを矯正し安定検査を実現 ■3板式のカラーラインカメラ(2K、4K)で高精細カラー処理を実現 ■分解能46μm(視野190mm、4Kラインセンサ使用時)の高精度検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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卓上縦軸ロール検査機『S-Lab Lite』

1 510mm×710mmの卓上型コンパクトサイズ!オペレーターに配慮した静音設計

『S-Lab Lite』は、ロールラベルの印刷品質検査を目的とした 業界最小クラスの卓上型画像検査機です。 高速高精度ラインカメラまたは接写型CISカメラを採用しており、微細欠陥 (異物、文字欠け、はみ出し、にじみ、かすれ、ピンホール等)を自動検出。 オプションのラベルマーキング装置を取り付けておくと、検査中に停止する ことなく、欠陥のあるラベル位置付近に自動的にNGマーキング可能です。 【特長】 ■1 510mm×710mmの卓上型コンパクトサイズ ■オペレーターに配慮した静音設計 ■最大搬送速度50m/分(検査速度はラベルサイズや検査内容に依存) ■最大ロール幅200mm、ロール径φ350mmまで適用 ■従来機のような長いリードテープ等は不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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小型横軸ロール検査機『S-Lab MSY』

最大搬送速度120m/分!ベルパック社製搬送機を採用したロール検査機

『S-Lab MSY』は、ロール状シールラベルの印刷品質検査を目的とした 画像検査機です。 高速高精度ラインカメラを採用しており、微細欠陥(異物、文字欠け、 はみ出し、にじみ、かすれ、ピンホールなど)を自動検出。 見当ずれ・位置ずれ・抜きずれ・任意箇所の寸法を高精度で計測可能です。 【特長】 ■ベルパック社製搬送機を採用したロール検査機 ■本体標準サイズは1 250mm(W)×1 166mm(D)× 1 527mm(H) ■最大搬送速度120m/分  (検査速度はラベルサイズや検査内容、検査精度に依存) ■最大ロール幅300mm~350mm、ロール径φ500mm適用可能 ■カラー/モノクロラインカメラ採用、高速高精度画像検査を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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スリッター搭載横軸ロール検査機『S-Lab SL』

NG停止位置とカメラ間に複数のNGラベルがあったとしても、全て自動検査済です!

『S-Lab SL』は、高速スリットと高速検査を同時に実現した、 スリッター付き巻返し検査機です。 スリットしながら連続全数検査可能(未検査ラベル無し)。 NG停止時においても未検査ラベルは無く、NG停止位置とカメラ間に 複数のNGラベルがあったとしても、全て自動検査済です。 この時、各NGラベルはNG処理ステージ上の指定位置で自動的に止まります。 【特長】 ■最大搬送速度200m/分、高速スリットと全自動検査を同時に実現  (検査速度はラベルサイズや検査内容に依存) ■ロール幅100~350mm、ロール径φ600mmまで適用 ■カラー/モノクロラインカメラ採用、高速高精度画像検査を実現 ■ウィザード式簡易設定操作メニューで誰でも簡単に検査設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 欠陥検査装置
  • 外観検査装置

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