更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EMC評価・対策 ■表示不良解析 ■信頼性試験 ■パネルの評価・解析 ■パネルの構造解析 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
不良箇所を推測しながら的を絞って観察！素早く結果を報告し課題の早期解決に貢献
当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察できます。 【特長】 ■BGAの接合面の状態、ボイドの有無、配線パターンの確認も可能 ■数多くの故障事例を見てきた分析担当者が観察を担当 ■好適な条件を設定し、これまで見る事の出来なかった箇所の観察、 よりクリアな写真を提供 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きさであれば、概ねサンプリング可能！
当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収されます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 【特長】 ■試料サイズは数十μmから測定可能 ■厚みはサブミクロン～10μm程度までが対象 ■透過測定及び反射測定が可能 ■反射測定時には対象物質下部が金属の必要がある ■対象物質が樹脂上に存在する際には、金属板上にサンプリングすることで測定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より市場再現性の高い評価方法が求められる！温度サイクル試験をご紹介
温度サイクル試験は、外部環境及び自己発熱による温度が繰り返し変化する 状況を想定し、熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 「急速温度変化チャンバー(ESPEC製 HRS-306M)」では、温度勾配が 10℃/1minとなっており、試料の温度を制御しながら、周囲の温度も 急速に変化させることが目的。 液槽、気槽式の冷熱衝撃試験機と違い試験品に過剰なストレスを与えず、 より現実的な環境下での温度サイクル試験が可能となります。 【試験装置仕様】 ■型番：HRS-306M ■メーカー：ESPEC ■温度範囲：-40℃～＋180℃ ■湿度：20～98％rh ■槽内サイズ：W600×H800×D600 ■温度変化速度：10℃/1min ■内容量：306L ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高性能評価設備の拡充により、様々な半導体材料の評価や高度化するニーズに対応！
株式会社クオルテックは、2025年1月、大阪府堺市津久野町に 「パワエレテクノセンター」を新規に設立します。 開設に向けて現在準備しており、2024年5月より改装工事を着工。 現在3か所に分散しているパワー半導体評価拠点を当センターに集約し、 効率化を図ると同時に、パワー半導体評価の更なる需要拡大に対応するため、 現行の1.5倍となるよう評価設備の増設を段階的に行います。 【当センターの取り組み】 ■パワー半導体評価技術の研究開発 ■パワー半導体評価の受託試験の増加に対応すべく、試験設備の拡充 ■ユーティリティの冗長化による安全・安心の試験業務システムの構築 ■先進セキュリティシステムによる顧客情報の機密管理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度勾配環境または恒温環境下で微生物の増殖状況を自動測定。
光学系測定機能を備えた培養ブロックを恒温環境に保ちながら振盪培養することで、微生物の増殖曲線が得られます。 【特長】 ●最大6台まで接続でき、36検体の吸光度測定が可能で、パソコンに接続することで、測定値のグラフ表示、保存が可能です。 ○詳しくは、お問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。
「特許登録件数上位100社でのシェアNo.1※」の特許調査支援サービス
＜特許調査に慣れていない技術者の方へ＞ ・新規参入分野、新しい技術分野を調査したい ・短時間で調査を行いたい ・調査ツールを簡単に、素早く使いこなしたい 「PatentSQUARE」は、現場技術者に喜ばれるAI検索機能や、効率よく調査を行うためのさまざまな機能により、現場技術者のお困り事にお応えします。 開発着手前や知財戦略立案時に実施する「技術動向調査」、特許出願前の「出願前調査」および「先行技術調査」、事業化前に行う「侵害予防調査（FTO調査／クリアランス調査／抵触調査）」、問題特許発見時のための「無効資料調査」、「ウォッチング」、「ステータス検索」など、さまざまな特許調査の現場で活用されています。 ※ 2021年1月～12月当社調べ ●商品の詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。
競合と自社技術の差異の解明／重要な文献の検索／海外特許の概要把握～簡単に調査を行える機能を解説したセミナー講演資料~（無料提供）
●競合と自社技術の差異の解明 ●重要な文献の検索 ●海外特許の概要把握 2023年2月開催のWebセミナーでは、「PatentSQUARE」を活用し、これらの調査を簡単に行えるパテントマップ機能についてご紹介しました。 当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発部門で実践！競合会社の技術戦略を読み解く3つの手法とは 重要特許・競合動向を知る～ パテントマップを使った3つの手法のご紹介 ～ グローバルの特許調査を効率よく行いたい方におススメです 1. 特定技術分野における重要特許を効率よく見つけるポイント 2. 中国／非英語圏の文献調査が英語や日本語で行える、マップの使い方 3. 競合会社の出願と、自社技術の差異を明確にするコツ ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。
高剛性で長寿命！マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能
当社で取り扱う、セパレータ『VEGシリーズ』をご紹介いたします。 マグネットセンサと近接スイッチでの位置検出を選択可能。 長寿命で、最大1000万サイクルメンテナンスフリーです。 また、2本のロッドがワークを1つずつ選別することにより生産工程での 信頼性を向上させる「VEシリーズ」もご用意しております。 【特長】 ＜VEGシリーズ＞ ■焼き入れ済みステンレス製ガイド ■さまざまなニーズに対応 ■長寿命 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm、 SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能（Slice&View）
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
SSRMでは局所抵抗に関する知見を、EBSDでは結晶粒・粒界に関する知見を得ることができます。 EBSD測定と同一箇所でSSRM 測定を行うことで、結晶粒界部を含んだ領域の局所抵抗を測定しましたので紹介いたします。
電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで
二次電池の劣化のメカニズムを調べる際に、電極表面の付着物を解析することが重要となっています。MSTではサンプルを雰囲気制御下でTOF-SIMS測定を行いますので、電極最表面の化学状態を大気暴露による変質無く評価することが可能です。 また、充放電サイクル試験から電極表面の測定まで一貫して行うことで、充放電の状態と電極表面の付着物の状態の相関を調べることができます。
試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価
SiO2中のアルカリ金属の分布を一般的な分析条件で測定すると、測定に起因する電界などの影響により、深さ方向濃度分布に変化が生じることが知られています。 MSTではSIMS測定時に試料を冷却することでアルカリ金属の濃度分布変化を抑制し、より高精度に濃度分布を評価いたします。
適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減
ラマン分光分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。 下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした（図1）。下地の影響の無い無機結晶上にサンプリングを行うことで、異物の情報が得られ、異物はフラックスと同定されました（図2）。
高い垂直方向分解能で小さな凹凸を可視化可能
走査型白色干渉計（光干渉計）は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm～4.2mm)」で、高精度に非接触3次元測定を行うことが可能です。Si/SiGe積層試料表面（クロスハッチパターン）の形状観察の事例を紹介します。 平均粗さ(Ra)～1nmの形状評価可能です。
