分析のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分析 - メーカー・企業498社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年10月01日~2025年10月28日
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分析のメーカー・企業ランキング

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  1. Tebiki株式会社 東京都/IT・情報通信
  2. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  3. ビーエルテック株式会社 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 株式会社同仁グローカル 熊本県/その他
  5. 5 株式会社分析センター 第一技術研究所 東京都/試験・分析・測定

分析の製品ランキング

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  1. 事例で解説『トヨタ流「なぜなぜ分析」の実践方法とポイント』 Tebiki株式会社
  2. 分析、精密天びん│EXPLORERシリーズ ※総合カタログ進呈中 オーハウス コーポレーション 日本支社
  3. 洗剤等粘性液体のpHって測定できるの? 株式会社分析センター 第一技術研究所
  4. 4 海水栄養塩測定装置 クワトロ ビーエルテック株式会社
  5. 5 ICP-AES/ICP-MS用 認証単元素・混合標準液 湿式分析 西進商事株式会社

分析の製品一覧

151~165 件を表示 / 全 1926 件

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発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇所の特定ができます

発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは  解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の  特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ABS樹脂のFT-IR分析

知見とスペクトル解析力、そしてその他の分析手段など様々なアプローチで物質を特定

共重合樹脂には多くの種類がありますが、中でもABSはその特異な 分子構造により多くの製品に使用されています。 エンジニアリングプラスチックとして、電子製品、自動車、電化製品、 IT関連製品など幅広い分野で活用されているABS樹脂を、FT-IR分析を使い 特長的なIRスペクトルを考察しました。 【形状】 ■Head to tail ■Head to head ■tail to tail ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ラミネートフィルム異物分析事例

異物の位置と異物の成分に着目!異物部の断面作製を行い、元素分析を実施しました

当社が行った、ラミネートフィルムの異物分析事例についてご紹介します。 ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認されたため、 この黒色異物について発生層の特定や成分分析を行いました。 最初に解析の目的に応じて手法を検討致します。 今回は異物の位置と異物の成分に着目し、異物部の断面作製を行い 元素分析を実施する方針となりました。 【事例概要】 ■ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認された ■黒色異物について発生層の特定や成分分析を行った ■異物部の断面作製を行い元素分析を実施した ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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フタル酸エステル類のスクリーニング分析

規制値は1000ppm!簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出来ます

フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500~1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛生法などで規制対象となるDNOP、 DINP、DIDPについての簡易的な「スクリーニング分析」が可能です。 試料の詳細や測定対象化合物など、お気軽にお問い合わせください。 【Py-GC/MSによる気泡緩衝材中のフタル酸エステル類スクリーニング分析】 ■判定基準 半定量値  ・500ppm以下:非含有と判定  ・1,500ppm以上:含有と判定  ・500~1,500ppm:溶媒抽出による定量分析にて再検査を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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液晶ディスプレイ材料分析

材料と目的に応じた分析手法をご提案!液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介

液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR:主成分分析 ■EDX:元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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GC-MSによる香り成分の分析

GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用!線香と白檀にてデータを取得し比較!

香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀(びゃくだん)・沈香 (じんこう)・伽羅(きゃら)の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とし、ウッディーな香りは、 主に脂肪族環状構造が起因であると推測します。 【分析概要】 ■分析サンプル:線香、白檀 ■熱脱着GC-MS(180℃)による香り成分の同定 ・白檀と同じ検出時間のピークを確認 ・線香に白檀が香料として使用されていることを示す ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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全固体電池用原料の組成分析

電解質の純度が電池の性能に大きく影響!硫黄成分の揮発性を抑え、ICで検知できる形態に変換

全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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GC/MSを⽤いたマイカシート接着剤成分分析

分光法だけでは同定できない成分、検出できない微量の添加剤成分なども調べることが可能!

GC/MSを⽤いたマイカシート接着剤成分分析についてご紹介します。 マイカシートにどのような成分が含まれているかを調べるために分光法測定 を実施したところ、シリコーン系の接着剤が用いられていることが示唆。 どのような組成のシリコーン系接着剤を用いているのかを調べるために GC/MS測定を実施。ペンタシクロオクタシロキサンを用いていることがわかり、 また、可塑剤としてジブチルフタレート、滑剤としてトリデカンなどの 鎖式飽和炭化水素を添加していることもわかりました。 【マイカシートの成分】 ■ペンタシクロオクタシロキサン(かご状のポリメチルシスセスキオキサン) ■ジブチルフタレート ■トリデカンなどの鎖式飽和炭化水素 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置

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ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析

ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分析が可能!

ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析についてご紹介いたします。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与。 ICP発光分析は液体試料中に何の元素がどれくらい含まれているかを 分析することが出来ます。 【特長】 ■約70種類の元素の定性・定量分析が可能 ■試料に含まれる添加剤や不純物の定性・定量分析、RoHs指令物質等の  定量分析など、様々な分析に適用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ビジネスインテリジェンス・データ分析

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カプセル剤粉体のX線CT分析とEDX分析

医薬品に使⽤される粉体の粒度分布測定や構成する有機物質の組成分析(GCMSやLCMS)も実施可能!

カプセルの内部状態を3次元的に可視化した事例、及び粉体の EDX分析により、元素情報のデータを取得した事例を紹介します。 X線CT分析では、カプセル内部にわずかな空気の隙間が存在している様子が うかがえた他、粒度も均一ではなく、一部大きな粒子が含まれていることも 視覚的に把握することができました。 SEM-EDX分析では、内部に含まれる任意の粒子について、元素分析を実施。 15kVの加速電圧にて炭素C、酸素Oの他、カルシウムCa、塩素Cl、鉄Fe、 リンP、ナトリウムNaが検出されました。 【分析内容】 ■X線CT分析:カプセル剤のX線透過観察 ■SEM-EDX分析:内部に含まれる任意の粒⼦の元素分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • X線検査機

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XPSによる正極活物質の状態分析

リチウムイオン電池の材料評価に!X線光電子分光法で化学結合状態を解析

NMC試薬について、XPSの状態分析による金属酸化物の 価数の評価を行いました。 市販のNMC試薬について定性分析を実施し、試薬の仕様に近い NiMnCo比の値を得ています。 また、バインダー成分由来と考えられるFやCも検出されています。 【NMC試薬の分析(一部)】 ■Ni、Mn、Coの主要な酸化物はNiO(Ni2+)、MnO2(Mn4+)、  Co3O4(Co2+とCo3+の混合価数)と推測 ■C、O、Fは、バインダー由来と推測される有機系のピークシフトを確認 ■各ピークアサインは、各種文献、データベースを参考に推測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 受託測定

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ロックイン発熱解析装置『ELITE』

「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ!微小なリーク・変化でも検出が可能

発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です。 非常に微小な発熱状態を検知できることから、通常のプリント基板だけでなく、 半導体の不具合解析にもその威力を発揮します。 特にショート箇所の調査においては、複雑な構造であっても短時間で場所の 特定が出来るため、不具合解析の時間を劇的に短縮することができます。     【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■従来のマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 食品試験/分析/測定機器

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食品中のアレルゲン分析

信頼性の高い結果を迅速に報告!表示が義務化された7品目等、アレルゲン物質の含有有無を検査

クオルテックでは、『食品中のアレルゲン分析』を行っております。 法律で表示義務が定められた7品目の特定原材料が、商品に含まれて いないかを検査。最終製品のみならず、コンタミネーションの確認にも ご利用いただけます。 消費者庁通知に則った検査方法により、信頼性の高い結果を迅速に ご報告いたします。 【食品アレルゲン分析のプロセス】 ■1.検体の前処理(1日) ■2.ELISA(エライザ)法による定量検査(2日) ■3.PCR法(3日)またはウェスタンブロット法(2日)による確認検査 ■4.分析結果をお客様へ報告 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電子部品の急速温度サイクル試験

温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します

「電子部品の急速温度サイクル試験」は、外部環境および 自己発熱による温度が繰り返し変化する状況を想定し、 熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 冷熱衝撃装置は、試料へ均一な温度ストレスを与える2ゾーン方式で、 MIL-STD-883、JIS C 60068-2-14などの規格試験に対応。 急速温度変化チャンバーは、試験要求が厳しくなる車載用部品の 環境試験にマッチした恒温恒湿器です。 【冷熱衝撃装置の仕様(一部)】 ■設定温度への到達が早く、試験時間を短縮 ■試料の温度復帰を15分以内で実現 ■型式:TSD-101-W ■メーカー:エスペック株式会社 ■テストエリア内容量:100l ■テストエリア耐荷重:30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が 飛躍的に増大し、開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます 要求されています。 試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、 工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。 【特長】 ■内部構図を立体的に把握でき、任意箇所の断面画像を得られる ■二つのX線管を併せ持つCTシステム ■150nmまでの微細構造を認識できる高解像度観察が可能 ■積層物のCTに適したヘリカルスキャン機能も搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • X線検査装置
  • 分析機器・装置
  • その他画像関連機器

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