検査装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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検査装置 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年07月02日~2025年07月29日
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検査装置のメーカー・企業ランキング

更新日: 集計期間:2025年07月02日~2025年07月29日
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  1. CKD株式会社 愛知県/産業用機械
  2. 東朋テクノロジー株式会社 愛知県/産業用電気機器
  3. ソフテックス株式会社 神奈川県/その他 営業本部
  4. 4 伊藤忠マシンテクノス株式会社 東京都/産業用機械
  5. 5 株式会社ヒューブレイン 大阪府/試験・分析・測定

検査装置の製品ランキング

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  1. 基板表面マクロ検査装置『Stealth300Vシリーズ』 東朋テクノロジー株式会社
  2. はんだ印刷検査機 VP6000-V/5200-Vシリーズ CKD株式会社
  3. PTPシート・錠剤異物検査装置『フラッシュパトリFPシリーズ』 CKD株式会社
  4. 4 マイクロフォーカス軟X線検査装置『SHR COMPACT』 ソフテックス株式会社 営業本部
  5. 5 X線TV検査装置『SFXシリーズ』 ソフテックス株式会社 営業本部

検査装置の製品一覧

181~195 件を表示 / 全 1257 件

表示件数

最新鋭FA用 画像検査装置 KSS-903

スクリーン印刷機と検査装置のコラボ!

ファインパターン回路の短絡、断然、ピンホールを印刷直後に検出しデータ保存、トレーサビリティを可能にしました。

  • 画像処理ソフト

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メタルマスク開口検査装置『SCI-MCC』

そのメタルマスクは本当にきれいですか?見える化で悩みを解決します

『SCI-MCC』は、使いやすいシンプル設計で低価格を実現した メタルマスク開口検査装置です。 洗浄後のメタルマスク開口の半田残差・ゴミ付着を全数検査。 赤く映るため、見える化で悩みを解決します。 また、指定エリアの開口だけを全数検査でき、NGポイントの キャプチャー確認が可能です。 【特長】 ■半田残差、付着ゴミが赤く映る ■簡単設置、簡単操作 ■NGポイントのキャプチャー確認が可能 ■管理番号登録によりマスク毎のトレースが可能 ■Garberデータなどの事前登録が不要 ■100V 電源だけですぐに利用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 検査治具

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フィルム自動検査装置

「Optics for film products」/超高速ラインセンサーで自動検査。ロール全幅・全長の画像保存も可能

フィルム自動検査装置「Optics for film products」は、 FPD製造ラインで培った技術を生かした、ユニークなフィルム自動検査装置です。 ロール1本丸ごと大容量画像データの保存が可能な新製品「KPR-5100」や、最新のカメラインターフェイス”HS-LINK”にも対応した高速画像処理コンピュータ「Optics」を中心に、お客様の様々なニーズにお応えするアプリケーションをご提案させて頂きます。

  • 画像処理機器
  • 画像解析ソフト

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小型基板外観検査装置 「KISS2000」

シンプルな構成で高速検査を実現

小型基板外観検査装置 「KISS2000」は、小型基板の外観を高速で検査するシステムです。 基板全体の取込画像を自由に拡大/縮小して観察できますので、ビューアとしての機能も優れています。 従来より低価格で、目視検査の代替手段として利用できます。

  • 画像処理機器
  • 画像解析ソフト
  • 画像入力ボード

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FPD自動検査装置「Optics In-line AOI」

クボテックはFPD製品検査のパイオニアです。

LCD-TFT工程・カラーフィルタ、セル工程において、またLCD以外ではPDP、有機EL、タッチパネル等の検査において、18年間で700台以上の出荷実績がございます。 近年のパネルの大型化・高精細化が進む中においても、最新の技術で高速・高分解能での自動検査を実現しています。

  • 画像処理機器
  • 画像解析ソフト
  • 画像入力ボード

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ガラス基板検査装置 「Optics Glass AOI」

大型ガラス基板の高感度・高速検査

FPD向けガラス等の大型板ガラス製品をインラインで高速検査なシステムです。 ガラス表面・内面・端面の多種多様な欠陥を高感度で検出します。 厚さ測定・測長・割れ検出・うねり検出等のオプション対応も可能です。

  • 画像処理機器
  • 画像解析ソフト

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フィルム表面検査装置

SiC、サファイア、GaNウエハなどの化合物系ウエハ外観検査装置です。

内部マイクロパイプや、脈離、表面傷、異物、研磨痕などの検査に有効です。検査に、スーパーマクロ、微分干渉、暗視野、透過の4つの光学系を持ち、全ての光学系にオートフォーカスを持ち、自動ステージにより同じ座標系での検査が可能です。オプションで、同じ座標系に、AFMやウエハ厚さ測定を載せる事も可能です。 【装置アプリケーション】 ■ウエハー内部のマイクロパイプ ■ウエハー内部の脈離 ■表面傷検査、研磨痕検査 ■異物検査(内部含む) ■表面粗さやパターン傾斜等の測定(オプションAFM) ■スクラッチ、ピット、泡の検査 ■非接触型、厚さ測定(オプション厚さ計) ■マイクロクラック、ピンホール ■その他、外観検査全般 

  • 外観検査装置

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ひずみ検査機

ひずみ検査機

ガラスなど透明の物のひずみを検査するハンディタイプのひずみ検査機です。LEDライトを採用し持久力が大幅にアップしています。 電池式とAC式との2種類があります。

  • ガラス器具・容器
  • その他実験器具・容器

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近赤外線異種錠検査装置 NIR

目視では判別できない同形・同色の異種錠を非破壊識別

近赤外線を錠剤に照射、錠剤内部に浸透した錠剤の成分に反射して跳ね返ってきた電磁波をイメージング分光器で波長毎に分光することで、錠剤内部の成分波形が得られます。CCDに映し出されたその成分波形を主成分分析し、内部に含まれる成分の解析を行う検査機です。粉体だけではなく、液体や気体への応用も可能です。 ※カタログは、以下の「▸ 関連リンク」経由でダウンロードが可能です。

  • 近赤外分光光度計
  • その他 粉砕・分級・造粒・打錠 関連機械
  • その他 印刷機・周辺備品

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食品業界向け 密封包装製品用ピンホール検査機

軽量、コンパクトな食品業界向け非破壊ピンホール検査機

液体スープやタレ、具材や惣菜など食品業界における密封包装製品用の非破壊ピンホール検査機です。 特許の帯電方式により低電圧で検査が可能なため、商品は勿論、包装容器に与える影響を少なくすることができます。 ※カタログは、以下の「▸ 関連リンク」経由でダウンロードが可能です。

  • ピンホール探知機

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錠剤・カプセル外観検査機 PLANET6G

品種登録も操作パネルで簡単設定。錠剤・カプセル兼用モデルあり

独特のハンドリング機構を採用した、コンパクトでスタイリッシュな錠剤・カプセル用外観検査機です。 工具レスでクリーニング・パーツ交換が可能、あらゆるサイズ・形状の錠剤とカプセルに対応、30分で新品種の設定が可能と、オペレーター負担を大幅に軽減した最新鋭機です。 ※カタログは、以下の「▸ 関連リンク」経由でダウンロードが可能です。

  • その他 外観・画像検査装置
  • 印字検査機

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チップ部品外観検査機『SS-2000シリーズ』

高精度検査を実現!微細チップから特殊サイズまでチップ部品外観検査に完全対応

『SS-2000シリーズ』は、チップ部品の多面外観形状を自動で高精度かつ 正確に検査する装置です。 0402、0603サイズ等の微細チップ部品から1005~3216以上の特殊サイズまで 独自のワーク搬送方式と充実した検査ソフトウェアにより、サイズ兼用、 多面検査、高速検査、高精度検査が実現可能です。 【特長】 ■2電極製品から多端子製品まで幅広く検査することが可能 ■6面検査からそれ以上の検査にも対応可能 ■ディスク交換で各種サイズの兼用化が可能 ■カラーカメラや高画素カメラをオプションで用意 ■ピン形状タイプの円形のサンプルも検査可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
  • 検査ロボット

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50万円を切る! 粒径/比表面積比較検査装置

50万円を切る!!!

  工場現場、品質管理、研究開発に

  • その他検査機器・装置

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結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触!nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリングが可能

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ(15nm~サブミクロン)と密度(E6~E10/cm3)の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起因転位欠陥の 検出感度を、従来の手法よりも大幅に向上させています。 【特長】 ■非破壊/非接触 ■従来の検査装置では確認できない欠陥を可視化 ■対象領域:活性デバイス領域(表面近傍) ■生シリコンと活性デバイス深さでの検出 ■専門知識は不要 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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表面検査装置 「IMAGE2000.PCWII」

幅広シートの高解像度化や、複数光学条件への対応力がアップした表面検査装置!

総合検査装置IMAGE2000の全機能をコンピューターNetにて簡素化、低価格化を実現しました。 検査信号処理+欠陥画像処理+欠陥画像ファイリング+欠陥マップ帳票機能を、FAコンピューターにオールインワン! 接続可能なカメラ台数が旧PCWでは4台まででしたが、PCWIIでは最大6台まで接続できる様になりました。これにより、幅広シートの高解像度化や、複数光学条件への対応力がアップしました。欠陥画像の取込速度向上により離散欠陥の画像取込が大幅に改善されました。 ※詳細はカタログをダウンロードください。

  • 画像処理機器

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