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抜群の感度を誇る湿式紫外線酸化方式の有機体炭素分析装置（TOC計）です
超微量レベルのTOC値検出のための高感度TOC計です。高出力UVリアクターと高感度ワイドレンジNDIRにより電解めっきの電解浴のような困難なマトリックスでもすべての炭素化合物を迅速かつ完全に分解することができます。 【特徴】 ■効率的で確実な試料酸化 ■高い生産性 ■ビームフォーカス-NDIR検出器 ■信号の最適化（VITA技術−TOC分析におけるガス保持時間と積分の結合) ■固体のTOC分析のための高温燃焼（HTC） ■セルフチェックシステム(SCS) ■FDA対応ソフトウェア
粒子が多く、少量サンプルのTOC/TNb 分析用のスペシャリスト
multi N/C 2300は省スペース型TOC/TNb 分析装置であり、環境分析分野で特にその強みを発揮します。VITA、ビームフォーカス NDIR検出器、および最大950℃の触媒高温燃焼機能を持つmulti N/C 2300には粒子を含む試料に対応した理想的な注入技術が採用されています。シリンジ直接注入なので、サンプルが通る経路が短く、キャリーオーバーを起こしにくい装置です。また、注入量も10µLからとなっており、サンプルが少量しかない場合でも測定が可能な装置で、懸濁物が多く含まれたり少量サンプルしかない場合などに特化した装置です。 【特長】 ■ セプタムフリーの直接注入技術 ■ 少量サンプルに最適 ■ 粒子処理機能と効果的な洗浄 ■ オートサンプラーを一体化できる省スペース設計 ■オプションのダブルファーネスで、1台で液体・固体サンプルの分析が可能
Compact Size. Peak Performance.
独自の装置設計と安定したプラズマにより、PlasmaQuant 9200シリーズは様々なサンプルタイプに対して最高の分離能と検出下限を提供するだけでなく、最小の装置設置面積を実現しました。アナリティクイエナの新しいICP-OESは、比類ない信頼性と簡単な操作性を兼ね備えており、お客様のラボワークを成功に導く鍵となるでしょう。 【特長】 ・比類ない分解能、最高の検出限界、長期安定性、幅広いスペクトル範囲 ・フレキシブルなプラズマビューと最大1,700Wのプラズマ出力 ・従来のICP-OESに比べ、40%以上の実験室スペースを削減 ・装置の起動時間は10分以内
複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます！
『TMA（熱機械測定）』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温度範囲は－150～1000℃、サイズ最大はΦ10×25mm（圧縮モード、 針入れモード）、サイズ最大は0.7mm×5mm×20mm（引張モード）が 測定可能条件です。 本資料では半導体封止材のTMA分析事例を掲載しています。 【特長】 ■熱機械測定 ■試料に一定の荷重をかけ試料温度を変化させる ■試料の寸法変化を測定 ■熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られる ■複数の測定モード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析をご紹介
EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、 結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最大試料寸法：100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
100×100mmサイズも対応！ステージ可動により広範囲のマッピングが可能
『EPMA分析』は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に 微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。 100×100mmサイズも対応でき、広範囲のマップが取得可能。 酸化インジウム・スズ薄膜上の異物分析例では、SEM-EDXに 比べ、エネルギー分解能・検出限界・PB比が良好でした。 また、微量元素の検出やSEM-EDXでは検出が困難な分析が可能です。 【特長】 ■エネルギー分解能や検出感度が良い ■特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れる ■ステージ可動により広範囲のマッピングが可能 ■100×100mmサイズも対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ヘッドスペースGC-MS分析法と、液晶パネル偏光板のアウトガス成分分析事例を掲載！
製品の構成材料や梱包材、緩衝材などに溶剤や低分子有機物質、未反応物質が 残存するとそれらがアウトガスとして、拡散、または構成素材に浸透し 製品寿命や特性、および環境人体に影響を与える場合があります。 残存する微量な物質の定性分析、定量分析にはGCMSのヘッドスペース法が 有効となります。 当資料では液晶パネルに使用される偏光板のアウトガス成分を定性分析した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ヘッドスペースGC-MS分析法 ■液晶パネルの偏光板のアウトガス成分分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
正しい分析結果には適切な加速条件を！加速電圧の違いでEDX検出深さが変わります！
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度についてご紹介します。 一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっき表面を分析した際、下層のNiが 露出していないにも関わらず検出される場合があります。 これは電子線の散乱深さに関連性があり、正しい分析結果を得るには適切な 加速条件を設定する必要があります。 今回、モンテカルロシミュレーションを用いて加速電圧の違いによる EDX検出深さについて確認を実施。 今回はほんの一例に過ぎませんが、正しい分析結果を得るには電子が どのように散乱しているか想像しながら加速電圧を設定することが大切です。 【テスト基板概要】 ■試料は一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっきパッドを用いた ■層構成はCu配線上にNiめっき/Auめっきが施されたもの ■Auめっきの厚みは断面観察より、212nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高次構造を分析的手法により評価！ラマン分析は高分子構造についての解析にも有効です
『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。 当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と 「高分子鎖の構造変化」を掲載。 高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、 高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ラマン分光分析による高分子高次構造の評価 ■高分子鎖の構造変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行います！
ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-AES定性分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介
素材は、使用環境により変質変色することが多いです。 変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、 化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、 問題の対策や回避が可能となります。 当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で 比較検証した事例をご紹介しています。 【掲載内容】 ■分析サンプル ■XPS（ESCA）による元素分析結果 ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（ポリカーボネート） ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（塩化ビニール） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料評価や不良品解析に！分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構について考察致します。
ポリカーボネートは耐衝撃性や耐候性、透明度に優れた材料であることから、 工業材料から日常品まで幅広く使用されています。 しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各元素の分布を2次元的に見ることが可能！多層状の試料の分析の際にも有効な場合があります
Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度変化を確認できます。 【EDSによる分析の特長】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析 ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出 ・金属間化合物等は算出された濃度比により、形成された化合物を推定 ■線分析 ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルできる ・分析箇所の元素濃度変化を確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属、無機素材とともに欠かせない材料！有機素材の分析評価サービス事例をご紹介
溶剤、添加剤、医薬品、プラスチックなどの有機材料は、金属、無機素材 とともに欠かせない材料です。 軽元素の組み合わせで多種多様な種類を有し、またその特異性は構造や 分子間力、電子の挙動から発現しますが、特性の根本的な把握に 化学機器分析および評価は必要と思われます。 当資料では、有機素材の分析評価サービス事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■FT-IR分析 ■GC-MS分析 ■GPC（SEC）による分子量分布評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！
『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介！
当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。 【特長】 ＜FT-IR測定＞ ■有機物の主成分を分析することができる ■一部の無機物も分析することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
クオルテックでは、有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置を 導入いたしました。 ターゲット膜の絶対反射率を測定し、膜厚と光学定数を精度良く計測する 「顕微反射分光膜厚計」をはじめ、非接触、非破壊で仕事関数、イオン化 ポテンシャルを測定する「光電子分光装置」や「分光蛍光光度計」など、 さまざまな測定・分析装置を取り扱っています。 【特長】 ＜顕微反射分光膜厚計＞ ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています
「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 【分析項目】 ■表面の組成分析（定性・定量）：ワイドスキャン、ナロースキャン ■化学シフトによる結合状態評価：ナロースキャン、波形分離 ■イオンスパッタを使用した深さ方向の組成分析：デプスプロファイル ■X線を走査することにより面分析（マッピング）や線分析も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。
電子顕微鏡（SEM）にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性Ｘ線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能（バルク材料など） ■多元素同時測定が可能で分析時間が短い ■μmオーダーの微小領域分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布！シリコーンコーキング材の分析例をご紹介
「ヘッドスペースGC/MS(HS-GC/MS)」による、硬化後の シリコーンコーキング材を分析した事例をご紹介します。 薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布。硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析しました。 結果として、薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来の ピークを検出し、塗量に関わらず加熱時にシロキサン発生量には 差異がないことが確認できました。 【概要】 ＜内容＞ ■シリコーンコーキング材を硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析 ＜結果＞ ■薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来のピークを検出 ■塗量に関わらず、加熱時にシロキサン発生量には差異がないことを確認 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶縁物の測定が可能！セラミック・ガラス等さまざまな材料に適用できます
「X線光電子分光法」は、試料表面(最表面～数nmの深さ)の 元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ガラス等 さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 【分析項目】 ■表面の組成分析(定性・定量)：ワイドスキャン、ナロースキャン ■化学シフトによる結合状態評価：ナロースキャン、波形分離 ■イオンスパッタを使用した深さ方向の組成分析：デプスプロファイル ■X線を走査することにより面分析(マッピング)や線分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
操作性に優れたタッチパネル方式を採用した96ウェル同時自動分注装置をご紹介！
『EDR-700A』は、一体型スタッカー機能搭載により、96ウェル同時処理での 連続トランスファー作業の簡略化・高速化を実現したオートドロッパーです。 操作性に優れたタッチパネル方式を採用。使用用途に合わせ、 ステンレスノズル式ヘッドとディスポーザブルチップ式ヘッドが選択可能です。 また、前モデル「EDR-500A」のシリンダー、ヘッド、オプション品が そのままご使用いただけます。 【特長】 ■96ウェル同時処理での連続トランスファー作業の簡略化・高速化を実現 ■ステンレスノズル式ヘッドとディスポーザブルチップ式ヘッドを選択可能 ■本体には分注・吸引機構の他にスタッカーと試薬自動供給装置を標準搭載 ■シンプルなインターフェイスで戸惑うことなく各種操作を選択できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
設置しやすいコンパクトサイズ！臨床検査や食品検査、診断薬製造などに
『EDR-VS8C』は、50mL/15mL遠沈管・採血管・マイクロプレート等、様々な 容器に対応できる8ch可変ピッチサンプリングシステムです。 各種センサーによるチップ装着確認、液面検知、異常吸引検知機能を搭載。 また、温調ユニットやバーコードユニット等、多彩なオプションを ラインアップしております。 【特長】 ■設置しやすいコンパクトサイズ ■50mL/15mL遠沈管・採血管・マイクロプレート等、様々な容器に対応 ■温調ユニットやバーコードユニット等、多彩なオプションをラインアップ ■各種センサーによるチップ装着確認、液面検知、異常吸引検知機能を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
チャンネル数は全7種類！マルチディッシュを用いた様々な細胞培養工程を支援します
『EDR-24LX』は、自動分注、自動希釈、サンプリングなど多用途での使用が 可能なコンパクト・ワークステーションです。 制御ソフトは全て日本語。タブレットPCで直感的な操作が実現しました。 また、クリーンベンチ、安全キャビネットへ楽々設置でき、不要なときには 取り出せるコンパクトなサイズとなっております。 【特長】 ■自動分注、自動希釈、サンプリングなど多用途での使用が可能 ■マルチディッシュを用いた様々な細胞培養工程を支援 ■軽量コンパクトでクリーンベンチ、キャビネット内にも楽々設置できる ■ヘッドはワンタッチで交換可能 ■チャンネル数は1ch、6ch、12ch、24chの全7種類 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
スペースをとらないコンパクト設計オートのダイリューター・ドロッパーについてご紹介
『EDR-96RX』は、臨床検査において96ウェルマイクロプレートへの 試薬分注作業、検体の分注およびトランスファー作業、希釈系列の作成 などに適した8ch/12ch列毎処理 連続自動分注・希釈装置です。 スタッカー部にはマイクロプレートを20枚、チップラックを5個収納可能。 また、ステージ回転機構により、プレートの縦/横両方向の分注希釈作業に 対応することができます。 【特長】 ■直感的で操作性の良い専用PCソフトを用意 ■CSVファイルを使用した分注希釈パターン設定 ■試薬残量、チップ廃棄リミット、作業状況等を管理 ■トレーサビリティに適したログ管理機能 ■スペースをとらないコンパクト設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
0.1μL分注対応！左右に専用プレートスタッカーを接続しても省スペースで場所をとりません
『EDR-384SX-6』は、好評の12ステージワークステーション「EDR-384SX」の コンパクト版として登場した6ステージワークステーションです。 分注ユニットは、ワンタッチで簡単に交換可能。 左右に専用プレートスタッカーを接続しても省スペースで場所をとりません。 また、簡単スタートで使いやすさを徹底追求した制御ソフト“ICS”を 搭載しています。 【特長】 ■96/384/1536ウェルプレート対応 ■ダブルレンジヘッド対応 ■コンパクト版 ■マイクロウェルプレートとチップラックを合計6個まで設置可能 ■チャンネル数や分注レンジを簡単に変更できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクト設計で省スペース化を実現、安全キャビネットにも設置可能です！ 高精度微量分注と大容量分注を兼ね備えた二刀流モデルです！
『EDR-8LZ』は8ステージを有し、豊富なステージレイアウトを可能としています。 遠心管から384ウェルプレートまで幅広い容器に対応しています。 1ch～8chの任意の本数で使用できるので、希少な試薬を1chで分注し、サンプルは8chで分注するなどの連続作業が可能です。 新たにヘッド部に採用した「ダブルレンジ機構」はヘッドの交換が不要。 容量に応じて異なるシリンジを使用する事で微量から大容量まで、高精度な分注ができます。 国内生産のため、消耗品の安定供給が可能です。 【特長】 ■コンパクトな設計 ■豊富なステージ ■様々な容器に対応 ■ヘッド交換不要＆高精度微量分注の実現 ■液だれ防止シャッター ■各種センサーによる液面検知機能を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
抗体、タンパク質の煩わしい精製から解放されて、新たな価値を生みませんか？
当社が取り扱う『EDR-384GX』をご紹介します。 少量多検体のHigh-throughput screeningなら、 PhyTipと96chリキッドハンドラーの組み合わせが適しています。 お好みの本数での精製も可能。 また、複数検体の自動化に適している小型8chタイプの「EDR-8LZ」も ご用意しております。 【特長】 ＜EDR-384GX＞ ■低速ピペッティング等、処理時間を要する各工程を自動化可能 ■チップ交換速度の向上及び分注ヘッドの高速化によりハイスループット化を実現 ■装置開口部を大きく取り、自動化インテグレートに適した構造 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。 ・高感度（ppb～ppm） ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い（主成分元素から極微量不純物まで） ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数～数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析
