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洗浄不要・分析結果の信頼性向上！ディスポーザブルターゲットプレート
『MBT Biotarget 96』は、MALDIバイオタイパー専用の使い捨てターゲットプレートです。 未使用スポットを無駄にすることなく96スポットを全て使用することができます。 また、1枚ごとに異なるバーコード付きで、トレーサビリティを支援します。 親水性の試料塗布部を囲むように、疎水性の表面処理が施され、これにより 液体がスポットに集中し、きれいな円状に試薬を塗布することが可能。 洗浄作業の撤廃による作業時間の削減、コンタミネーション防止による 分析結果の信頼性向上など、検査室・分析室の運営管理の観点から 支持をいただき、確かな実績を積んでいます。 【特長】 ■洗浄が不要 ■洗浄不足によるコンタミネーションの防止 ■サンプルのスポットからの流出を抑制 ■無駄なく96スポットを利用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に！
最適な補正を行えるように磁場強度は最大1.0テスラまで可変設定できます。また、従来のゼーマン補正（2フィールドモード; オン、オフ）だけでなく、3フィールドモード（オフ、中、高磁場）が可能になり、測定濃度範囲をmg/Lオーダーまで拡大し、アプリケーション領域が飛躍的に拡充されました。 【特長】 ■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上 ■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能 ■D2バックグラウンド補正、第三世代のゼーマンバックグラウンド補正 ■コード化ランプのためのRFIDツール搭載 ■液体試料だけでなく、固体試料の直接測定が可能 ■独自の交差加熱型グラファイトファーネスが理想的な原子化を実現 ■最適な原子化と灰化温度、2フィールド/3フィールドバックグラウンド補正が理想的な測定を実現 ■検量線の直線性領域を拡張する独自の可変磁場3フィールドモード ■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ ■最適なフレーム測定を約束するバーナー高さ自動調整機能
ICP-OES,ICP-MS,原子吸光分析の前処理に！ ルーチンから難分解性試料まで幅広いアプリケーションに対応！
マイクロウェーブ試料分解はルーチン分析や研究開発ラボにおいて信頼性の高い元素分析を行うための前処理技術です。 speedwave XPERT は有機・無機サンプルにおいて信頼性、安全性、操作性に優れたユニバーサルで使用できるマイクロウェーブ試料分解装置です。 【高分解力】 ■マイクロウェーブ出力2,000W ■円形デザインによる均一なマイクロウェーブ加熱 ■光学センサーによる分解作業の最適化 【高い安全性】 ■電磁ロック式スイングトップによる確実なロック機能 ■特許取得済みの光学式非接触モニターによる内部温度・内部圧力測定 ■圧が過剰に掛かった場合のガス回収システム 【高い操作性】 ■工具不要で開閉可能なベッセル ■耐久性の高い高圧分解容器により、ランニングコストの削減 ■用途に応じた豊富なベッセルのバリエーション ■上部開閉・容器一本ずつのセッティングにより、軽快な操作性
ルーチン分解向けのコンパクトなマイクロウェーブ分解装置 安全で効率的な分解に！
日々の業務をより安全に簡単に行うことができるユーザーフレンドリーな装置です。 研究施設、教育機関、大学での標準的な試料分解のルーチン分析において、選ばれています。 【特長】 ■ドアセンサー機能で安全な分解 ■特許取得済みの非接触センサーによる、全容器内温度のモニター ■リアルタイムの温度管理 ■工具不要で開閉可能なベッセル ■LED内部照明で分解容器を外から確認可能
環境分析のアプリケーションと装置
【飲料水・環境水分析】 実践に即した測定手順と高感度で、信頼性の高い精密な分析結果を得ることができます。飲料水、地下水、環境水、プール水などを簡単にモニターすることができ、一般的な基準や規制を満たす、あるいはそれ以上の効果が期待できます。 【排水分析】 都市排水、工業排水、埋立地浸出水など、サンプルの前処理や粒子の処理に必要な労力を大幅に削減し、サンプルの測定時間を短縮します。 【土壌・廃棄物・汚泥分析】 固体分析ソリューションは、サンプルの準備を迅速化し、さらに分析結果の精度を高めることができます当社の分析装置は、掘削や農地からの土壌、下水処理場の沈殿物や汚泥など、有害物質や有毒物質を含む家庭廃棄物や産業廃棄物の分析に最適です。 【大気分析】 アナリティクイエナの元素分析および生物分析ソリューションは、汚染防止のための合理化されたプロセスと信頼できるデータを提供します。 当社の分析装置は、火力発電所や蒸発冷却システムの産業プロセスを監視するのに特に役立ちます。
環境水・飲料水・排水のTOC測定に！高品質と使いやすさにより時間とコストを削減します
『multi N/C ｘ300シリーズ』は、使いやすく、様々な分野で信頼性の高い測定を 行うことができる分析装置です。 直感的なユーザーガイダンスと堅牢な設計で、ルーチン測定にも好適。 高品質な素材と耐用性の高い部品で耐久性にも優れています。 モジュールの汎用性により、環境分野の表層水や排水から、半導体や発電所の超純水の測定に至るまで、それぞれのアプリケーションに対応可能です。 【特長】 ■ビームフォーカスNDIR検出器は放射光密度が高く、高感度で高精度 ■安定した測定を長期間保証 ■1つの標準から簡単に検量線作成 ■消耗品部品の数が少なく、交換も簡単 ※詳しい内容は、お気軽にお問い合わせ下さい。
ラボライフをより簡単で安全に！検出限界が低く、様々な規格・標準に準拠しています
『compEAct』は、製油所、QC、契約ラボ向けに、液体、ガス、LPGサンプル中の 硫黄と窒素の迅速かつコスト効率の高い測定を提供する装置です。 サイズは小さくてもパフォーマンスは大きく、高いスループット、高速な 解析時間、使いやすいソフトウェアにより、コスト削減と生産性の向上に貢献。 時間の節約とワークフローの簡素化により、規制の強化とスキル不足に 直面している石油・ガス産業の要件を満たしています。また、化学や ポリマーの品質管理にも適しています。 【特長】 ■経済的で効率的 ■ユーザーフレンドリーで機能的 ■安全性とコンプライアンス ■正確で高感度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高スループット アプリケーション向けに設計された 高精度なリキッドハンドリングシステム
CyBio Well vario は、交換可能なマルチチャンネル分注ヘッドを使用し、96・384・1536 プレートへ高い精度で各種分注操作を行う自動分注機です。 マイクロプレートへの分注から、MALDI-MSプレートへの微量スポッティングなど確実で高精度の分注が可能です。 特長 ・交換可能な 96/384/1536ch ヘッドを使用した一括分注 ・独自のチップシーリングテクノロジーにより、すべての容量範囲で高い精度を実現 ・交換可能なピペッティング ヘッドとアクセサリによる最高の柔軟性 ・正確な微量分注で試薬コストの低減 ・オートメーションシステムへのインテグレーション対応 ピペッティングチップ：ディスポーザブル / 固定（ステンレス/セラミック） / キャピラリー プレートフォーマット：96, 384, 1536 プレート設置数：3、4、5、10ポジション
幅広いアプリケーションに対応するオールラウンドモデル
multi N/C 3300は最高のスループットのために最適化された幅広いアプリケーションに対応するオールラウンドモデルです。パラレルパージによるNPOC測定における高スループット、キャリーオーバーのないフローインジェクション注入、長期保証のワイドレンジNDIR検出器など多彩な機能を備えています。 豊富なアクセサリー、直感的なソフトウェアにより、業務効率が向上し様々なアプリケーションに適した結果が得られます。 【特長】 ■高効率で確実な試料酸化 ■高い生産性 ■ビームフォーカスNDIR ■信号の最適化（VITA技術−TOC分析におけるガス保持時間と積分の結合） ■セルフチェックシステム (SCS)
抜群の感度を誇る湿式紫外線酸化方式の有機体炭素分析装置（TOC計）です
超微量レベルのTOC値検出のための高感度TOC計です。高出力UVリアクターと高感度ワイドレンジNDIRにより電解めっきの電解浴のような困難なマトリックスでもすべての炭素化合物を迅速かつ完全に分解することができます。 【特徴】 ■効率的で確実な試料酸化 ■高い生産性 ■ビームフォーカス-NDIR検出器 ■信号の最適化（VITA技術−TOC分析におけるガス保持時間と積分の結合) ■固体のTOC分析のための高温燃焼（HTC） ■セルフチェックシステム(SCS) ■FDA対応ソフトウェア
粒子が多く、少量サンプルのTOC/TNb 分析用のスペシャリスト
multi N/C 2300は省スペース型TOC/TNb 分析装置であり、環境分析分野で特にその強みを発揮します。VITA、ビームフォーカス NDIR検出器、および最大950℃の触媒高温燃焼機能を持つmulti N/C 2300には粒子を含む試料に対応した理想的な注入技術が採用されています。シリンジ直接注入なので、サンプルが通る経路が短く、キャリーオーバーを起こしにくい装置です。また、注入量も10µLからとなっており、サンプルが少量しかない場合でも測定が可能な装置で、懸濁物が多く含まれたり少量サンプルしかない場合などに特化した装置です。 【特長】 ■ セプタムフリーの直接注入技術 ■ 少量サンプルに最適 ■ 粒子処理機能と効果的な洗浄 ■ オートサンプラーを一体化できる省スペース設計 ■オプションのダブルファーネスで、1台で液体・固体サンプルの分析が可能
Compact Size. Peak Performance.
独自の装置設計と安定したプラズマにより、PlasmaQuant 9200シリーズは様々なサンプルタイプに対して最高の分離能と検出下限を提供するだけでなく、最小の装置設置面積を実現しました。アナリティクイエナの新しいICP-OESは、比類ない信頼性と簡単な操作性を兼ね備えており、お客様のラボワークを成功に導く鍵となるでしょう。 【特長】 ・比類ない分解能、最高の検出限界、長期安定性、幅広いスペクトル範囲 ・フレキシブルなプラズマビューと最大1,700Wのプラズマ出力 ・従来のICP-OESに比べ、40%以上の実験室スペースを削減 ・装置の起動時間は10分以内
複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます！
『TMA（熱機械測定）』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温度範囲は－150～1000℃、サイズ最大はΦ10×25mm（圧縮モード、 針入れモード）、サイズ最大は0.7mm×5mm×20mm（引張モード）が 測定可能条件です。 本資料では半導体封止材のTMA分析事例を掲載しています。 【特長】 ■熱機械測定 ■試料に一定の荷重をかけ試料温度を変化させる ■試料の寸法変化を測定 ■熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られる ■複数の測定モード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析をご紹介
EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、 結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最大試料寸法：100x100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
100×100mmサイズも対応！ステージ可動により広範囲のマッピングが可能
『EPMA分析』は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に 微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。 100×100mmサイズも対応でき、広範囲のマップが取得可能。 酸化インジウム・スズ薄膜上の異物分析例では、SEM-EDXに 比べ、エネルギー分解能・検出限界・PB比が良好でした。 また、微量元素の検出やSEM-EDXでは検出が困難な分析が可能です。 【特長】 ■エネルギー分解能や検出感度が良い ■特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れる ■ステージ可動により広範囲のマッピングが可能 ■100×100mmサイズも対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ヘッドスペースGC-MS分析法と、液晶パネル偏光板のアウトガス成分分析事例を掲載！
製品の構成材料や梱包材、緩衝材などに溶剤や低分子有機物質、未反応物質が 残存するとそれらがアウトガスとして、拡散、または構成素材に浸透し 製品寿命や特性、および環境人体に影響を与える場合があります。 残存する微量な物質の定性分析、定量分析にはGCMSのヘッドスペース法が 有効となります。 当資料では液晶パネルに使用される偏光板のアウトガス成分を定性分析した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ヘッドスペースGC-MS分析法 ■液晶パネルの偏光板のアウトガス成分分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
正しい分析結果には適切な加速条件を！加速電圧の違いでEDX検出深さが変わります！
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度についてご紹介します。 一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっき表面を分析した際、下層のNiが 露出していないにも関わらず検出される場合があります。 これは電子線の散乱深さに関連性があり、正しい分析結果を得るには適切な 加速条件を設定する必要があります。 今回、モンテカルロシミュレーションを用いて加速電圧の違いによる EDX検出深さについて確認を実施。 今回はほんの一例に過ぎませんが、正しい分析結果を得るには電子が どのように散乱しているか想像しながら加速電圧を設定することが大切です。 【テスト基板概要】 ■試料は一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっきパッドを用いた ■層構成はCu配線上にNiめっき/Auめっきが施されたもの ■Auめっきの厚みは断面観察より、212nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高次構造を分析的手法により評価！ラマン分析は高分子構造についての解析にも有効です
『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。 当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と 「高分子鎖の構造変化」を掲載。 高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、 高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ラマン分光分析による高分子高次構造の評価 ■高分子鎖の構造変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行います！
ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-AES定性分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹介
素材は、使用環境により変質変色することが多いです。 変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、 化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、 問題の対策や回避が可能となります。 当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で 比較検証した事例をご紹介しています。 【掲載内容】 ■分析サンプル ■XPS（ESCA）による元素分析結果 ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（ポリカーボネート） ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（塩化ビニール） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介
TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料評価や不良品解析に！分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構について考察致します。
ポリカーボネートは耐衝撃性や耐候性、透明度に優れた材料であることから、 工業材料から日常品まで幅広く使用されています。 しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各元素の分布を2次元的に見ることが可能！多層状の試料の分析の際にも有効な場合があります
Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度変化を確認できます。 【EDSによる分析の特長】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析 ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出 ・金属間化合物等は算出された濃度比により、形成された化合物を推定 ■線分析 ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルできる ・分析箇所の元素濃度変化を確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属、無機素材とともに欠かせない材料！有機素材の分析評価サービス事例をご紹介
溶剤、添加剤、医薬品、プラスチックなどの有機材料は、金属、無機素材 とともに欠かせない材料です。 軽元素の組み合わせで多種多様な種類を有し、またその特異性は構造や 分子間力、電子の挙動から発現しますが、特性の根本的な把握に 化学機器分析および評価は必要と思われます。 当資料では、有機素材の分析評価サービス事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■FT-IR分析 ■GC-MS分析 ■GPC（SEC）による分子量分布評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！
『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介！
当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。 【特長】 ＜FT-IR測定＞ ■有機物の主成分を分析することができる ■一部の無機物も分析することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
クオルテックでは、有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置を 導入いたしました。 ターゲット膜の絶対反射率を測定し、膜厚と光学定数を精度良く計測する 「顕微反射分光膜厚計」をはじめ、非接触、非破壊で仕事関数、イオン化 ポテンシャルを測定する「光電子分光装置」や「分光蛍光光度計」など、 さまざまな測定・分析装置を取り扱っています。 【特長】 ＜顕微反射分光膜厚計＞ ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています
「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等さまざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用されている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用されています。 【分析項目】 ■表面の組成分析（定性・定量）：ワイドスキャン、ナロースキャン ■化学シフトによる結合状態評価：ナロースキャン、波形分離 ■イオンスパッタを使用した深さ方向の組成分析：デプスプロファイル ■X線を走査することにより面分析（マッピング）や線分析も可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。
電子顕微鏡（SEM）にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性Ｘ線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能（バルク材料など） ■多元素同時測定が可能で分析時間が短い ■μmオーダーの微小領域分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布！シリコーンコーキング材の分析例をご紹介
「ヘッドスペースGC/MS(HS-GC/MS)」による、硬化後の シリコーンコーキング材を分析した事例をご紹介します。 薄塗は2mm程、厚塗は4mm程を塗布。硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析しました。 結果として、薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来の ピークを検出し、塗量に関わらず加熱時にシロキサン発生量には 差異がないことが確認できました。 【概要】 ＜内容＞ ■シリコーンコーキング材を硬化させた後に200℃加熱し、 発生したガスを分析 ＜結果＞ ■薄塗、厚塗問わず、ほぼ同強度でシロキサン由来のピークを検出 ■塗量に関わらず、加熱時にシロキサン発生量には差異がないことを確認 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
