更新日： 集計期間:2025年12月03日～2025年12月30日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年12月03日～2025年12月30日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年12月03日～2025年12月30日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1786～1800 件を表示 ／ 全 2792 件
レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査（約181秒/12inch） ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能
透明素材にも対応する高精度検査装置
微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に 観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中
ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現
■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です！ ・ウェハ（基板）の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット）とも提案可能です。 ・AI機能も実装しており、学習を進めることで 欠陥弁別精度向上が可能です。
尿中のバイオマーカーで、非侵襲的で簡便、迅速かつ正確な診断可能
過敏性腸症候群（IBS）は、強い緊張、不安、ストレス等に起因して惹起されるストレス性消化器疾患であり、ストレス社会とも例えられる現代において注目されている疾患の一つである。IBSの症状は腹痛、腹部不快感、下痢や便秘、ガス過多による下腹部の張りなどで、詳しい検査で身体的異常が見つけられず、神経内科的な問診による診断によるため、医師によって判断が異なることが少なくない。 本発明はIBS患者と健常者の尿サンプルをLC/MS で測定し、統計解析にてp <0.05を満たしている有意なピーク及び比を抽出した。その結果、健常者と比較して、IBS患者は1.5～2倍程度の数値が高くなる化合物群を同定した。本化合物は、IBSバイオマーカーとしての活用を期待できる。
シクロフィリンA量を指標として乳腺疾患の 発症可能性を判定
乳牛の乳房炎は家畜の最難治疾病の一つとされており、乳量の低下、治療費の増大につながり、経済的損失が大きいことが知られている。その経済的損失を抑えるためには、乳房炎の早期発見が肝要である。しかし、既存の乳房炎検出方法であるPLテストは、すでに変性が見られるような乳房炎を検体として実施するため、早期発見には至らない。そこで、化学発光能測定法が有望視されている。しかし、化学発光能の測定には特殊な装置が必要となり、経済性および困難性の観点から、各乳業農家が日常的に実施する方法としては適していないという課題がある。 本発明によって、簡便かつ迅速に乳房炎を早期に発見することに資する方法やバイオマーカーを提供することが可能になった。本発明は、被験体の乳房から採取された乳汁におけるシクロフィリンAを検出する工程と、シクロフィリンA量に基づいて、乳腺疾患の発症または発症可能性を判定する工程を含むことを特徴とする。乳汁中のシクロフィリンA量が、健常な乳房から採取したものよりも大きい場合、被験体の乳房において乳腺疾患が発症している、または発症可能性があると判定する。
ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能！多様なオートメーション要求に対応
当社で取り扱う、半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 『GATS-7862』をご紹介いたします。 総合アライメント精度は±2.5μmで、ハーフ/クオーターパネル向けの 検査装置。チップレットなどの大型・多ピン基板に対応しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ■チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ■多様なオートメーション要求に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応
『STAR REC V5III』は、V3/V5シリーズとの治具互換や先進テスタ搭載を 実現したプリント基板向け導通・絶縁検査装置です。 検査精度と速度も改善し、微細化するプリント基板の検査にも対応。 また、オプションにて基板に刻印された2Dコードの読取致りを実施、 検査結果と2Dコード情報の紐付けを行い規定のフォーマットにて、 外部PCにデータ出力実施いたします。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■検査ソリューションの提供 ■2Dトレーサビリティ対応(オプション) ■スマートファクトリー対応(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICマルチファンクション検査対応！自社開発によるLCRメーター搭載
『R-5940』は、IC Embedded基板に特化したスーパーテスタです。 高速な導通・短絡測定、μΩ精度と高速検査の4端子測定、all-CH LCR測定 に加え、高精度のIC検査で多様化するニーズにお応えします。 最大16個のSMUを電源並びに電子負荷としてDUTに接続することでパワー ON/OFFのシーケンスを実現しており、SMUを自由に組合せたDUT測定が可能です。 【特長】 ■高速検査 ■高精度 ■IC Embeddedに特化 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
微小容量検査高分解能！薄膜RFフィルタ/加速度センサなど様々な製品を検査可能
『R-700シリーズ』は、高速・高精度でコンパクト設計のAC/DC MULTI TESTERです。 薄膜RFフィルタ/車載DCモジュール/加速度センサ/MEMSデバイスなど 様々な製品を検査可能。 「R-730 Standard」をはじめ「R-780 High Insulation」や「R-770 AC Dynamic」などをラインアップしております。 【特長】 ■超高絶縁 ■高速・高精度 ■コンパクト設計 ■最大検査ポイント 512ピン ■微小容量検査高分解能 ■4W低抵抗測定 0.1mΩ～ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！
当社で取り扱う、『NS Probe』をご紹介いたします。 プリント基板＆半導体パッケージ基板検査システム用の製品。 MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現しました。 Probe Typeは「Flat」と「Point」の2タイプをご用意しております。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■Flat-Type ・寸法精度の向上 ■Point-Type ・材料選定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ガラスコア対応可能な技術力と信頼！高速・高精度3次元計測装置
当社で取り扱う、ガラス基板対応3D計測装置『NSAT Series』を ご紹介いたします。 深さ5μm、Line Space 2/2に対応。Trace、Anchor、Overlay、 Filmなど様々な測定機能がございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■深さ5μm、Line Space 2/2対応 ■透過測定法によるSR•ABFの厚さ測定 ■ガラスコア対応可能な技術力と信頼 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
低LS 4.5nH！ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ＜NATS-1000＞ ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
超高速36,000rpm対応！カメラや各種センサーも接続でき時間軸同期ロギングが可能
『TDAS-Series』は、EV/HEVの車載用駆動モータ単体及びE-Axle(モータ、 インバータ、ギア一体型)の性能試験、耐久試験を行うための装置です。 オリジナルの計測、制御、解析ソフトウェア＆GUIにより簡単なシンプル操作で 一定トルク運転や一定速度運転、WLTC等の走行パターンに合わせた各種試験も 行うことが可能。 また、ライブカメラにて画像とデータをリアルタイムでモニターすることが出来、 TDASモニタリングシステムにて遠隔モニタリングもできます。 【特長】 ■3軸/4軸テストベンチ構築可能 ■インバータ用テストベンチ構築可能 ■シンプルで簡単な操作で計測、制御、解析が可能 ■TDAS遠隔モニタリングシステム対応可能 ■超高速36,000rpm対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
知りたい特性結果を瞬時に解析R＆Dから量産検査に！他社製テストデータの解析も可能
『Pulse EYE(パルスアイ)』は、Power半導体検査/Waveformの 解析支援ツールです。 任意の信号のグラフ表示および操作、カーソル表示、解析位置表示選択、 ローカスグラフ表示機能がある「Waveform Analyze」や、2ファイルの グラフを重ね書きにより容易な比較表示が可能な「Dual File View」など 様々なモードがございます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■業務効率化/時間短縮 ■1クリック2～3秒で全ての波形を表示 ■解析位置情報表示 ■複数File表示比較 ■波形表示・白黒反転 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
