更新日： 集計期間:2025年11月26日～2025年12月23日
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プリント基板実装＆半導体外観検査装置の総合カタログです。
SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務などを行っている、日本ミルテック株式会社の「基板外観検査装置 総合カタログ」です。 次世代微細チップ部品03015の完全検査を実現した「基板実装向け3DAOI装置 MV-9」をはじめ、さまざまなSMT実装業界及び半導体業界向け外観検査装置を掲載しております。 【掲載製品】 ○基板実装向け3DAOI装置 MV-9/MV-7 OMNI ○基板実装向け2D卓上型AOI装置 MV-3L ○基板実装向け2D＋レーザー計測AOI装置 MV-6E/MV-7xi ○3次元クリームはんだ印刷検査装置 MS-15/11、他 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。
基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の検査を実施します。 従来の2Dの検査より不良検出が大幅に向上し、その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減が図れます。 【特徴】 ○OMNI-VISION(R) 2D/3D Inspection Technology ○モアレ縞乱反射の影響回避 ○8段カラー照明 ○10Mega Pixel Side-Viewer(R) System 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
待望の大型基板対応3D卓上機！ディスクリート部品用はんだ検査アルゴリズムの搭載
『MV-3OMNIシリーズ』は、SMT部品からディスクリート部品の検査まで 好適なAOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光の位相の ズレから部品の高さを計測。部品の高さの違いから部品やICリードの浮き、 欠品等の検査が可能です。 また、8段階の照射角度の異なる5色(白、赤、黄、緑、青)の光を基板に 照射し、より不良箇所を際立たせる事で、不良検出力が向上します。 【特長】 ■ディスクリート部品用はんだ検査アルゴリズムの搭載 ■最大検査可能基板サイズ：660mm×510mm ■8段カラー照明：不良検出力の向上 ■AI技術による部品文字のOCR検査 ■Z軸アシスト機能(カメラユニット+36mm移動) ■18 Mega Pixel or 10 Mega Pixel 斜視カメラの搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
広域な領域を一括で撮像、検査が実施できる！10MegaPixel TOPカメラ搭載
『MV-3L』は、Laser・Sideカメラを搭載し、不良検出力を向上した 2D卓上型AOI装置です。 10MegaPixelカメラを搭載し、4MegaPixelカメラを搭載した装置より 広域な領域を一括で撮像、検査が実施可能。高速検査を実現しました。 また、完全同軸落射照明を実現させ、隣接する電解コンデンサ等高い部品の 影響を受ける事なく、部品の極性検査、文字検査、部品マッチング、 はんだフィレットの2D検査に威力を発揮します。 【特長】 ■10MegaPixel TOPカメラの搭載 ■8段カラー照明：完璧なはんだ付け検査 ■Intelli-Beam Laser 浮き検査 ■10MegaPixel Sideカメラの搭載 ■テレセントリックレンズの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
はんだジョイント部の完全な3D検査により高さ計測を実現！従来のモアレ方式の3DAOI装置の課題を解決
基板実装向けインライン型3D AOI装置「ART SERIES」は、はんだジョイント部の 完全な3D検査を実現しました。 従来のモアレ方式では、正確なはんだフィレット部の高さが測定できないため、 IPC規格で推奨しているはんだ濡れ上り検査ができません。 今回の「ART SERIES」では光の位相のズレから部品の高さが計測できるため IPC規格に準拠した計測が可能です。 【特長】 ■トップカメラ+サイドカメラによる完全な3Dイメージの取得（特許出願中） ■高解像度15Mピクセルカメラを5台搭載 ■AI技術による部品文字のOCR検査 ■8段カラー照明: 不良検出力の向上 ■Z軸アシスト機能（カメラユニット＋36mm移動） ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
Oリング使用により優れた耐密性を有するNSフランジプラグのご紹介！
当社が取り扱う『NSフランジプラグ（鋼）』をご紹介します。 材質は構造用炭素鋼・構造用合金鋼、硬さはHRC32～42。 Oリング使用により優れた耐密性が保証できます。 また、耐圧性能について、350kgf/cm2の動圧テストにて確認済みです。 【仕様】 ■材質：構造用炭素鋼・構造用合金鋼 ■硬さ：HRC32～42 ■表面処理：黒色酸化被膜 ■ねじ：JIS B0202の管用平行ネジA級 ■めねじ：JIS B2351のOリングシール方法による ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デュアルレーザ、独自アルゴリズムで材質や表面状態に関係なく正確な検査が可能。
■ 特 徴 ・デュアルレーザーによる３D測定。 ・高精度、高信頼性認識を実現。 ・本体幅850mmのコンパクト設計。 ・検査データを統計的に分析。工程改善の見える化を推進
フル3Dでのスピードと測定技術の融合！高速かつ精密で安定的な検査プラットフォームを提供！
『EAGLE 3D-8800TWIN』は、3D AOI 基板両面同時検査装置です。 フルパフォーマンス・フルスピード検査が可能。トップカメラと ボトムヘッドカメラを搭載しています。 駆動軸は、コンベアの移動なしにX/Y方向で、カメラヘッドのみ移動させ、 この機能より非常に高速かつ精密で安定的な検査プラットフォームを 提供しています。 【特長】 ■トップ/ボトム両面同時検査 ■従来品と比較して圧倒的にロスタイムを低減 ■フルパフォーマンス・フルスピード検査が可能 ■マルチコンフィグ採用 ■簡単インターフェイスでユーザーフレンドリー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カラーセンサーで色と輝度を完全分離判定！最大100万lux程度まで検出可能
『カラーセンサー検査機』は、 カラーセンサーを用いて色と輝度を検出する検査機です。 色と輝度を完全に分離して判定し、 発光体の色(RGB比率)と輝度を相対的に検査します。 【特長】 ■色と輝度を完全に分離し判定 ■色は赤・緑・青それぞれの成分の比率で、輝度は相対値で表現 ■数lux～100万lux程度までの検出が可能 ■良品・不良品の自動選別機能付き ■オフライン対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
簡単設置・簡単操作のショートショット専用検査機！約1秒で検査完了！
『ショートショット(欠肉)専用検査機』は、 ショート発生率が高い場所の視野設定に特化した自動検査機です。 設置と操作が簡単で、品質・歩留まり向上に貢献します。 【特長】 ■約1秒で検査完了 ■検品を全自動化 ■コンパクト・ローイニシャルコスト ■インライン・オフライン対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ドーム照明採用により、暗室不要！欠品を素早く検出して流出を防ぐ検査装置
『部品欠品検査装置』は、小物部品や不織布などの欠品を素早く検出し、 欠品の流出を防ぐ検査装置です。 検査トレーサビリティー機能も充実しており、データ作成操作が簡単です。 品番毎に良品登録をして、スタートスイッチを押すだけで検査できます。 良品・不良箇所を画面で色別表示でき、 更に検査結果のデータや画像の保存も可能。 【特長】 ■ドーム照明採用で暗室不要 ■ポカヨケ機能搭載 ■良品判定時のみ自動運転可能 ■未検査状態で取り出すと警告 ■検査データをCSV形式で出力 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
既存ラインに設置可能な「インライン一斗缶天板検査装置」です。
自動検査機導入により ◆全数検査実現 ◆検査一定基準化 ◆トレーサビリティの導入 検査結果証拠残し ◆検査工程の見える化 が可能になります。
ハード性能向上、I/O制御の高速化！3D計測時間が当社従来機比で83％の高速化を達成
鈴商株式会社で取り扱う、視覚センサ『NV-Pro』について ご紹介いたします。 視覚機能を制御装置に内蔵し、ティーチペンダントで 簡単操作が可能。 ティーチペンダントにカメラ画像の表示を行うことができ、 ティーチペンダントからすべての設定が可能です。 【特長】 ■視覚機能を制御装置に内蔵 ■ティーチペンダントで簡単操作 ■自動露光機能により耐環境性が4倍に向上 ■ハード性能向上、I/O制御の高速化で計測時間の大幅短縮 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定形態は、基準ゲージブロックとの比較測定を1サイクル自動測定！
演算形ゲージブロック自動検査装置『GBCD-100A』は、呼び寸法0.5mmから 100mmのレクタンギュラゲージブロックおよびスケヤゲージブロックの 寸法を基準ゲージブロックと比較測定により校正する装置です。 上下2本の検出器(デュアルヘッド)による演算方式により薄い寸法の ゲージブロックのそりの影響が出ないようにしています。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様(抜粋)】 ■測定可能なゲージブロックの呼び寸法：0.5mm～100mm ■最小表示量：0.01μm ■精度(信頼率95％) ・±(0.03＋0.3L/1000)μm ・L：ゲージブロックの呼び寸法(mm) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
印加する一次側及び二次側電圧を接続することで試験電流の出⼒値、及び試験時間の計測が行える装置です。
具体的には以下の3つの試験が実現できます。 動作時間試験・感度電流試験・過漏電動作試験（通電切替及び時間計測のみ）
