分析のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分析 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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分析のメーカー・企業ランキング

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  1. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  2. ビーエルテック株式会社 東京都/試験・分析・測定
  3. 株式会社同仁グローカル 熊本県/その他
  4. 4 西進商事株式会社 兵庫県/産業用機械
  5. 5 株式会社IoTBank 東京都/サービス業

分析の製品ランキング

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  1. 【導入事例集進呈】GPSトラッカー『GeoPita(ジオピタ)』 株式会社IoTBank
  2. 脂肪酸分析 <少量サンプルも可能>【分析事例】 株式会社同仁グローカル
  3. ICP-AES/ICP-MS用 認証単元素・混合標準液 湿式分析 西進商事株式会社
  4. 4 連続流れ分析装置(CFA)『MiSSion』 ビーエルテック株式会社
  5. 5 洗剤等粘性液体のpHって測定できるの? 株式会社分析センター 第一技術研究所

分析の製品一覧

796~810 件を表示 / 全 1838 件

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カーボン材料のラマン分析

ラマンスペクトルを測定!カーボン材料の構造や結晶性に関する情報を得る事が可能

カーボン材料はグラファイト、活性炭、カーボンファイバーなど様々な ものがあり、リチウムイオン電池の負極活物質や、導電性プラスチック用 添加剤、インク、CFRPなどの用途で幅広く使用されています。 当社では、ラマン分析によりカーボン材料の構造の違いを評価。 CB、活性炭ではグラファイトに比べGバンドのピークがブロードになり、 半値幅が大きくなりました。 これは、結晶子サイズが異なる事を示しており、グラファイトはCB、活性炭 より結晶子サイズが大きい事が分かります。 【カーボン材料によるラマンスペクトルの違い】 ■グラファイトは1580cm-1付近のGバンドが強くシャープに検出 ■グラファイトの単位格子である六員環構造の崩れや、積層状態の  網面がより無秩序に重なりあっている事を示す ■CB・活性炭では、グラファイトに比べGバンドのピークが  ブロードになっており、半値幅が大きい ■グラファイトはCB、活性炭より結晶子サイズが大きい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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有機溶剤中の不純物分析

温度、湿度、光の影響でアルドール反応が進行!エタノール・アセトン中の不純物分析例

高純度品の溶媒を不適切な環境下にて保管した場合に、溶媒から確認された 不純物を液打ちGC-MSにて分析した例をご紹介します。 冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みのプラスチック 製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置。結果、ホウ酸トリエチル及び アルキルベンゼン類などの不純物が検出されました。 また、冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているアセトンを、遮光性の無い透明な ガラス瓶に入れ室温環境下で約一か月放置した結果、ジアセトンアルコールが 不純物として検出されました。 【エタノール中の不純物分析】 ■冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みの  プラスチック製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置  (洗瓶の口は開いている為密閉はされていない) ■結果:ホウ酸トリエチル及びアルキルベンゼン類などの不純物が検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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液晶中の微量金属元素分析

パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です!

信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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SDGsへ貢献 材料/リサイクル原料比較分析

複数の手法で再⽣素材、原料の⽐較分析評価を⾏い、SDGsを視野に入れたモノづくり、研究開発をアシストします

環境に配慮、そして無駄のない開発製造という姿勢が、技術分野に 求められ、世界全体で地球規模の視点で技術貢献する必要があります。 本資料では、廃棄され浮遊するマイクロプラスチックの物質特定と ともに、リサイクル原料の劣化程度を⽐較分析した事例をご紹介し、 使⽤可否判断をアシストします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■マイクロプラスチック物質の特定分析事例 ■未使用ポリプロピレン原料と再生品(ペレット)の分子量分布の比較事例 ■顕微IR分析によるポリエチレンテレフタレート(PET)原料の比較分析事例 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 水質検査

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BCAの断面解析とX線透過観察

BCAの断面解析とX線透過観察

BGA・CSPやCOC微小なバンプや特殊なセンサー、 内蔵部品基板の指定箇所の断面研磨を X線観察により可能にしました。 【特徴】 ○一直線に並んだバンプを均一で水平な研磨に仕上げている顕微鏡の焦点を変えることなく観察が出来ます。 ○BGA等の小さな隙間に樹脂を完全に充填し、汚れ・ダレ・伸びのない断面試料を提供します。 ○X線透過装置は焦点寸法0.25?mによる微細なポイントの設定が可能で、130万画素検出器で動画撮影も出来ます。 ・詳細はお問い合わせ下さい

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ロックイン発熱解析装置『ELITE』

半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能!

『ELITE』は、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する発熱解析が可能な装置です。 最大約20cm角の広角カメラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますので、その経験を基に不良箇所の 特定や、断面解析による原因特定にも対応します。 【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■一般的なマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ガスクロマトグラフ質量分析計 前処理を用いた定性分析、定量分析

材料に併せてカスタマイズ!様々な前処理を併用することで、幅広く分析可能

当社では、試料中の目的成分を薬液で抽出し、その薬液を分析することで 試料中の目的成分の分析(定性・定量)をします。 濃度を変えた既知試料を測定し、その検出強度と濃度から検量線を 作成して、未知試料の濃度測定が可能となります。 オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、 定量分析時の精度が良いです。 【特長】 ■常温粉砕:プラスチック材料の粉砕など ■凍結粉砕:ゴム系材料の粉砕など ■超音波抽出:粉砕後の試料からの抽出 ■遠心分離:~12000rpmまで対応 ■溶剤抽出:水系、有機溶剤系など ■固相抽出:C18系、陽・陰イオン系など ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【特許調査で競合他社に差をつける(基礎編)】セミナー講演資料

こんな課題をお持ちの技術・開発部門の方へ、セミナー講演資料をご提供(無料)

●発明の先行特許を自分で探せるようになりたい ●特許に関する競合他社の動向調査をしたい ●技術・開発部門の特許調査力の向上によって、発明のレベルUPを図りたい 多くの方にご視聴いただいたWebセミナーにて、パナソニックの特許調査支援サービス「PatentSQUARE」を活用し、技術・開発現場における特許調査の効率化を実現する方法をお伝えしました。 ご好評いただいた当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発現場の特許調査を“AI”が変える! ~技術・開発現場における特許調査の効率化を実現する機能のご紹介~ ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。

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  • 技術セミナー

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【AIを活用した“攻める”技術動向調査の3STEP】セミナー資料

先行技術を効率的に探したい、そんな課題をお持ちの技術・開発部門の方へ、セミナー講演資料・実践編をご提供(無料)

●技術者がAIを使って「特許調査」をやってみた ●専門スキル不要で本格的に特許調査する方法とは 多くの方にご視聴いただいたWebセミナーにて、「開発現場で使える実践編」として専門スキルを持たない技術者にもできる、「PatentSQUARE」を活用した具体的な特許調査方法をご紹介しました。 ご好評いただいた当日の講演資料を無料でご提供していますので、この機会にぜひご覧ください。 【セミナータイトル】 技術・開発部門で実践!専門スキル不要で本格的に特許調査する方法とは ~AI を活用した“攻める”技術動向調査 3STEP ご紹介~ 1. AI検索を使った調査の実例、検索条件文を書くコツ 2. 競合会社の技術動向がわかる、マトリクスマップの書き方 3. こうすればカンタン!知財向け調査ツールの使いこなし指南 ▼詳細は、関連リンクより製品ホームページをご覧ください。

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分析訪問セミナー

分析のセミナーを無償にて行います!

お客様のニーズに合わせた技術者訪問の分析セミナーを承っております。 お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。 訪問する技術者の人数・セミナー時間・内容は、ご希望に合わせてカスタマイズが可能です。 お気軽にご相談下さい。

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[SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能 ・半導体のドーパント濃度分布計測に有効 ・半導体の極性(p型/n型)の判定は不可 ・定量評価は不可

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[FIB]集束イオンビーム加工

FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走査させることにより特定領域を削ったり成膜することが可能です

FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常加工サイズ:~20μm程度) ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製(特定箇所の断面出しが可能) ・微細パターン(数μm~数十μm)のデポジション薄膜形成が可能(C・W・Ptの成膜) ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM(Scanning Ion Microscope)像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒(Al、 Cu等)の観察が可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の主成分評価

実験セルを問わず解体し、分析します

GC/MS分析を用いて電解液の有機溶媒成分を評価した事例を紹介します。 リチウムイオン二次電池の電解液を測定した結果、有機溶媒はエチレンカーボネート(EC)、プロピレンカーボネート(PC)を主成分としていることが分かりました。 この他の成分としてジエチルカーボネート(DEC)、硫黄化合物が検出されていましたが、後者については添加剤由来の可能性が考えられます。

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【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

液晶パネルの量産化において、欠陥(異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm~cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。

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【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 1

各成分の毛髪への浸透状態を可視化

日常生活でヘアケア剤を用いていない毛髪であるヒゲを、コンディショナーもしくはトリートメントに浸し、各浸漬条件における成分の浸透状態について調査しました。 コンディショナーに浸漬したヒゲでは、シロキサンが浸漬時間と共に毛皮質まで浸透する一方、高級脂肪酸は抜けている様子が見られました。トリートメントに浸漬したヒゲでは、含窒素有機物は毛皮質には浸透せず毛小皮(キューテクル)周辺にのみ分布している様子が見られました。

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